泰瑞达宣布J750系列半导体测试机台实现第6000台的发货

2019-12-06来源: EEWORLD关键字:泰瑞达  J750  半导体测试机台

2019年12月6日,全球领先的自动化测试解决方案供应商泰瑞达 (NASDAQ:TER) 在美国马萨诸塞州北芮丁市宣布J750系列半导体测试机台实现第6000台的发货。 J750系列提供了涵盖微控制器(MCUs),无线设备和图像传感器的晶圆测试和最终测试解决方案。 Ardentec公司作为拥有最大的J750测试系统装机量的测试厂商之一,迎来了泰瑞达第6000台J750测试系统 。

 

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泰瑞达J750系列提供了世界领先的汽车和消费应用类MCU产品测试解决方案,也是图像传感器测试的全球领导者。低成本产品的集成度不断增长,并已延伸到指纹传感器,MEMS和带有MCU无线功能的物联网(IoT)产品,J750测试系统的可扩展性使其成为这类产品的理想选择。

 

Ardentec公司副主席兼总裁Chi-Ming Chang说到:“J750是MCU市场上公认的解决方案。” ,“J750的‘零占用空间’使我们能够最大程度地利用测试场地来增加容量,而更高的多站点吞吐量可以降低测试成本。对于任何测试环境而言,这都是一个成功的组合,我们很高兴接受此次发货,这对泰瑞达而言是一个重要的里程碑。”

 

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J750系列使用IG-XLTM软件平台进行操作,可快速进行程序开发,并自动扩展以支持多站点测试,从而节省了大量的开发时间和成本。

 

“ 泰瑞达很高兴与Ardentec公司共同成就这一重要里程碑事件。自2004年以来,Ardentec公司借助泰瑞达J750测试系统机台,满足客户不断变化的需求。” 泰瑞达全球销售副总裁Ty Akin指出。凭借种类繁多的仪表, J750可以服务于广阔的市场应用和包括MCU汽车及IoT应用等各种产品。尽管产品复杂度和市场压力不断增加,泰瑞达 IG-XL软件和J750平台协同作业,仍可有效减少测试工程的工作量,帮助我们的客户按计划实现最佳的测试经济性。”

 

泰瑞达J750系列是测试质量的行业标准,有效帮助半导体制造商追求零缺陷目标和多站点吞吐量的目标。J750测试系统的装机量现已超过6000台,已经在50多个OSAT广泛运用,可支持用于晶圆测试和最终测试的整套量产解决方案。


关键字:泰瑞达  J750  半导体测试机台 编辑:muyan 引用地址:http://news.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/ic482266.html 本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。

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