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FormFactor 发表业界首款单次接触12吋晶圆探针卡解决方案

2007-11-09来源: 电子工程世界关键字:高温  制造  预烧  封装

  40,000针脚 Harmony 晶圆级预烧卡降低每颗晶粒的测试成本
 
FormFactor日前发表Harmony全区12吋晶圆针测解决方案的最新成员 –Harmony 晶圆级预烧(Wafer-Level Burn-In;WLBI)探针卡。Harmony WLBI 探针卡不仅能提高作业流量,还能确保半导体组件的质量与可靠度。Harmony WLBI 探针卡奠定一个新的里程碑,不仅一次能接触约4万个测试焊垫,还能在高温(最高达摄氏130度)下测试整片12吋晶圆。这项能力协助IC制造以更低的测试成本,达到可靠性与效能方面的要求。

FormFactor已向多家客户供应Harmony单次接触WLBI探针卡,针对各种尖端DRAM组件进行可靠性测试。运用FormFactor的Harmony WLBI探针卡,得以倍增处理流量,并能协助缩短产品上市时程。

Harmony WLBI 探针卡结合各种先进的电子组件以及新型3D MEMS MicroSpring 接触器,能承受高温的预烧测试,降低清理的次数–并进一步提高探针卡的可用度以及测试组件的生产力。FormFactor专利技术还能增加同时测试晶粒的数量,运用现有的测试设备资源,协助制造商把持续折旧的测试设备,发挥出最高的效益。

Harmony WLBI 是FormFactor确保合格裸晶(known good die)专属探针卡解决方案的一个重要组件,这类组件必须进行测试、确定符合规格后才能进行封装。确保合格裸晶的应用范例包括手机与可携式媒体播放器,这类产品会把多种组件整合至一个系统级封装(SiP)芯片或多芯片封装(MCP)。 

FormFactor公司副总裁暨DRAM产品事业群总经理Ofer Bokobza表示:“消费性产品市场非常注重时间,业者面临极短暂的设计周期。上市时程每延迟一天,制造商就面临数百万美元的损失。FormFactor Harmony WLBI 探针卡解决方案提供最高的处理流量,这项关键特色协助我们顾客缩短产品上市时程。此外,单次接触预烧产品的效率,协助我们的顾客能转移至更可靠的测试系统,进入晶圆级的领域,以进一步确保合格裸晶(KGD)的应用。”

FormFactor 现已开始接受Harmony WLBI 探针卡的订单。

关键字:高温  制造  预烧  封装

编辑: 引用地址:http://news.eeworld.com.cn/newproducts/measure/200711/16744.html
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