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推荐阅读最新更新时间:2023-10-12 21:01
压控电流源电路原理图
压控电流源的设计
压控电流源的负反馈放大部分有1个精密运放构成的同相放大器,引入深度的电流负反馈,从而稳定输出到负载的电流,如图2所示。运放正常工作于同相放大状态时,由运放虚地的原理可知取样电阻上的电压:U2=Uin,因此I2=U2/R2=Uin/R2。因为采用高输入阻抗的放大器,反相输入端的电流近似为零,负载电流IL=I2=Uin/R2。只要扩流电路性能好,输出电流的精度完全取决于取样电阻的精度。
图2 压控电流源电路原理图
[电源管理]
拉幕式数码显示电路原理图
用AT89S51 单片机的P0.0/AD0-P0.7/AD7 端口接数码管的a-h 端,8 位数码管的S1-S8 通过74LS138 译码器的Y0-Y7 来控制选通每个数码管的位选端。AT89S51 单片机的P1.0-P1.2 控制74LS138 的A,B,C 端子。在8 位数码管上从右向左循环显示“12345678”。能够比较平滑地看到拉幕的效果。
1. 把“单片机系统”区域中的P0.0/AD0-P0.7/AD7 用8 芯排线连接到“动态数码显示”区域中的a-h 端口上;
2. 把“三八译码模块”区域中的Y0-Y7 用8 芯排线连接到“动态数码显示”区域中的S1-S8 端口上;
3. 把“单片机
[单片机]
星点控制交流调压方案主电路原理图
图1 给出了星点控制交流调压方案主电路的原理图,图1 中T 为升压变压器,VT1~VT6 构成了标准的三相桥式全控整流电路,L 为平波电抗器,VT7为续流晶闸管。在非故障条件下,当三相全控整流电路中的晶闸管全不导通时,由于在升压变压器T的一次侧绕组中没有电流流过,其一次绕 组上没有电压降,因而二次侧绕组a、b、c 输出电压为零,一旦VT1~VT6 按标准三相桥式全控整流电路要求的顺序VT1、VT2寅VT2、VT3寅VT3、VT4寅VT4、VT5寅VT5、VT6寅VT6、VT1寅VT1、VT2 依次循环触发导通时,随着触发导通角的不同,流过升压变压器一次侧绕组中的电流大小变化,从而使升压变压器二次侧绕组中的电压变化,达到了调节输出
[电源管理]
ZVS、ZCS 同步整流控制电路原理图
ZVS、ZCS同步整流
该种方式诞生于2002年5月,在全桥或半桥电路中,PWM 输出的信号经信号变压器或高速光耦传递至二次侧,再经过RC网络积分后, 经过MOSFET驱动器去驱动同步整流的MOSFET,驱动信号的脉冲宽度几乎不变, 保持各50%的占空比,而当DC/DC系统输出电压稳压,一次脉宽调宽以后,二次侧同步整流MOSFET 即工作于ZVS、ZCS条件之下。因为此时同步整流MOSFET开启时,变压器二次侧绕组电压为零,电流也为零”当二次侧绕组产生电压时,同步整流MOSFET己经导通作好整流准备,开启抿耗为零,整个损耗只有导通损耗。当二次侧绕组的电压回零时,同步整流MOSFET还处在导通状态,而当同步整流MOSFET
[电源管理]
遥控电扇系统红外遥控发射电路原理图
如图所示,该图为红外遥控发射电路图。 在图中,单片机采用 AT89C52,这是遥控电路的主芯片。ATMEL 公司生产的 AT89C52单片机采用高性能的静态80C51设计,并采用先进工艺制造,还带有非易失性的 Flash 程序存储器,它是一种高性能、低功耗的8位 CMOS 微处理芯片,市场应用最多。
[单片机]
可控硅移相触发器KJ006应用电路
KJ006主要适用于交流供电的双向可控硅或反并联可控硅线路的交流相位控制。能由交 流电网直接供电并无需外加同步信号、输出变压器和直流工作电源,并且能直接与 与可控硅控制极直接耦合触发。具有锯齿波线性好、移相范围宽、控制方式简单、有交互保护、输出电流大等优点。是交流调光、调压的理想器件。同样也适用于半控或全控桥式线路的相位控制。也可直流供电使用。电参数如下:电源电压:a.外接直流电压+15V,允许波动±5%(±10%功能正常)。b.自生直流电源电压:+(12~15)V。电源电流:≤l2mA。同步电压:≥l0V(有效值)。同步输人端允许最大同步电流:6mA(有效值)。移相范围:≥l70°(同步电压220V,同步输入电阻51kΩ)。移相
[电源管理]
方波信号发生器的硬件电路原理图
采用MCS51 系列单片机At89S51 作为主控制器,外围电路器件包括数码管驱动、独立式键盘、方波脉冲输出以及发光二极管的显示等。数码管驱动采用2 个四联共阴极数码管显示,由于单片机驱动能力有限,采用74HC244 作为数码管的驱动。在74HC244 的7 段码输出线上串联100 欧姆电阻起限流作用。独立式按键使用上提拉电路与电源连接,在没有键按下时,输出高电平。发光二极管串联500欧姆电阻再接到电源上,当输入为低电平时,发光二极管导通发光。
图 方波信号发生器的硬件电路原理图
[测试测量]