确保了设计师们能够同时解决系统性的和随机性的工艺过程偏差。通过减少对诸如片上差异(on-chip variation)等防护频带(guard-banding)技术的依赖,以及对更高良率单元的选择指导,因此SiliconSmart DFM 能够帮助设计师们大幅度地提高良率。