是德携手NOEIC、CompoundTek，共建PIC自动化测试版图新标准

是德科技（NYSE：KEYS）宣布，该公司即将与国家信息光电子创新中心（NOEIC）和 CompoundTek 展开合作，三方携手建立光子集成电路（PIC）自动化测试的布局设计标准。NOEIC 是一家旨在为信息光电子产业打造世界级研发能力的创新机构；CompoundTek 是提供新兴硅光解决方案（SiPh）的全球晶圆代工服务领先企业；是德科技是一家领先的技术公司，致力于帮助企业、服务提供商和政府客户加速创新，创造一个安全互联的世界。

与分立元件和大体积光通信元件相比，PIC 具有许多优点，比如显著减少占用空间、提高稳定性和降低能耗。PIC 在电信网络解决方案中无处不在，在传感、生物医学、密码学和量子计算等新的应用领域也引起了越来越多的关注。随着 PIC 应用范围的扩大，为确保批量生产的可扩展性，保证产品良率和工艺监控，让 PIC 实现高度标准化和自动化已经成为当务之急。

是德科技、NOEIC 和 CompoundTek 将会联合建立一套全球公认的 PIC 布局标准化方法，以便推广自动化测试、通用组装和封装服务，支持更大规模的批量生产。其目标是进一步方便 PIC 设计人员在设计阶段定义测试协议，以及促进测试设备更好地进行自动化测试，轻松定义测量过程和测试参数。

三方通过强强联合，将会围绕边缘耦合电路共同建立标准化的 PIC 布局惯例和设计规则，包括但不限于芯片方向、I/O 端口位置、DC 焊盘放置，以及为某些限制区域设置基准点和指示等；这些区域对于实现自动测试、组装和封装至关重要。在此过程中，采用和部署业经验证的集成解决方案有助于实现高吞吐量测试，比如在全自动探测台上使用是德科技的光信号分析套件，并结合速度优化的测试执行算法。该方案还支持可测试性设计（DFT）和一步到位的设计（FDR）技术，能够显著降低与测试相关的总体成本。是德科技的光信号分析套件由 PathWave平台和光应用软件解决方案组成。