本文和大家介绍测试阻抗的方法是反射法,适用于经典的低阻抗到中阻抗范围,通过S参数测量端口测试。
现在和大家分享一下操作步骤:
1)先按下[Preset]选择OK先复位。
2)准备需要调试的环境:
a.先确定要调试的频段,选择Start和Stop要调试的频段。
b.设置[Display]选择trace的个数,这里拿调试双工器的TXloadpull举例,建议选择两个。
c.设置[Mearsure]按钮,一个trace选择测试S11,另外一个trace选择测试S22。
d.设置[Format]按钮,都选择测试SMITH场景。
3)开始端口校准,此时候需分辨校准件是有源还是无源,若是无源的校准件分别较准Open、Short、Load;若是有源的校准件,依次选择CAL、ECAL和需要校准的端口后会自动校准。最后校准后要保证在两个端口的位置都固定在开路点
4)开始延长校准。在调试要调试的元器件时需要外接RF线,这时候就需要把同轴线延长校准,否则会使测试数据不准。选择[Cal]中的延长校准,接着选择各个端口确认就可以了。验证校准成功的方法同第三点。
5)此时可以把trace设置为3个,一个测试S11,一个测试S22,另外一个测试S21(这个调成LOGMAG形式测试插损)。
6)若不方便手动更换元器件,还可以通过E5061B自带的阻抗分析功能仿真来确认需要的匹配的结构。选择[Analysis]然后选择相对应的电路,把[Analysis]仿真功能打开,选择需要的电路形式后开始仿真,我们就可以通过调节电路的阻容感值来确认我们要的匹配结构和匹配值。
7)通过在E5061A上使用[Analysis]功能,我们已经大概确认了我们需要的匹配元器件值,此时实际动手焊接之后不出意外应该会和[Analysis]结果相同,再动手微调一下基本会实现我们的需求。
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