泰克信号发生器应用|对CCD传感器使用的AFE进行定时余量测试 -电子工程世界

用途：

确定AFE对输入信号下降沿时间的灵敏度

适用于

为开发数字成像产品的半导体和电子公司开发CCD传感器电路的电子设计工程师。

系统原理图

仪器操作界面

推荐使用AFG31252

使用AFG31252的好处

• 高达160 MHz的脉冲频率，脉冲宽度分辨率10 ps或 5位；

• 可以独立调节脉冲上升沿时间和下降沿时间；

• 波形参数调节可以立即生效，而不需中断测试；

• 凭借已获专利的InstaView™技术，AFG31000系列可以显示DUT上的实际波形；

• 抖动 (RMS)，典型值＜2.5ps。

技巧和提示

• 把发生器的负荷阻抗设置设成与连接电路的阻抗相匹配，以便准确显示幅度；

• 为把AFE的灵敏度隔离到后沿变化，只需调节后沿时间，使前沿时间保持不变。

关键字：泰克信号发生器 CCD传感器 AFE 引用地址：泰克信号发生器应用|对CCD传感器使用的AFE进行定时余量测试

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泰克信号发生器应用|对CCD传感器使用的AFE进行定时余量测试

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