HDJF多功能局放测试仪由测试仪主机、专用局部放电检测软件、复合式TEV传感器、超声波传感器、外置手持式超声波聚能器、高频电流互感器、超高频传感器、耳机以及连接线组成。
多功能局放测试仪
测量程序
使用多功能局放测试仪进行检测时,使用一种传感器进行检测时,选择通道1进行检测,若需使用两种传感器检测时,再使用通道2检测。
注意:检测过程中若需更换传感器检测,需将“输出电压”关闭。
1 TEV测量(主要检测开关柜内部局部放电)
1、复合式TEV传感器连接方式
取BNC-SMA同轴电缆一条,将BNC端连接到主机CH1通道BNC头上,SMA端则连接到复合式TEV传感器标有“RF-OUT”SMA头上。
复合式TEV传感器接线
2、主机设置
打开主机,点击选择CH1,将当前通道选择到通道1上,单击“MENU”菜单键,在菜单栏按F1键将“放电检测”选择为TEV,按F2键设置是否“输出电压”及“单位”。使用复合式TEV传感器进行检测时需要输出电压。
3、开始测量
点击“AUTORANGE”按钮,当按钮显示绿色灯亮时主机开始测量。
单击后主机处于自动触发状态,显示界面通道1则显示为当前复合式TEV传感器检测到的放电信号。
当开关柜局放测试主机检测到的放电信号过大,则显示界面显示的数值变为红色,此时传感器处于饱和状态。
4、背景噪声
开关柜外部的一些源发出的电磁信号也可能在开关柜的外部产生瞬时接地电压,这些源可以是架空线绝缘子、变压器进行套管、强的无线电信号甚至是附近高速公路的车流量。这些也可以在不连接到开关柜的金属体如变电站房门或围栏等金属体上产生瞬时接地电压信号。因此在对开关柜进行检测之前,就应该测量出这些表面上的背景噪声。
测量不属于开关柜组成部分的金属体如金属门、金属围栏等的背景噪声。记下三次连续的有关金属体的分贝值和计数,并取中间幅值的读数作为背景测量的读数。
5、测量注意事项
主机开启后,确保TEV传感器处在离开金属体的自由空间中,否则会影响自检。选择TEV模式。为了进行测量,应该使TEV传感器垂平行与在其上面要进行测量的金属体接触。如果仪器处在连续测量模式,则应该立即显示读数,但是一旦TEV传感器从金属体上拆下后读数就不再在显示屏上继续显示。
如果是在单次测量模式,则一旦按下按钮,在这种模式下,读数会保留显示在显示屏上。如需要确保一致性,可以重复测量几次。
对于开关柜的测量是在每一个面板的每一个部件如电缆盒、电流互感器室、母排室、断路器以及电压互感器等的中心位置进行的。断路器以及其它中高压开关仪器的位置都要记录下来,因为如果这些仪器处于断开的位置,则某些部件就不会带电,因此这些部件上不会测到读数。
记录每一个位置上的第一组读数。但是如果测到的幅值比背景干扰水平高出10dB,本身幅值大于20dB时,应该连续记录三组以上读数。
6、保存
使用多功能局放测试仪进行检测,若想保存当前检测到的放电信号时,需准备一个U盘进行存储图形。
保存图片:单击”SAVE/RECALL”,打卡保存/调出菜单栏,单击“图片”对应的F5按键进行存储,此时的放电信号将被存储到U盘。检测结束后,将U盘插入电脑,可将检测时存储的放电信号波形打开。
7、关闭
当检测完成后,点击“AUTORANGE”按键关闭自动触发,该按键的灯灭即可。当关闭自动触发后,若弹出菜单栏,单击“MENU OFF”关闭菜单栏即可。
上一篇:高压开关机械特性测试仪的工作原理
下一篇:织物透气性能测试仪的应用及特征
- TPA3116D2+M18蓝牙2.0功放
- 用于 LCD 背光的通用 LED 驱动器
- LTM4608AEY 3V 至 5.5Vin、2.5V/8A 输出 DC/DC 稳压器的典型应用电路
- USB-Blaster
- 【训练营】ESP32物联网时钟鞠东阁
- 使用 Analog Devices 的 AD7730 的参考设计
- 使用 Richtek Technology Corporation 的 RT7285A 的参考设计
- NUCLEO-L496ZG-P,STM32 Nucleo-144开发板,带STM32L496ZGT6P MCU,支持Arduino、ST Zio和Morpho
- LTC3350IUHF 25V 至 35V、6.4A 超级电容器充电器的典型应用电路,具有 2A 输入电流限制和 28V、50W 备份模式
- RSO-2405S 5V、200mA输出DC/DC转换器典型应用电路