针对PCIe Gen5 M.2 NVMe SSD的L1.2低功耗测试

发布者:星辰耀眼最新更新时间:2023-03-13 来源: elecfans关键字:PCIe  Gen5  NVMe  SSD  低功耗测试 手机看文章 扫描二维码
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随着两周前Gigabyte AORUS Gen5 10000 SSD在美国Amazon和newegg的发售,以及其它厂家PCIe Gen5 M.2 SSD的发售,针对Gen5 M.2 SSD的测试对于笔记本电脑厂商也早于之前的预期开始了测试。

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针对Gen5 M.2 SSD的测试常用的工具,一般有下面几大类:

PCIe Gen5协议分析仪

这类产品以SeriaTek PCIe Gen5 analyzer为代表。针对M.2 SSD的一个关键指标是保证M.2在进出低功耗L1.2的时候可以稳定地抓取并且解码数据

PCIe Gen5 SSD链路故障注入工具

这类产品以Quarch公司的Gen5 M.2 card control module为代表,串接在M.2 SSD和M.2插槽之间,导入物理层和链路层的各种问题,可以仿真出M.2 SSD在插入市场上各种质量参差不齐的主板的时候是否仍然可以稳定、可靠地工作。

PCIe Gen5 SSD性能和功能测试设备

这类产品以SanBlaze公司的RM5/DT5为代表,已经在过去一年多的时间里获得了全球各大Gen5 M.2 SSD厂商的选择,尤其是在Gen5 低功耗L1.2测试上通过独有的硬件设计解决了低功耗测试测试的难题。我们本篇文章也是重点介绍该功能的实现。

PCIe Gen5 SSD电压拉偏测试

这类产品以Quarch公司的Gen5 M.2 PPM (programmable power module)为代表,测试Gen5 M.2在接入不同的主板的时候,或者主板电压不稳的时候是否可以正常工作。

PCIe Gen5 SSD功耗和边带sideband信号追踪回溯工具

这类产品以Quarch公司的Gen5 M.2 PAM (programmable analysis module)为代表,测试Gen5 M.2 SSD在接入不同的主板,尤其是在L1.2低功耗下面的各种问题的分析非常方便,它可以非常高的分辨率长时间抓取所有的电压、电流和功耗以及sideband例如CLKREQ#, PERST#等,方便工程师进行问题的回溯分析。

PCIe Gen5 SSD测试环境搭建常用盘柜和治具

这类产品以SerialCables公司的Gen5 8槽位测试盘柜,以及各类Gen5 M.2转接卡和延长线为主,例如Gen5 M.2/AIC, M.2/U.2等,重在保证Gen5信号的品质。

PCIe Gen5 SSD高低温测试温箱

这类产品根据使用场景分为研发用和生产用两类。研发用的话,可以采用SerialCable RM5,可以提供0~75度的温度测试范围;对于生产用,一般根据用户的需求进行定制,一般采用通用温箱架构,需要保证Gen5信号的稳定性和设备的经济型。

针对上述的各类产品的介绍,感兴趣的朋友可以到下面的百度网盘下载PCIe Gen5测试工具白皮书8.0(https://pan.baidu.com/s/1FSc8LBTKM3aGr3FZ6nvhrQ?pwd=xcb3)。本文的重点是介绍如何测试PCIe Gen5 M.2 SSD的L1.2低功耗,测试连接图请参考下面的SanBlaze + SerialTek L1.2连接示意图360度VR照片(https://www.720yun.com/t/77vk6mdw7dl )。

L1.2低功耗测试介绍

SANBlaze SBExpress 和Certified by SANBlaze测试方法通过提供创建复杂测试套件、验证规范合规性、数据完整性、电源和reset测试以及 MI 合规性的简单方法,大大简化了 PCIe NVMe 设备的验证。

通过SANBlaze 认证测试套件的 10.5 版本,SANBlaze 推出了一套测试,旨在验证 NVMe 设备在超低功耗子状态 L1.1 和 L1.2 下的运行。

L1.x 子状态测试对旨在用于平板电脑和笔记本电脑等电池供电设备的NVMe SSD的生产商提出了独特但至关重要的挑战。这些设备将极大地受益于新的电源子状态(power sub-state),这些子状态以少量 PCIe 延迟换取尽可能低的功耗。

与 L1.x 子状态的根本区别是使用带外信号来 “唤醒设备”。使用带外信号允许设备通过完全关闭其收发器并仅监控CLKREQ# 带外信号的电平来实现接近零功耗的状态。

主要 PCIe 电源状态(Power States)

可以在以下 PCI‑SIG 文档https://pcisig.com/making‑most‑pcie‑low‑power‑features中找到 PCIe 电源状态的全面概述,特别是L1.1 和 L1.2 子状态由 PCI‑SIG 营销工作组联席主席 Scott Knowlton 撰写,此处引用。

主要的 PCIe 电源状态是:

L0 – 正常运行的链路

L1 – 没有数据传输的链路状态,因此 PCIe 收发器逻辑的关键部分可以关闭

L2 – 与 L3 相同的链路状态,但其中电源尚未(尚未)被移除

L3 – 设备关机时

L0s 一种链路状态,包括数据可以在一个方向上传输,可能在另一个方向上不传输数据,因此链路上的两个设备可以各自独立地空闲其发送端(transmitter)

定义 L1.1 和 L1.2 子状态

随着 PCIe 速度和通道密度的增加,仅仅保持 PCIe 通道处于活动状态就会消耗大功率,根据L1.2 power substate定义,进入低功耗时候将关闭收发器PCIe transceiver PHY链路,然后在需要的时候再重新打开。

为了解决这个难题,PCIe NVMe 定义了带外信号“CLKREQ#”,其最简单的定义是从主机到端点设备的“唤醒”信号,用于重新打开 PHY 并重新开始 PCIe 链路通信。关闭 PHY 可以节省大量电量并允许PCIe endpoint节点在空闲模式下几乎不消耗功率,这对于电池供电的设备如笔记本电脑来说是一个显著的改进。

Scott Knowlton 的论文描述了 L1.x 子状态的好处如下,为了完整性,这里引用上述提及的规范中的文本。

“L1 子状态背后的基本思想是使用 PCIe 收发器内部的高速逻辑以外的东西来唤醒设备。目标是在活动状态下实现接近零的功耗。

这是通过向现有 PCIe 引脚 (CLKREQ#) 添加额外功能以提供非常简单的信号协议来实现的。这允许 PCIe 收发器关闭其高速电路并依靠该信号再次唤醒它们。事实上,这定义了两个新的power substate子状态:L1.1 和 L1.2, 分别提供了它们自己的功率与退出延迟权衡选择。

L1.1 和 L1.2 都允许 PCIe 收发器关闭其 PLL 及其接收器和发射器,而 L1.2 甚至允许关闭common mode keeper circuits。

结果是非常显著的。高效的电路设计和现代硅工艺意味着典型的 PCI Express 4.0 x4 PHY(4 个收发器加上用于四个通道的相关数字逻辑)在 L0 中以全 16GT/s 数据速率运行时消耗的功率在 400‑500mW 范围内。

使用 L1.1,相同 PHY 的功耗降低了大约 20 倍,仅消耗 20‑30mW。接受稍长的 L1.2 退出延迟可使功耗再降低 10倍至仅 2‑3mW。

下图显示了与使用 L1 子状态相比,现有 L1 状态可用的低功耗解决方案。预计多通道链路的节能规模呈线性增长, 并且实施 L1 子状态功能会在 L1 退出延迟增加时降低功耗。实施 L1 子状态是降低使用 PCIe 的移动设计功耗的关键。”

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图 1:L1.x 状态图和子状态定义

控制 CLKREQ#

如上一节所述,NVMe U.2、U.3、EDSFF 和 M.2 连接器上可用的引脚 CLKREQ# 已被修改,以向处于电源状态 L1.1 和L1 的M.2 SSD固态盘提供“唤醒”信号.2 如图1所示。

为了验证 L1、L1.1 和 L1.2 低功耗子状态的正确操作,用户必须能够监视和控制 CLKREQ# 信号。这可以使用 SANBlaze PCIe Gen5 NVMe 测试系统来实现(V10.5 软件版本)。

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图 2:上游端口启动退出的 L1.1 波形

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图 3:下游端口启动退出的 L1.1 波形

CLKREQ# 信号

CLKREQ# 在被测设备处于 L0(全功率)状态时被Assert拉低,并且可以由 PCIe 链路上的上游或下游设备Assert,以将设备从 L1.1 或 L1.2 恢复到 L0.Active。

CLKREQ# L1.1 L1.2 测试模式

SANBlaze 支持在 SBExpress‑RM5(Rack Mounted PCIe Gen5机架式测试系统) 和SBExpress‑DT5 (Desk Top PCIe Gen5桌面式测试系统)NVMe SSD测试系统上进L1.1 和 L1.2 测试。目前内置脚本可与SANBlaze 硬件一起使用,其操作如下所述。

根据被测设备在 SBExpress‑RM5 系统中的物理位置,测试将以两种模式之一运行。脚本将自动确定系统配置,并根据系统配置和版本运行两种测试模式之一。

两种操作模式各有优势,建议在两种模式中的每一种模式下测试待测的Gen4/5 M.2 SSD,如下所述。

L1.1和L1.2 子状态测试脚本

以下脚本在 SANBlaze V10.5 软件包中可用,可从 SANBlaze 获得。

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所有脚本都是第一个脚本 PM_L1_Substate_Verify.sh 的变体,它使被测设备从 L0.Active 到 L1.Idle,再到 L1.1 和 L1.2。在每个级别,脚本通过检查 PCIe 总线链路状态和 CLKREQ# 信号的当前状态来测试被测设备的预期电源状态转换。

变化如下:

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CLKREQ#模式定义

目前定义了两种测试模式将脚本运行在SANBlaze SBExpress‑RM5 硬件系统上,所有 SBExpress‑RM5 系统的所有插槽都能够运行模式 1。

模式 1 ‑ SANBlaze“riser”控制 CLKREQ#

模式 2 ‑ CLKREQ# 信号由上游 PCIe 设备控制

模式 2 测试需要自定义固件,该固件image可现场升级并可由SANBlaze 根据需求提供。

进模式 1 CLKREQ# 测试

在第一种操作模式下,SANBlaze 脚本通过手动控制 CLKREQ# 来控制进入和退出 L1.x 子状态。这种操作模式将验证子状态,并将以下述方式在 SBExpress‑RM5 测试系统的所有 16 个插槽中操作。

选择“测试管器”测试

低功耗子状态测试脚本需要手动选择,它们也将包含在Certified by SANBlaze 测试报告中。

首先,从SanBlaze WebGUI左侧菜单中选择 SBExpress 管理器页面:

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然后选择页面底部附近的“ShowTestManager”按钮:

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然后选择右边的“PM_L1_Substate_Verify.sh”脚本:

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此时,可以选择将测试分配给所有设备,设置“通过时间”或“通过次数”。通过时间将用作每个子状态转换之间的停留时间,并且 脚本将在最终测试“通过”之前运行的通过次数。

为简单起见,我们将传递计数保留为 1,并让脚本设置停留时间。

选择“添加测试”按钮。测试将添加到所选设备。

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你的系统现在将准备在所选设备上运行低功耗子状态测试,并且页面的上部应将测试显示为“空闲”,如下所示:

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选择“开始”将运行测试,将被测设备置于 L0.Active 状态,然后进入上述每个 L1.x 子状态。

监控 NVMe 边带信号

为了演示模式 1 测试,我们正在使用 SerialTek Kodiak Gen5 PCIe/NMVe 协议分析仪监控链路统计数据和边带信号 PERST0#、CLKREQ#、PRSNT# 和 DUALPORTEN#。

正如trace所见,当被测设备De-assert CLKREQ# 并关闭 PCIe “Phys”时,你将看到系统移至“Training”。这是模式 1 测试的预期行为。

当系统Assert CLKREQ# 时,被测设备将重新训练并在 PCIe 上变为活动状态。

该脚本将监控 CLKREQ# 和 PCIe 链路的状态,并测试每个转换的预期行为。

测试结束时,设备将获得“通过、失败或警告”状态。例如,如果设备不支持它声称支持的低功耗状态,则可以使用警告。

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图 4:SerialTek Kodiak PCIe Gen5协议分析仪结果

设置功能 NVMe 支持

在测试过程中,“GetFeatures”和“SetFeatures”命令的执行方式如下。

首先发出“GetFeatures”命令,并从设备读取支持的电源状态数 (NPSS - Number of Power States Supported) 值。

使用 SetFeatures 将生成的 NPSS 值发送到设备,以启用尽可能低的功耗状态。一旦以这种方式选择了最低功耗状态,设备就有望成功进入和退出每个低功耗状态。

模式 1 测试结果

在模式 1 CLKREQ# 测试中,M.2 SSD固态盘应正确响应 GetFeatures 请求,并接受 SetFeatures 命令以选择最低功耗状态。预计该M.2 SSD固态盘将按以下方式运行;否则,M.2 SSD固态盘将无法通过测试。

1. M.2 SSD固态盘以全功率模式 L0.Active 启动

2. M.2 SSD固态盘响应 GetFeatures 命令

3. M.2 SSD固态盘接受 SetFeatures 命令以选择最低功率状态

4. 脚本使用 ASPMControl 指示M.2 SSD固态盘进入 L1.0 状态

5. 脚本使用L1PMControl 启用 L1.1 状态

6. 脚本检查M.2 SSD固态盘是否置低 CLKREQ#

7. 脚本检查 PCIe 链路是否移动到“轮询”

8. 脚本Assert CLKREQ# 并验证M.2 SSD固态盘返回到 L0.Active 状态 9. 对 L1.2 状态重复步骤 4 ‑ 8

10. M.2 SSD固态盘返回到 L0.Active 并且默认值恢复到 SetFeatures

进行模式 2 CLKREQ# 测试

在第二种操作模式下,SANBlaze riser 允许被测设备的 PCIe 上游控制 CLKREQ#。按照上述模式 1 测试的步骤进行测试。

该脚本将确定模式 2 测试是否在指定的插槽上可用,然后并将自动执行模式 2 测试。

模式 2 测试要求

要运行模式 2 测试(主机控制 CLKREQ#),SBExpress‑RM5 系统必须配置如下:

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如果模式 2 不可用,该脚本将审核系统并运行模式 1。

Mode2 CLKREQ# 测试的执行

在模式 2 CLKREQ# 测试中,M.2 SSD固态盘应正确响应 GetFeatures 请求,并接受 SetFeatures 命令以选择最低功率状态。预计该M.2 SSD固态盘将按以下方式运行;否则,M.2 SSD固态盘将无法通过测试。

1. M.2 SSD固态盘以全功率模式 L0.Active 启动

2. M.2 SSD固态盘响应GetFeatures 命令

3. M.2 SSD固态盘接受 SetFeatures 命令以选择最低功率状态

4. 脚本使用 ASPMControl 指示M.2 SSD固态盘进入 L1.0 状态

5. 脚本启用 L1。1 state using L1PMControl

6. 脚本检查M.2 SSD固态盘和主机是否都De-assert CLKREQ#

7. 脚本检查 PCIe 链路是否移动到“L1.Idle”

8. 脚本向M.2 SSD固态盘发出 IO 并验证主机Assert CLKREQ#

9. 脚本期望 IO 成功

10. 为 L1.2 状态重复步骤 4 ‑ 8

11. M.2 SSD固态盘返回到 L0.Active,默认值为恢复到 SetFeatures

SerialTek Kodiak PCIe Gen5协议分析仪抓取的trace将显示处于 L1.Idle 的M.2 SSD固态盘,并验证主机是否正在Assert CLKREQ# 以响应 IO 请求,如下所示。

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图 5:Kodiak PCIe 分析仪跟踪验证主机正在Assert CLKREQ#

解释和发布测试结果

子状态测试的成功完成将显示在 SBExpress 页面上,如下所示:

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选择测试的链接名称,在本例中为 PM_L1_Substate_Verify.sh,将显示测试执行的详细日志。

完成后,系统将生成一份测试报告,可在此处的 SBExpress 页面上找到:

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选择名称,然后“View”将显示测试报告,然后可以导出或打印该报告,其中包含结果摘要或完整的测试日志。

在 CLKREQ# 测试的幕后

使用 SerialTek PCIe Gen5协议分析仪监控测试过程可以让你看到sideband边带和PCIe数据路径信号上实际发生的情况,但运行子状态测试不需要分析仪。

从 CLI 启动子状态

除了提供的脚本之外,还可以从 SANBlaze 系统命令行界面 (CLI) 初始化和观察子状态转换。

使用 sb_sdb 检查链路状态

sb_sdb 是一种通过串行总线与 PCIe 交换机通信的工具。它可用于查询交换机的链路状态。例如,位于 ‑d 0(测试设备左侧的第一个插槽)的设备的当前链路状态为 L0.Active:

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在本例中,我们将使用 sb_sdb 来监控链接状态,通过电源子状态对M.2 SSD固态盘进行分分步测试。

使用 SetFeatures 启用最低功耗状态

首先使用 Getfeature 和 Setfeature 功能启用设备可以支持的最低功耗状态。目标编号为 100 + 插槽编号,因此插槽 0 中的M.2 SSD固态盘为 100。

使用插槽 0 的M.2 SSD固态盘作为示例 = Target 100 = /iport0/target100

接下来,找到支持的电源状态数并启用最低电源状态。下面的命令将返回支持的电源状态数:

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就电源特性而言,最高功率状态首先出现,因此使用上面命令中的数字将启用最低功率状态。使用 NPSS 编号使用上面的 4 为 ‑d 数据发送“SetFeatures”命令,如下所示:

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现在已经使用 SetFeatures 告诉M.2 SSD固态盘希望它进入的最低功率状态。它仍将处于 L0.Active 中,如下所示:

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关闭系统看门狗(system watchdog)

SBExpress 系统有一个“看门狗”,除非禁用,否则每秒轮询一次。此看门狗将使M.2 SSD固态盘保持活动状态,因此为了测试目的,将其关闭。

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关闭M.2 SSD固态盘的 SMBus

SBExpress 系统会从 M.2 M.2 SSD固态盘的“转接卡”适配器上的 SMBus 读取数据。SMBus 活动将使M.2 SSD固态盘保持活动状态,因此也将其关闭。

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使用 ASPM 启用低功耗状态

发送此 ASPM 命令以启用 L1.0

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你将在 L1.Idle 中看到M.2 SSD固态盘(此时为 L1.0)

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这样你可以看到SSD不在 L1.x 中,因为 clkreq_l 仍然显示asserted:

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启用 L1.1 或 L1.2

现在使用此命令启用 L1 子状态(8 = L1.1,4 = L1.2)

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在这一点上,M.2 SSD固态盘将移动到 L1.2 子状态,并将De-assert CLKREQ#,如下面的 SerialTek Kodiak PCIe Gen5 Analyzer 边带跟踪所示:

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图 6:M.2 SSD固态盘置低 CLKREQ#,如 Kodiak 分析仪跟踪所示

你还可以使用以下命令验证 CLKREQ# 现在是否已禁用:

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如上所示,CLKREQ# 现在无效 (0x01)。

启动M.2 SSD固态盘的 IO,或Assert CLKREQ# 将使M.2 SSD固态盘重新联机,例如通过重新启动看门狗:

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图 7:启动M.2 SSD固态盘 IO 或Assert CLKREQ# 使M.2 SSD固态盘重新联机

被测设备的行为会有所不同,具体取决于主机或 SBExpress 系统是否控制 CLKREQ#;相对于上游端口,M.2 SSD固态盘将保持在 L1,或者将根据插槽号 (0 ‑ 7) 或 (8 ‑ 15)转到Polling状态。

你可以通过清除上述设置手动将M.2 SSD固态盘恢复到全功率状态:

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图 8:清除设置以手动将M.2 SSD固态盘恢复到全功率状态

CLI 命令的附加功能

在测试电源状态时,这些 CLI 程序特别有用:

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下面是一些对电源状态测试有用的示例:

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sb_i2c2 命令示例

Assert PERST到插槽 0 上的设备

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De-assert PERST

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关闭插槽 0 上的设备

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启用电源

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读写 CLKREQ_L

请记住,可能有多个M.2 SSD盘驱动 CLKREQ_L,并且因为该信号是串接到一起的,或任何Assert它的M.2 SSD固态盘都会保持它Assert,而不管其他设备。SANBlaze 脚本首先使用以下命令在所选 Riser 和 Adapter 上De-assert CLKREQ:

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当进入 L1 子状态时,被测设备将置低 CLKREQ#

在模式 2 ‑ 主机M.2 SSD固态盘 CLKREQ# 中,当主机向M.2 SSD固态盘发出 I/O 时,主机将自动Assert CLKREQ。

在模式 1 中 ‑ SANBlaze 转接卡或适配器驱动 CLKREQ# 以将M.2 SSD固态盘恢复到 L0.Active 状态。

结论

SANBlaze 提供了一种测试低功耗状态 L1.1 和 L1.2 的简单方法,并提供了自动化脚本来验证支持 L1 子状态的 NVMe M.2 SSD固态盘上的电源状态。

SanBlaze提供的两种方法来验证被测设备是否达到所需状态。

q模式 1:SANBlaze riser 通过 SANBlaze 脚本或客户脚本控制CLKREQ# 转换。

q模式 2:基于主机的 CLKREQ# 控制将根据对设备的数据访问自动Assert/De-assert CLKREQ#。

自动化测试可以添加到现有的测试套件中,并包含在被测设备的最终报告中。

可以使用带有 Gen5 M.2 interposer的 SerialTek PCIe Gen5协议分析仪进行测试,以实时监控 CLKREQ# 信号和链路状态,或者可以从系统 CLI 读取这些状态。


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[网络通信]
MediaTek发布Filogic 130无线连接芯片
豪威科技推世界首个0.7μm、6400万像素图像传感器
豪威科技(OmniVision,简称OV),今日宣布推出其最新图像传感器OV64B。 豪威表示,OV64B是业界仅有的0.7μm小像素的6400万像素图像传感器,并且是首次以 1/2 光学尺寸实现了6400万像素分辨率。OV64B基于豪威的PureCel Plus堆叠芯片技术,提供领先的静止图像捕获和卓越的4K视频录制,且具有电子图像稳定功能(EIS),以及30 fps的8K视频录制。 豪威市场经理Arun Jayaseelan表示,OV64B是业界尺寸最小的64MP传感器,将进一步推动高端智能手机浅薄设计的趋势。 OV64B支持最高1600 万像素视频模式下的3重曝光交错式HDR ,集成四合一彩色滤光片阵列和片上硬件像素重组算法
[手机便携]
2B-3E恒温晶振对TD-SCDMA时钟性能影响分析
TD-SCDMA系统时钟指标   TD-SCDMA基站的时间同步需求描述见技术规范3GPP TR 25.836,要求提供NodeB的物理层(码、帧、时隙)同步,保证所有NodeB同时发送同时接收,相位精度为 1.5μs;如果时间同步超过3μS将出现小区同步失败,导致业务中断。   影响时钟保持指标关键器件——晶振的重要指标   保持模式下的漂移= 晶振的日老化+晶振日波动+晶振温度漂移+电源特性漂移   其中晶振日波动漂移是由于环境温度在24小时存在大约±2度的变化导致晶振温度补偿超前或滞后带来的频率变化,主要取决于晶振的温度特性。   另外晶振供电电源如果采取波动较小的LDO供电,且电源特性漂移相比日老化及温
[电源管理]
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