推荐阅读最新更新时间:2024-11-06 11:55
Keil arm 编译 RO RW ZI DATA
ARM程序(指在ARM系统中正在执行的程序,而非保存在ROM中的bin文件)的组成 一个ARM程序包含3部分:RO段,RW段和ZI段 RO是程序中的指令和常量 RW是程序中的已初始化变量 ZI是程序中的未初始化的变量 由以上3点说明可以理解为: RO就是readonly, RW就是read/write, ZI就是zero ARM映像文件的组成 所谓ARM映像文件就是指烧录到ROM中的bin文件,也成为image文件。以下用Image文件来称呼它。 Image文件包含了RO和RW数据。 之所以Image文件不包含ZI数据,是因为ZI数据都是0,没必要包含,只要程序运行之前将ZI数据所在的区域一律清零即可。包含进
[单片机]
STC单片机ISP下载时出现握手失败的解决办法
今天遇到了一个很郁闷的问题,就是在向单片机下载HEX文件时候,虽然能检测到单片机的信息,如主频等信息,但是下载时候老师出现握手失败的提示。 查了很多资料,但是还是没能解决这个问题。因为本人使用的是笔记本电脑,所以只能用USB转串口线,以前我也是用这跟串口转换线都没有出现这个问题,因此我开始怀疑是软件的问题了,但是我装了又卸,卸了又装,试了N个版本但还是出现这样的问题,真的是要崩溃了。 这使得我开始怀疑不是软件的问题,在网上看到说把最高下载波特率减低一些,我将最低波特率降低到了57600,最低波特率为2400,可是还是有这样的问题,想了很久还是不得其解,正当要放弃的时候,我试着将最高最低波特率都改成了1200这个最低波特率,居然可以
[单片机]
电阻测试仪的使用注意事项与解决办法
一、注意事项 1、直流电阻测试仪可室内室外使用,但应避免阳光直射、雨淋、腐蚀气体、尘埃过浓等场所使用; 2、使用前,仪器的接地端子必须良好接地; 3、测试过程中如遇到突然断电,请不要立即拆除测试线,待仪器放电完毕后方可拆除; 4、在测试过程中,禁止移动测试夹和供电线路。 5、测量无载调压变压器,某一分接测试完成后,需按取消或复位键使系统放电,一定要等放电指示停止后,切换档位,进行下一次测量。 6、测量有载调压变压器,可一次供电完成,仪器程序设计允许在某一分接测完后,把分接开关导至下一分接,仪器将进入下一分接的测量 7、测试完毕后需先关闭电源,再拆除测试线; 二、常见故障解决方法 故障一、开机无显示 1)电源插座保险管损坏 2)
[测试测量]
UMPC和MID的电源系统设计挑战及解决办法
UMPC (超便携移动个人电脑)和MID(移动互联网终端)是近年来最具成长潜力的便携式电子产品。作为一种硬件设计小巧轻便的设备,通过UMPC,用户可以享受移动互联网的诸多优势,还可以在移动过程中访问多种办公应用软件以提高工作效率。而MID与UMPC类似,同样为便于携带的移动PC产品,便于用户随时享受影音娱乐、进行邮件收发等操作。 更小的尺寸、更多的功能、更高的集成度以及移动特性使得UMPC和MID产品对 电源系统 的性能、功耗、保护及IC尺寸等方面都提出了全新的要求。UMPC和MID产品需要向处理器、存储器、显示器和其它部分提供不同的工作电压,以减少处理器消耗的电量,延长电池的运行时间,并提高电池的
[电源管理]
stm32 串口通讯不成功的解决办法
首先要注意所用到的USART是否用到了复用功能 千万别忘了打开复用时钟!!!!!!!!! 代码如下:Hello! everyone,welcome to class! #include void delay_ms(u16 x) { u8 t; while(x--){for(t=0;t 120;t++);} } void GPIO_Configuration(void) { GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure; RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_GPIOC | RCC_APB2Periph_AFIO, ENABLE); GPIO_InitS
[单片机]
MSP432P401R I2C读取MPU6050的数值为0xff但是 ACK 是正常的解决办法
前言 最近做电赛申请到了MSP432P401R板子,队友让我开发开发陀螺仪,期间遇到了MSP432P401R读取MPU6050的数值为0xff但是 ACK 是正常的的问题,花了几天时间解决了,所以写一篇总结记录一下ouo。 参考:I2C 读取总是 0xFF,但是 ACK 是正常的解决方法 参考:24c16、24cxx系列 原子demo模拟iic读取出现0xff的问题 直接简单的说问题就是MSP432给MPU6050发送读指令0xD1失败了,经过示波器查看SDA和SCL的输出电平才发现了原因——最后拉高SDA的时候还没有完全拉高SCL电平就为低也就导致最后发送的值为0xD0,这是源代码片段: void IIC_Sen
[单片机]
ARM 调试 DAbt_Handler问题解决办法
问题: 我的ARM应用无法工作。当我在软件仿真器或者JTAG调试器中运行时,我注意到程序计数器(PC/R15)跳到了DAbt_Handler标签。问:这意味着什么?我该如何找到我程序崩溃的位置? 回答: 这是默认的Data Abort异常处理(函数)。你的应用尝试读或写某个非法的内存位置。你可以通过把R14(链接寄存器LC)的值减去8的方式计算该非法内存位置。减8可以计算指令队列中产生本异常的指令地址。如: R14的值是0x0000021E 0x0000021E-8=0x00000216。引发本异常的指令就在地址0x00000216处。 使用Unassemble调试命令反汇编该指令。本例中,在Command窗口(菜单:
[单片机]
在开关电源中遇到的问题及相应解决办法集合
项目:IR1150 PFC 现象:高温测试的时候,MOSFET的壳温才80度,就炸机了。先前几台,MOS的壳温到达110度,都安然无事。 解决办法:弄出来查原因,是驱动电阻焊错了,本来10R,结果焊成100R。 分析:驱动电阻太大导致MOS损耗很大,同样的结到壳热阻,大的功耗会导致大的温差。虽然壳温才80度,但实际结温已经超过了MOS的承受范围。 驱动电阻大了,会造成驱动的功率严重不足,而将管子热死了! 如果驱动功率足够大的话,也不会炸机的。 如果PCB走线引起的电感足够大,将与MOS的GS端的电容Cgs谐振,会在驱动信号上线叠加尖峰,严重时会引起炸机,加电阻就是为了衰减这个振荡 项目:L4981 PFC 现象:空载上
[电源管理]