方案精选丨针对电子测试测量的RF和微波解决方案
最新更新时间：2016-04-13
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主要挑战和系统设计考虑
最小化RF测试台的噪底(比如相位噪声)对于保持宽动态范围内的测试信号纯度很重要。但是，更多的数字信号处理任务将增加辐射噪声，因此获得干净的信号是个难题。
另一个重要目标是使RF测试台的带宽达到最大。可在此平台中实现软件定义无线电以方便配置、操作、维护和升级。但是，找到足够好的元件覆盖此宽带宽是个难题。
时间漂移和温度漂移是从电子测试和测量仪器中获得工作范围内精确重复读数的两个关键因素。但是，这两个因素均不易于校准。
为何选择ADI
ADI供应上千款高性能RF IC产品，包括各种RF功能模块以及用于电子测试与测量系统的高度集成式解决方案。
众多设计资源为RF系统的开发提供了极大方便，包括免费设计工具、FMC快速原型开发平台、Circuits from the Lab®参考设计和EngineerZone®中文技术论坛。
50多年来，ADI对性能、可靠性和可持续性的不懈追求使其成为首选供应商。
相关信号链
下图是传统的频谱/信号分析仪信号链。ADI提供针对信号分析和频率合成的各种解决方案，包括用来产生LO和测试信号的DDS解决方案和锁相环，以及低噪声放大器和增益模块、混频器、可变增益放大器和视频/RF放大器，组成完整的发送和接收信号链；另外还有高精度、高分辨率的14/16位高速ADC。对于低成本解决方案和内部电平校准，ADI提供宽带RF检波器和双通道RF功率检波器，可测量增益和相位。
ADI提供针对频率合成的多种解决方案，包括全数字DDS解决方案、针对RF应用的锁相环、在基带/IF/RF频率下支持直接多载波信号频率合成的高速DAC，以及混频器、调制器、可变增益放大器和视频及RF放大器，组成完整的信号链。
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