【5月16日|厦门】泰克科技亚太专家大讲堂—厦门站

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半导体技术的革新源自新材料和新型器件的研发和应用。4200A,全新的半导体参数分析仪，涵盖了传统分立器件基本特性分析，晶圆测试及参数分析，可靠性测试（WLR）等需求，同时广泛应用于新型纳米材料，光电材料，功率材料，电化学材料等的特性研发；也参与到新型器件如非易失性存储器NVM 的RRAM， FeRAM， STT-MRAM，3D Flash 等器件研发和量产测试；新型光电器件如VCSEL，High Power LED，AMOLED，LD，Front Panel Display等器件研发和量产测试；以及新型的半导体器件如 FinFET, Mems, IGBT等器件研发和量产测试中。随着GaN，SiC等新一代半导体材料的兴起，Keithley品牌应对新型功率半导体器件特性分析和量产需求推出了PCT-功率半导体器件的特性分析系统，并将S540 超高压全自动测试系统推入市场，填补功率器件量产测试的行业空白。

从产品到应用，从应用到方案。这个讲座挑选了常见而经典的测试应用案例及解决方案。例如超高阻测试，超低阻测试，半导体霍尔效应测试，光电材料测试，分立器件I-V特性测试，电化学材料测试等完整方案。同时针对教学科研用户，提供完整微电子实验室教学方案。
Keithley品牌拥有的广泛产品线，如数字源表，万用表，电源，负载，信号发生器，开关，小信号产品等等，能够客制化集成为灵活多样的测试方案；并随着仪表的新产品新特性的不断推出，解决新器件新产品的尖端测试需求。

本主题讨论三部分内容，一是芯片和系统中高速串并行总线及接口的原理，设计和测试的挑战，包括发送端信号的完整性，时序，链路的衰减，预加重，接收端的均衡补偿，时钟恢复和抖动容限;二是FPGA芯片逻辑时序的设计分析，模拟信号和数字信号的联合调试，通用或者自定义协议的解码和分析。AD/DA芯片的输入输出功能和性能验证;三是目前最新的一些高速标准和应用的更新，包括USB3.1/DP/HDMI Type C,PCIe等。以及通信系统中最新的PAM4信号的产生和分析方法。

无线技术的发展使得无线系统应用越来越广泛，从大的无线系统如最新的物联网，到很小的射频技术应用如汽车无线遥控钥匙（PKE），都体现出无线技术的新的应用。传统的无线信号测试仪器在应对这些新的应用显得不足，泰克全新的RSA实时信号分析仪系列能够全面覆盖这些新的技术测试需求。高性能的指标、DPX实时频谱、创新的架构、竞争力的价格、多标准的支持，这些鲜明的特点满足了工程师的射频信号测量和分析要求。
而无线通信或系统又离不开各种射频器件，如滤波器、放大器、混频器、功分器、天线及电缆、适配器等，表征这些器件的参数需要用到矢量网络分析仪VNA，泰克推出了最新的高性价比VNA产品，无论是基础研发或者生产，以及教学实验，泰克VNA产品都是最佳的选择。

电源行业一个即传统又现代的行业，研发工程师不得不应对新技术的快速发展，新标准的严苛考验。近几年六级能效标准的推行，零功耗的要求，电源厂家为了在行业中取得主动权，从低功耗芯片选用到电源整体设计优化投入了大量的精力。如何来对设计中电路问题准确定位，捕获，分析，如何对电源方案进行整体的准确评价，甚至满足电源标准的一致性分析，泰克助您应对电源的现在及未来的挑战！