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对话技术“大牛”,电子产业走向何方?

最新更新时间:2021-09-08 18:03
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在刚刚结束的MWC2019展会上,如果说哪一个话题最受关注,毫无疑问就是5G。随着商用进程的深化,5G将推动物联网、云计算、大视频、大数据及AI等关联领域裂变式发展。对于从业人员而言,5G已经成为“必修课”!

 

2019年4月1日至3日,电子设计创新大会(EDI CON CHINA)将在北京国家会议中心(CNCC)举办。为期3天的会议,涵括5G/先进通信、电源完整性、仿真与建模、测试与测量、毫米波、放大器设计、低功耗/物联网、前端设计、射频/微波设计和信号完整性等主题。


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其中,第一天会议以5G为主题,SteveSandler,世界领先的电源完整性专家、Picotest创始人兼CTO;Kailash Narayanan,是德科技全球副总裁;Alexander Pabst,罗德与施瓦茨副总裁等多外重量级嘉宾也将出席本次会议。


行业大牛现场分享

Steve Sandler, Founder and CTO,Picotest

演讲主题:“射频、微波和高速电路中的功率相关因素”

演讲概要:作为工程师,我们的任务是为我们的射频、微波和高速数字电路实现最佳性能。然而,我们经常设计、仿真和测量性能,而不考虑电源对这些电路的影响。考虑电源影响意味着什么呢?本演讲着眼于电源对射频、微波和高速数字系统的多种影响,解释了我最喜欢的仿真、测量和排除这些复杂问题的技术之一。


Kailash Narayanan, Global VP of KeysightWireless Device Organization

演讲主题:“用于网络设备制造、芯片组和设备的5G测试和测量技术”

演讲概要:随着3GPP第15版的发布,无线通信行业已开始大规模生产5G设备、器件并开始初期的部署。本演讲将探讨未来的主要市场趋势和挑战,并概述测试和测量解决方案。


Alexander Pabst, Vice PresidentSystems and Projects, Rohde & Schwarz

演讲主题:“5G新无线电测试和测量挑战以及应对方法”

演讲概要:本演讲将讨论5G NR OTA挑战,并概述辐射测试环境的解决方案,以优化技术的可行性、测试次数/周期和投资/维护需求。将讨论不同的几何形状和外形因素、频率范围和环境条件,以反映3GPP、CTIA、ETSI等相关标准化组织的最新进展。


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系列演讲,深入解读


凭参会代表证,可以参加任何技术报告会、专家论坛和赞助商研习会,以及到展厅参观行业领先参展商的最新创新成果。还可借此机会向行业领袖和学术带头人提问。

 

与会者每天都可在展会现场与其他工程师建立联系、与参展商会面、在FrequencyMatters Theatre听应用讲座、参与抽奖、享用茶点。所有会议都将使用中文或者从英文同声传译为中文。


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EDI CON电子创新大会网站:

http://www.mwjournalchina.com/edicon/

 

点击原文阅读,查看详细的会议议程!

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