ELDIM推出第三代时间测量系统，完整评价LCD时间依赖性

如今，液晶显示屏在很多领域得到广泛应用，为了提高竞争力，必须保证显示屏的光电技术指标。因此，像素点的电子寻址具有非常重要的作用。这一技术近年来得到了很快的发展，不幸的是，测量标准跟不上发展的需求，在特征表示技术上留下了空白。

为了向显示器工业提供一种可靠的方案，法国ELDIM公司日前推出了第三代时间测量系统Imaging OPTIScope。经过多次测试和试验之后，Imaging OPTIScope系统可以提供有效的方案，以准确和完整地评价液晶显示屏的时间依赖性。

Imaging OPTIScope系统的设计目的，是为了符合现有的ISO, VESA, EIAJ等等标准，但在设计中也考虑了系统的发展潜力，以适应用户最新的严格要求。

传感器是一个光倍增管(PMT)，除此之外又增加了一个CMOS传感器，以向用户提供时间信号直接显示的区域。PMT信号是通过内置采集电路板取样采集的。还增加了一个闪光过滤器以进行光学测试。电子噪声得到系统的补偿。角形开度按照标准的要求设为+/-2°。

电子设备包括一个4Mb的内置存储器，用16-bits的模数转换器采样，由此而获得的数字信息可以有选择地再次采样处理。用于液晶显示屏的版本最低采样率定为10ms。还有一个版本的采样率为1ms，用于一些特殊的应用(比如可以用于OLED应用)。系统的同步信号可以通过内置触发器和两个外置触发器来产生。采用USB 2.0接口，可以在采集时间上获得不小的增益。与现有的方案相比，灰-灰反应时间的测试时间缩短到原来所需时间的五分之一。

一段时间以来，制造商使用了一种新的评价时间性能的方法，也就是测试灰-灰反应时间。对于现有的测试设备来说，这在技术上是一个新的挑战。的确，测定两个相邻的灰度水平之间的反应时间，需要传感器有更好的灵敏度和动态性能。Imaging OPTIScope系统能够很容易地满足这些要求，所以很快便成了市场上唯一一种具有这种灵敏度的设备。经过测试，Imaging OPTIScope系统的信号采集动态范围达到了100dB。

随着显示器新的寻址格式的出现，随着极强的高频闪烁(flicker)的出现，标准化的时间反应分析方法成了过时的方法。ELDIM公司与工业界的生产厂家和标准委员会密切合作，开发了数种分析方法。第一步是要减少噪声效应或者闪烁效应，采用低通道滤波器，而低通道滤波器会对原始信号产生干扰。这种干扰可以通过预先的调校来补偿，也就是在闪烁频率上加一个停止带滤波器(filtre stop band)。然后可以通过常规的方式提取反应时间；也可以在滤波信号上直接加一个理论的时间依赖值。这样一来，“过调节”的显示屏(overshootés)特性便不仅可以从反应时间上来确定，也可以从“过调节”的幅度以及时间差上来确定。这种测试方法比现有的方法更加准确，而且可以提供一些补充的信息。

ELDIM的测试软件包括所有以下功能：显示屏控制，采集参数管理，测试区域显示，自动和手动应用自动信号处理代数的选择，显示，打印并输出结果。

ELDIM还提供一个控制显示屏的硬件方案，作为Imaging OPTIScope系统的补充。FPDDrive可以生成与Imaging OPTIScope系统控制软件兼容的DVI, LVDS 或者 TTL格式的信号。

这样一来，用户可以直接拥有一个包括传感器和视标生成器的完整的时间分析方案。从现在开始，生产液晶显示屏的用户或者使用液晶显示屏组装生产其它产品的用户，可以使用Imaging OPTIScope系统，以极快的时间调校显示屏的“过驱动”(Overdrive)，测量灰-灰反应时间及闪烁。为显示工业生产驱动器的厂商可以从“过驱动”功能的优化中大大节省生产时间，并从中受益。