自1991年加盟吉时利公司(Keithley)以来,Mark Cejer领导开发了一系列成功的产品,包括数字万用表、数字源表,并获得了R&D 100 Awards, NorTech Innovation Awards等在内的多个奖项。近日,随着该公司数字源表平台的最新版本-2600A的推出,Mark Cejer先生接受了本刊的采访。
吉时利数字源表仪器平台2600A。
他强调说,电子产品对高集成度、低功耗、以及先进CMOS工艺近乎“疯狂”的追求,为测试厂商带来了很大的挑战。这些趋势导致IC器件在其整个寿命周期内更强地依赖于电气特征分析工作。因此,特征分析的速度在很大程度上决定了技术开发和工艺集成的周期时间。
据此,Cejer表示,吉时利此次推出的2600A系列在软硬件测量性能方面都较上一代产品有了较大幅度的提升。“与2600系列不同的是,2600A支持TSP Express软件、LXI-C通信、以及USB接口,这将给用户的使用带来极大便利。”
作为一款免费的嵌入式工具,Cejer认为TSP Express的价值就在于,它能够帮助用户更快地实现从启动到真正捕获数据的过程。以普通的I-V测试为例,用户只需在一系列下拉菜单上选出测试参数,TSP Express就会根据执行该测试的需要快速生成数十行甚至数百行程序代码,从而帮助工程师提高测试速度,并且简化测试过程。
另一方面,由于Class C LXI兼容业界宽以太网标准,能够在Web和测试仪器之间建立快速而高效的连接,因此这也是目前最快、最划算的PC接口方式。此外,2600A还提供了USB存储卡接口,很容易在不同仪器和PC之间共享测试脚本和数据、以及扩展板上存储容量。
双通道2600A系列采用了紧凑的半架式2U外观尺寸,通过采用新的数字测量引擎,该系列在以下几方面的性能得到了提升:1. 测量速度达到20000次读数/秒,能够对较慢仪器无法测量的某些器件性能参数进行特征分析;2. 多通道同步性能提高400倍,实现了小于0.5微秒的通道-通道同步精度,支持更紧的受控测试条件;3. 允许用户利用电气隔离通道将多个通道集成在一起,扩展了I-V量程;4. 高电容模式能够测试电容高达50微法的器件;5. 最高能够同时执行32个测试操作(最高64通道)的并行测试能力,不再需要通过GPIB创建“多主机”;所有的SMU通道能够在系统中任意数量的通道上同步或异步执行相同或不同的测试;6. 低宽频带源噪声,目前所有模式都<20mV峰-峰值,以保护灵敏器件。
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