PNA-X分析仪选件提供精确50GHz噪声系数测量

　　安捷伦科技公司日前推出适用于 PNA-X 系列微波网络分析仪的选件028。这款新选件可对高达 50 GHz 的放大器、变频器和混频器进行高精度的信号源校正噪声系数测量。

　　配备选件 028 的 PNA-X是业界唯一能够校正由非理想系统源匹配引起误差的网络分析仪。它使用矢量误差校正来消除失配误差，并通过由阻抗调谐器构成的ECal模块来消除由噪声参数引起的误差。如此先进的校准方法使 PNA-X 能够提供业界最高的噪声系数测量精度，这在晶圆上、夹具内和自动测试环境中效果尤为突出。

　　测量精度对于设计和测试放大器、转换器，特别是低噪声放大器的工程师来说尤为重要。在研发过程中，高测量精度可以更好地优化发射/接收系统以及实现电路仿真和测量之间的关联；在制造过程中，高测量精度意味着只需较小的保护频带即可实现更佳的元器件技术指标，从而生产出更具竞争力的产品。

　　安捷伦选件 028 采用 PNA-X 的标准 S 参数接收机和安捷伦独有的信号源校正技术，可执行高达 50 GHz 的噪声系数测量。若测量 30 dB 以下极低噪声的器件，则需要使用外部前置放大器和滤波器。若进行高达 26.5 GHz 的噪声系数测量，则需要使用额外的选件（选件 H29），以便为 50 GHz PNA-X 提供内部低噪声接收机。选件 H29 省去了使用外部前置放大器和滤波器的麻烦，同时使设置如同 S 参数测量一样轻松。

　　安捷伦副总裁兼元器件测试事业部总经理 Gregg Peters 表示：“新选件 028 的推出，让安捷伦广泛的噪声系数测量解决方案进一步扩大，以优异的性价比满足客户的预算和测量需求。”“选件 028 具有出色的精度，而 PNA-X 能够通过单次连接进行多次测量，这些优点将帮助工程师提高测试吞吐量并减少所使用仪器的数量，有助于构建更简便、更经济高效的测试系统。”

　　PNA-X 提供业界最广泛的测量应用软件，可测量从射频至毫米波的各种信号，工程师只需在它与被测件之间进行一次连接，便可灵活地进行各种测量，例如 S 参数、增益压缩、互调失真和噪声系数测量。通常，完成上述测量任务需要使用多种测试仪器，包括频谱分析仪、两个或三个信号发生器、配备下变频器的噪声系数分析仪以及矢量网络分析仪。现在，PNA-X 进行噪声系数测量的速度通常比普通噪声系数分析仪快 4 至 10 倍。与由多种仪器构成的传统系统相比，PNA-X 除了能够执行更广泛的测量，还将总体测量吞吐量提高了 100 倍。