NI发布面向USB的X系列多功能DAQ

      美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）近日发布面向USB的X系列多功能数据采集（DAQ）设备。USB X系列设备将高性能模拟测量和控制通道，数字I/O和计数/定时器集成到一个即插即用的设备，工程师和科学家可以将这一设备用于多种便携式测试、测量和数据记录应用。USB X系列DAQ设备包括了多达32个模拟输入、4个模拟输出、48个数字I/O线和4个计数器。这八款全新设备速率从500kS/s多路模拟输入（AI）到每通道2 MS/s同步采样AI不等。

      NI LabVIEW图形化编程以直观的图形化图标和线，通过流程图的方式，帮助工程师和科学家轻松开发用于USB X系列的完全自定义测试和测量应用。LabVIEW 2010可结合NI DAQ助手进行全新技术数据流盘实现管理，并可将数据从波形图导出到Microsoft Excel或NI DIAdem用于后期处理，从而简化了数据记录与分析。与其他NI DAQ设备相同，USB X系列设备也使用同样的多线程NI-DAQmx驱动软件，这样就可以利用X系列设备将LabVIEW或基于文字的编码从之前的应用中导出，用于其他地方。

      两个关键技术使USB X系列设备不仅功能强大，而且简单易用：用于高级定时和触发的NI STC3技术和用于高速双向数据流盘的NI信号流技术。

      所有USB、PCI Express和PXI Express X系列设备的核心是NI-STC3定时和同步技术，该技术协调模拟、数字和计数子系统的定时与触发功能。NI-STC3技术为X系列设备提供独立定时引擎，用于板载模拟和数字I/O子系统，使模拟和数字I/O能够以不同的速度独立执行或与同步一起执行。X系列设备的四个增强32-bit计数器可用于频率、脉冲宽度调制（PWM）和编码器操作，以及全新100 MHz时基。该时基可生成模拟和数字采样率，且分辨率5倍优于以往设备。

      USB X系列设备中的NI信号流技术是利用基于信息的传输和设备端智能，提供USB高速双向数据传输，使其能够同时实现模拟、数字和计数操作的专利技术。利用这一技术，两款全新设备可进行同步采样，每款设备的八个模拟输入端口的采样速率可分别达到每个1.25MS/s和2MS/s。这些设备有32或64MS的板载内存，以确保USB高流量时仍可以进行限定的采集。所有通道的高采样率使这些设备非常适用于便携式超声波测试和瞬态记录应用。

      每个USB X系列设备具有一个重新设计的铝制封装。全新封装提供了一个方便的盖子以确保信号配线的安全和防护，盖子上设备特有的引出线标签确保了快速决定与某个通道相对应的螺钉接头。该封装还包括了一个可锁定的USB端口，防止操作中的意外丢失。

      访问NI网站 NI Developer Zone，阅读白皮书《USB X系列概述》。点击此处，观看《NI X 系列多功能DAQ 概述》视频演示。