使用SET2DIL（单端到差分插入损耗）算法来验证印刷电路板（PCB）上高速差分传输线的性能。R&S ZNB高性能矢量网络分析仪提供极高的动态范围和测试精度，极短的扫描时间和简便的操作。同时，R&S ZNB提高了时域测试性能，并结合IPC-TM-650认证的SET2DIL技术，它可以对时域的反射(TDR)和传输(TDT)数据进行处理从而得到PCB线的差分插入损耗。

介质与导体损耗所造成信号衰减与失真是设计与仿真高速差分传输线时最重要的考虑因素。几GHz传输线的插入损耗在建模时必须正确地仿真其实际的性能，并在实际设计时验证仿真假设的正确性。

创新的SET2DIL算法可以使用两端口的时域测量来实现四端口频域测量SDD21。这种方法用单个探头通过测量单端TDR/TDT（两端口矢网）来获取差分插入损耗（SDD21）。使用它结合罗德与施瓦茨公司的R&S ZNB，可以取代当前的两探头四端口的测量方法。四端口的方法更适合实验室环境。而两端口方法能够使SDD21的测量更加简单，而被更多用户所接受，其中也包括了大批量生产的工厂。

罗德与施瓦茨公司将SET2DIL算法集成到ZNB矢网中，使其能提供无可比拟的测量精度和速度，从而满足了大批量的PCB板差损测量的需求。”罗德与施瓦茨矢量网络分析仪产品市场部经理Jonathan Leitner说。

R&S ZNB具备增强因子功能，它可以让低频的分析仪替代高频的分析仪（更昂贵）来实现时域反射(TDR)和时域传输(TDT)的功能。与高频的设备相比，R&S ZNB可以通过一个线性因子在时域变化中实现更宽的频率范围，并保持原有的扫描范围，扫描点数不变，而且没有其他的附加前提。使用更高的分辨率增强因子，测量的数据会通过线性预测的方法对测量数据进行插值。因此，时域上的分辨率得以提高。

R&S ZNB矢量网络分析仪可以覆盖9kHz到4.5GHz或者8GHz，动态范围可达140dB，401个扫描点的扫描时间为4ms，除此之外，他还具有极低的轨迹噪声和出色的测量稳定度。 R&S ZNB主要面向有源和无源射频器件的研发和生产的测试需求。

R&S ZNB矢量网络分析仪还具备超大的触摸显示屏可以使用户轻易地实现仪器的功能，而且每个功能的实现不超过三个操作步骤。屏幕为结果显示预留的很大的空间，即使是复杂的测量也能获得清晰直观的显示效果。