X荧光在线多元素分析仪的原理和特点详解

作为一种比较成熟的成分分析手段，X荧光光谱仪分析在冶金、地质、环境、化工、材料等领域中应用非常广泛。X荧光光谱仪分析的对象主要是块状固体、粉末、液体三种，其中，固体粉末是分析得最多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末，对于形状不规则的块状固体，如各种矿石，由于直接分析技术目前还不成熟，往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有时将液体转变为固体，一些预分离、富集的结果也常是粉末，因此，粉末试样的制样技术是X荧光光谱仪分析中的重要一部分。 X荧光光谱仪分析粉末样品主要有两种方法： ①、熔融法。熔融法是应用较多的一种制样方法，它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点：

一、X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。 1、由样品制备和样品自身引起的误差： （1） 样品的均匀性。 （2） 样品的表面效应。 （3） 粉末样品的粒度和处理方法。 （4） 样品中存在的谱线干扰。 （5） 样品本身的共存元素影响即基体效应。 （6） 样品的性质。

一、BX型波长色散X荧光分析仪简介 BX系列波长色散X荧光分析仪是北京邦鑫伟业技术开发有限公司在国家“九·五”攻关项目的基础上，总结我国多年来研制X荧光分析仪的经验和教训，并吸收国际先进技术基础上，深入进行产业化研发形成的高科技产品，各项技术性能指标均已达到国际同类产品先进水平。 X射线荧光光谱分析技术作为常规分析手段，开始于20世纪50年代；经历了50多年的发展，现在已经成为物质组成分析的必备方法之一。随着分析方法和相关技术（特别是计算机技术和电子技术）的不断发展和进步，目前X射线荧光光谱分析不仅成为地质、冶金、石油化工、半导体工业和医药卫生等领域的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快