光电测试原理和基本知识（一）

有源的光电器件是一个基本的半导体 结，为了更全面的测试，不仅要求对其做 正向的I-V特性测试，也要求监测反向的 I-V特性。传统的激光二极管电流驱动在实验室级别是合适的，但是对于开发半导体器件完整的测试方案并不合适。而2400系列数字源表将源输出与测量的能力集成在一起，非常适用于半导体器件的特性分析。

对于一个有源光电器件完整的特性分析需要正向和反向的电压和电流源。例如，反向击穿测试需要输出一个非常小的、精密的反向电流(10nA)的同时测量电压。

有限的电流避免了对器件造成永久的破坏，同时可以进行精密的击穿电压的测试。已知击穿电压之后，就可以对器件加一个安全的反向偏置，同时测试该器件的漏流。器件的漏电流指标对于器件的进一步分析将会很有帮助。

四象限的源输出能力

数字源表系列集成了完整的四象限精密源(图3)和测量能力。源和测量的能力从低到1μA或2 0 0 m V的量程到高到5A或1000V的量程。这种广泛的动态量程使得测试众多的器件成为可能，例如AlGaAs激光二极管，Si材料的光电管。

接触检查功能
2400数字源表系列都有具备接触检查功能的选项，这一功能使得在对器件激励信号或者测试前自动地识别所有的测试线缆是否已经连接到被测器件上。图6显示了这一功能识别出了远端的Sense端没有连接到被测器件。Sense端没有连接的话，执行测试时，电压嵌位功能没有作用。 

远端电压测量
数字源表系列仪器提供2线法和4线法的测量能力。2线法测试中的测试与源输出共用一套表笔。如图7a。当输出高电流时，相比于被测器件上的正向压降，损耗在测试表笔上的电压降可以忽略。

4线法电压测试使用单独的表笔测试DUT上面的压降。因为电压测试的回路具有非常高的输入阻抗，因此该回路中测量表笔上流过的电流非常小，相对于DUT上的电压降，这个小电流在表笔上所产生的压降就可以忽略。