交流阻抗技术是最常用的电容测量技术[1]。它最适合于一般的低功率门电路,也适用于大多数测试结构和大多数探针。其优势在于所需的设备相对便宜,大多数电子实验室都可以直接找到。但是,它也有一些缺点,例如它的校正方法不如射频测量中使用的校正方法那样精确。另外一个明显的缺点是要求交流阻抗的测试频率必须接近DUT的工作频率,否则必须内插一些测量结果。
尽管准静态C-V是最所有测量方法中最廉价的,其中只需要使用一对SMU,但是它适用的技术范围是有限的,例如低漏流[2]高k材料、有机器件或显示器领域。不幸的是,在准静态C-V测量中,测量误差[3]很容易破坏测量结果,尤其对于具有少量漏流器件的特征分析是不准确的。
射频C-V测量是超薄栅、漏电电介质特征分析的最佳选择。它还适用于射频器件的建模。射频探针[4]的矫正方法很容易理解和实现。射频方法的不足之处在于它需要非常昂贵的设备、测试结构和射频探针;此外,它只适用于特征阻抗为50欧姆左右的传输线。如果器件阻抗并不是十分接近50欧姆,这种方法就不准确了。对于某些应用和用户而言,射频测量的配置和分析过程可能太复杂了;在这些情况下,经典的交流阻抗测量方法可能更适合。
关键字:C-V 测量技术 匹配
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尽管准静态C-V是最所有测量方法中最廉价的,其中只需要使用一对SMU,但是它适用的技术范围是有限的,例如低漏流[2]高k材料、有机器件或显示器领域。不幸的是,在准静态C-V测量中,测量误差[3]很容易破坏测量结果,尤其对于具有少量漏流器件的特征分析是不准确的。
射频C-V测量是超薄栅、漏电电介质特征分析的最佳选择。它还适用于射频器件的建模。射频探针[4]的矫正方法很容易理解和实现。射频方法的不足之处在于它需要非常昂贵的设备、测试结构和射频探针;此外,它只适用于特征阻抗为50欧姆左右的传输线。如果器件阻抗并不是十分接近50欧姆,这种方法就不准确了。对于某些应用和用户而言,射频测量的配置和分析过程可能太复杂了;在这些情况下,经典的交流阻抗测量方法可能更适合。
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C-V测量技术、技巧与陷阱—— C-V测量方法与应用的匹配
交流阻抗技术是最常用的电容测量技术 。它最适合于一般的低功率门电路,也适用于大多数测试结构和大多数探针。其优势在于所需的设备相对便宜,大多数电子实验室都可以直接找到。但是,它也有一些缺点,例如它的校正方法不如射频测量中使用的校正方法那样精确。另外一个明显的缺点是要求交流阻抗的测试频率必须接近DUT的工作频率,否则必须内插一些测量结果。 尽管准静态C-V是最所有测量方法中最廉价的,其中只需要使用一对SMU,但是它适用的技术范围是有限的,例如低漏流 高k材料、有机器件或显示器领域。不幸的是,在准静态C-V测量中,测量误差 很容易破坏测量结果,尤其对于具有少量漏流器件的特征分析是不准确的。 射频C-V测量是超薄栅、漏电电介质特征分
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如今紧急制动系统已经成为最有效的驾驶辅助系统之一,在德国,如果汽车配备该系统,其发生追尾事故并造成人员受伤的概率便能降低72%。近日,博世发布官方声明称,该公司开发了一种立体摄像头,可以单独为紧急制动系统提供数据。
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NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供基于平台的系统解决方案来应对全球最严峻工程挑战的供应商,近日发布了数据管理软件套件(Data Management Software Suite)。 这一企业软件解决方案提供了一个完整的工作流程来标准化不同团队的测量数据、挖掘数据获取有用的信息、通过自动分析转换数据,最终提供有技术洞察价值的报告。 NI平台软件副总裁Dave Wilson表示:“测试设备、监控实体资产和分析产品设计的数据量持续激增,数据量呈指数级增长所带来的挑战是需要建立一个可复用的自动化流程来提取有价值的信息。错误的数据和前后不一致的数据就会产生错误的结
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高性能射频测量系统如何选用阻抗匹配元件
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