如何做好PCB上的高速信号阻抗测试

发布者:哈哈哈33最新更新时间:2016-11-07 来源: elecfans关键字:PCB  高速信号  阻抗测试 手机看文章 扫描二维码
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对于低频率板卡来讲,PCB就是把设计图纸中的元器件互联起来,但是随着频率越来越高,PCB在电子设备中已经开始扮演传输线的功能,比如手机无线通信、雷达通信、卫星通信,频率越高对PCB板的性能要求越高,它的性能可以决定整个设备的性能,因此PCB的性能测试在产品生产的各个环节尤为重要。

  利用TDR(Time Domain Reflectometry) 时域反射计测试PCB板、线缆和连接器的特征阻抗是IPC( 美国电子电路与电子互连行业协会) 组织指定的特征阻抗量测方法,在电子测量领域得到了广泛的应用和普及。但是,TDR也是电子设备,通常情况下,和其它电子设备一样,带宽越高,对静电放电(ESD)/ 电气过载压力(EOS) 就越敏感,所以使用高带宽TDR(如18GHz 以上)的多数行业客户可能都经历过TDR 的ESD/EOS 损坏。特别是PCB 制造行业,因为TDR的使用频率比较高,静电损坏,不管是否包含EOS,这样的损坏常常会给生产效率和成本控制带来较大影响,所以甚至有的客户开始考虑用其它设备替代TDR。但考虑到TDR阻抗测试方法的时域特性以及其高的测试效率、测试精度和测试一致性等优点,它一直是IPC-TM-650 规范和HDMI,USB-IF, VESA Displayport 等工业组织指定的、权威的特征阻抗测试标准。

  大多数有经验工程师都了解,大部分ESD/EOS是瞬间产生的,且由于实验室环境温度的变化、一起操作人员的使用经验以及被测产品驻留静电等偶发因素的影响,ESD/EOS是不可能被完全避免的,所有的电子量测设备比如:示波器、信号源和 VNA 都有明确具体的防 ESD/EOS 要求,电子量测设备性能越高端,对应的防 ESD/EOS 要求就越高。同时,ESD/EOS 对电子测量设备的影响是可以不断累积的,大量重复的 ESD/EOS 造成的静电累积会逐渐损伤该测量设备,最终造成其量测功能恶化。

  因此,如何更有效的防止ESD/EOS对产品和量测设备可能造成的损坏?作为测试、测量和监视技术的全球领导者,泰克凭借丰富的测试测量产品种类,全面的产品特性与功能,最优惠的产品价格,以及不断创新的解决方案赢得了全球80%工程师的信赖,在PCB制造业测试上,泰克又有哪些改善案例与我们分享?点击了解详情http://www.ofweek.com/topic/company/tek/serialdata.html),还能免费获得泰克最新产品手册,最完善、最全面的解决方案,帮助工程师们轻松应对复杂的测试测量任务!

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