瞬态热测试界面法测量热阻

发布者:森绿企鹅最新更新时间:2021-07-14 来源: eefocus 手机看文章 扫描二维码
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在介绍瞬态热测试界面法之前,简要介绍结构函数、foster模型、Cauer模型这些数学基础。


结构函数理论:

对于任何一个热模型,可以等效为热阻Rth和热容Cth并联的网络模型。进行电路等效变换,对应模型为一个电阻和电容并联,一阶网络如下:

[公式]

其中 [公式]为时间常数。

实际的热结构,可以抽象为n阶RC网络:

施加加热功率 [公式] ,多阶热阻网络的温度响应方程可以表示为:

[公式]

对应的 [公式]是结到壳的热阻抗,表达式为:

[公式]

Foster 模型是节点对节点的热容,为了提取器件的热阻构成,需要将foster网络转化为Cauer模型,变成节点到地的热容,因而有必要进行foster模型和Cauer模型的等效转化,两个模型的电路如下:

利用阻抗等效方法进行相互转化:

Foster:将Zjc进行拉普拉斯变化

[公式]

Cauer: 为了得到Cauer模型,再继续进行拉普拉斯变化

[公式]

将cauer模型中的热阻和热容按照网络阶数叠加,以热阻为横坐标,热容为纵坐标,可绘制出积分式的结构函数曲线。


数学模型理解起来比较复杂,在测试过程中只要有大体的概念,数据处理过程都可以由软件来完成。


参考JEDEC51-14瞬态双界面法,测量步骤如下:

1) 第一次测量时,将模块直接接触散热器,施加阶跃功率,记录结温变化情况,得到热阻抗曲线。

2) 在器件和散热器之间涂一层很薄的导热硅脂,施加阶跃功率,再次记录结温变化情况,得到热阻抗曲线。

3) 由于导热路径的差异只有在壳到散热器接触面,因此两种测试条件下,结到壳的热阻抗曲线重合,在导热硅脂处发生分离。分离点的热阻抗即为器件的热阻抗。

通过温度的瞬态响应曲线,辅之以结构函数分析手段,就可以分析器件内部的结构信息,进行热传导路径上各种结构的分层进行结构分析。

1)越靠近y轴的地方代表着实际热流传导路径上接近芯片有源区的结构。

2)曲线上平坦的区域代表器件内部热阻大、热容小的结构,陡峭的区域代表器件内部热阻小、热容大的结构。

3)结构函数的末端,其值趋向于一条垂直的渐近线,此时代表热流传导到了空气层。

引用地址:瞬态热测试界面法测量热阻

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