活动预告: 免费在线研讨会 – 温度测试技术的选择与运用

发布者:EE小广播最新更新时间:2023-03-06 来源: EEWORLD关键字:温度测试  imc 手机看文章 扫描二维码
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活动预告: 免费在线研讨会 – 温度测试技术的选择与运用


第三方设备、传感器和设备的无缝集成


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先睹为快:研讨会内容速览  |   3月7日(周二) 下午3-4点


本期研讨会将给大家介绍工业领域、一些科学研究所用到的各种不同温度传感器的特点,以及如何选型。在严苛环境下,例如需要抗EMC,ESD干扰的高压环境、无线遥测、FBG光纤测试又有怎样的解决方案? 


在50分钟的研讨会中,将为大家介绍:imc灵活配置的数据采集和易于集成的测量系统,整合并支持额外的现场总线/汽车通信标准类型等,以及舒适的、基于 PC 的数据可视化及后续分析处理软件。本研讨会设有问答环节。


研讨会议程:


温度传感器选型

严苛环境下的温度测试挑战与运用

适合的测量系统集成与配置模型的重要性

数据分析工具选择和灵活实现分析数据表述


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研讨会课件片段


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imc FAMOS 温度场数据实时显示之

散热器温度分布的色彩图显示


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imc FAMOS 温度场数据实时显示之 

散热器温度分布的3D图显示


关键字:温度测试  imc 引用地址:活动预告: 免费在线研讨会 – 温度测试技术的选择与运用

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DS18B20是目前比较常用的一种温度测试芯片。其具有微型化、低功耗、高性能、抗干扰强等优点。同时可以直接将温度转化为数字信号提供给处理器。详细的资料请参见芯片的资料说明。 本实验是一个简单的温度检测实验。单片机将检测到的温度用数码管显示。程序如下: ================================================================================================= #include reg52.h #define uchar unsigned char #define uint unsigned int int a,b,c,tem
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随着科技的发展和现代化工业生产的需要,温度的测量和控制越来越受到人们的关注,对温度的准确采集及合理调控,将会对温度要求较高的工作环境起到至关重要的作用。尤其是在炸药爆破等恶劣环境条件下对爆炸场温度的分布规律的研究有助于为炸药和相关弹药的威力考核及分析提供依据。文中利用CPLD作为主控芯片,使用钨铼热电偶温度传感器并配以高效低功耗的测试电路对爆炸场温度进行动态测试。 1 系统设计方案 1.1 动态存储测试 所谓存储测试技术,是指在对被测对象无影响或影响在允许范围的条件下,在被测体内置入微型存储测试仪器,现场实时完成信息快速采集与存储,事后回收记录仪,由计算机处理和再现被测信息的一种动态测试技术。 1.2 测试系统总体设计
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许多工程师需要验证他们的产品在不同工作温度条件下的性能。迄今为止,极限温度测试要求工程师在非指定温度范围内使用探头,从而会损坏探头。无论是有源还是无缘探头,大部分探头具有指定的工作温度范围,从0至50摄氏度。新型Agilent N2797A极限温度有源探头可在更宽泛的温度范围(-40至85℃)内工作,且不会受损。工程师能够在温度舱内使用探头和探测附件,探头适配夹和示波器位于温度舱外。 可靠性温度测试在电子设计流程中非常重要。它有助于在早期检测产品故障;确定合理的校准/保修时间;了解产品在极端温度条件下的长期性能。电子行业把温度划分为三个等级。首先是所谓的标准范围或商用级,在0℃至+40℃范围内产品可以获得全面的质保。–45℃至+8
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