循环冗余校验码的单片机及CPLD实现

    摘要：循环冗余码校验（CRC）是一种可靠性很高的串行数据校验方法。介质循环冗余码校验的基本原理，并分别用单片机和CPLD作了循环冗余码验的软件实现和硬件实现。包括汇编语言和VHDL语言源程序。

    关键词：差错校验 查表法 CPLD

1 基本原理

串行数据的差错检验是保证数据正确的必要手段，通常采用奇遇校验法和循环冗余校验法。这两种方法都是通过冗余数据来提供必要信息。奇偶校验法适用于以字节为单位数据传输。例如用偶校验传送1个ASCII字符时，要附加1个校验位，从而使全部9位中“1”的个数为偶数。奇偶校验简单易行，但当数据崩溃或出现多位错误时，往往不能检验出来，因而可靠性不高。

循环冗余码校验法利用了循环和反馈机制，校验码由输入数据与历史数据经过较为复杂的运算而得到。因此，冗余码包含了更为丰富的数据间的信息，可靠性更高。校好的循环冗余码可校验出以下错误：①全部数据位任意奇数个位出错；②全部数据位中任意连续2位出错；③处于一个8位时间窗内的任1～8位数据出错。

使用循环冗余码校验方法通信时，发送方先计算待发数据的校验码，然后将数据与校验码起发出；接收方接收数据的同时进行循环冗余码的计算，并将计算结果与来自发送方的校验码相比较，如不相同表示传输过程中出现了错误，接收方必须通知发送方再次发送该组数据。

假设要传输64位数据（最后8位是校验码），并使用多项式x8+x5+x4+1来产生8位循环冗余校验码（以下简称CRC码）。其逻辑结构可用异或门和移位寄存器表示，如图1所示。寄存器的值即为输入数据的CRC码。首先来输入数据与最低位的异或值，如为“0”，只需将当前CRC码逻辑右移1位（首位补零），即可得到新CRC码；如为“1”，则将当前CRC码与18H异或，再循环右移1位即可。该校验码有以下特点：①当输入的8位数据（低位在前）与当前CRC码相同时，输出的CRC码将是零。因此，当包含8位CRC码的全部64位数据输入后，输出的CRC码应为零。②只要有非零位即可判决传输错误，而必复杂的校验技术。

2 用汇编语言产生循环冗长余校验码

在8051单片机上，由以下代码可得8位CRC码（存于变量CRC中），8位输入数据暂存于ACC中。

DO_CRC：PUSH ACC ；保存输入数据

PUSH B ；保存B寄存器

PUSH ACC ；再次保存

MOV B，#8 ；共有8位数据

CRC_LOOP：XRL A，CRC

RRC A ；将最低位与输入数据的异或值放入进位标志中

MOV A，CRC

JNC ZERO

XRL A，#18H；当前CRC码与18H异或

ZERO： RRC A ；右移1位

MOV CRC，A ；保存新CRC码

POP ACC

RR A ；取出输入数据的第2位

PUSH ACC

DJNZ B,CRC_LOOP ;循环

POP ACC

POP B

POP ACC ；恢复各寄存器

RET

上述程序对每一位输入数据都要执行一系列操作，运算量很大，但内存占用少，适合于内存紧张的情况。当内存充裕时，可以使用效率更高的查表法。

3 用查表法求CRC码

将输入数据按字节分开，每字节值在0～255之间。令当前CRC码为00H，当分别输入0～255时，得到256个CRC码。将它们顺序排列就构成了循环冗余校验码表。用当前CRC码与输入字节异或后的值作为下标，查表即可求出新CRC码。下例中，crc存放CRC码，ACC存放输入字节，crc_table为循环冗余校验表的入口地址。代码如下：

XRL A，crc ;当前CRC码与输入数据异或

PUSH DPH

PUSH DPL ；保存数据指针

MOV DPTR #crc_table

MOVC A，@A+DPTR；查表

MOV crc,A

POP DPL

POP DPH ；恢复数据指针

RET

crc_table：

DB 00H,5EH,BCH,E2H,61H,3FH,DDH,83H

DB C2H,9CH,7EH,20H,A3H,FDH,1FH,41H

DB 9DH,C3H,21H,7FH,FCH,A2H,40H,1EH

……

4 循环冗余校验码的CPLD实现

用CPLD作循环冗余校验码的硬件实现，其速度更快，性能更好，而且只占用极少的CPLD内的资源。本人用Xilinx公司的XCV9536芯片，基于以下VHDL代码，实现了8位CRC码生成电路。代码下VHDL代码，实现了8位CRC码生成电路。代码中，s_in为输入串行数据，q为输出CRC码，d_new为当前CRC码。

Library IEEE;

use IEEE.std_logic_1164.all；

entity crc is

port(clk,s_in,reset:in STD_LOGIC,q:out STD_LOGIC_VECTOR (7 downto 0));

end crc;

architecture crc_arch of crc is

signal t1,t2,t3:std_logic;

signal d_new:std_logic_vector(7 downto 0);

begin

t1<=d_new(0)xor s_in; --t1为最低位与输入异或值

t2<=d_new(4)xor '1';

t3<=d_new(3)xor'1';

process(clk,reset)

begin

if clk event and clk='1'then

if reset='1'then

d_new<=x"0"; --复位时，CRC码置零

elsif t1='1'then

d_new<=t1&d_new(7 downto 5)&t2&t3&td_new(2 downto 1);--t1为"1"时的新CRC码

elsif t1='0'then

d_new<=t1&d_new(7 downto 1); --t1为"0"时的新CRC码

end if;

end if;

end process;

q<=d_new;--输出CRC码

end crc_arch;

5 总结

基于以上介绍的8位循环冗余校验码的软件及硬件实现方法，可以设计各种类型的循环冗余校检方法。由上述例程可以看出，循环冗余码校验是一种可靠性高、易于实现的校验方法。