解决STM32单片机的ADC采样不准确偏移的问题

项目场景：

用STM32CubeMX生成的ADC采样测量电压。

单片机：STM32G070

MDK:V5.25

问题描述：

采样回来的数值Debug看总是大了些许，几个通道都是这样，具体测试情况如下：

原因分析：

翻阅对比官方历程检查发现没有ADC校准，STM32CubeMX不会自动帮你配置校准。

  /* Run the ADC calibration */

  if (HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1) != HAL_OK)

  {

    /* Calibration Error */

    Error_Handler();

  }

  /* USER CODE END 2 */

  /* Infinite loop */

  /* USER CODE BEGIN WHILE */

  /*## Start ADC conversions ###############################################*/

  /* Start ADC group regular conversion with DMA */

  if (HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1,

                        (uint32_t *)aADCxConvertedData,

                        ADC_CONVERTED_DATA_BUFFER_SIZE

                       ) != HAL_OK)

  {

    /* ADC conversion start error */

    Error_Handler();

  }  

解决方案：

加上校准即可。

  HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);

  HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1, (uint32_t *)&m_ADCValue[0], ADC_BUF_LEN);