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本文使用ADC转换电位器输出的电压值，并用DMA模式传输转换的结果，每8次采样转换取平均值，做一个简单的数字滤波。 ADC的详细配置与使用见之前的日记STM32中ADC的使用，只是最后增加一步配置DMA： DMA for ADC channels features configuration To enable the DMA mode for ADC channels group， use the ADC_DMACmd（）funcTIon. To configure the DMA transfer request， use ADC_DMAConfig（） func TI on. DMA的配置（摘自STM32F3官

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S3C2440裸机实验（6） ----NAND FLASH

1.Nand flash以page为单位进行读写，以block为单位进行擦除，没页分为main区和spare区，main区用于存放正常的数据，spare区用于存放一些附加信息 2．S3c2440 支持从Nand 启动是因为内部有一个叫做Steppingstone的SRAM buffer，当启动的时候，nand 的前4k的将会代码将被拷贝到steppingstone中执行，注意前4k代码是不会经过ECC校验的，所以必须确保这些代码的准确 3.对nand的操作都是通过使用命令来实现，有的操作只要一个命令就可以完成，而有的需要两个命令才能完成,下面是K9F1G08U0B的命令表： 4.关于TACLS,TWRPH0,

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具突破性的 0.5ppm INL、1Msps、无延迟 SAR ADC实现了真正的 20 位精准度

加利福尼亚州米尔皮塔斯 (MILPITAS, CA) – 2013 年 5 月 28 日 – 凌力尔特公司 (Linear Technology Corporation) 推出 20 位、1Msps、无延迟逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC) LTC2378-20，该器件具有极低的 0.5ppm (典型值) 和 2ppm (最大值) 积分非线性 (INL) 误差。INL 是高精度应用 (例如：地震监测和半导体制造等) 的关键规格，标明了 ADC 传输函数与理想值的偏离程度。由于不能有效地在系统级校准线性度，ADC的 INL规格通常设定了整体系统的准确度。LTC2378-20具有同类最佳的 0.5ppm INL，实现了

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MSP430F2616开发笔记之使用12-bit ADC介绍

ADC，analog-to-digital conversions，模数转换器，需要使用它的场合非常多，但是能让它发挥完美性能的电路设计却不多。电源本身自带的噪声、PCB板布线引入的干扰、信号放大电路糟糕的设计……太多的因素会影响ADC的表现。几乎所有的主流单片机都集成了ADC模块，ATmega16是10位，而MSP430F2616和STM32F103RBT6是12位，同样，它的使用也有很多需要注意的地方。最简单的ADC使用方法是，单次转换一个通道，不产生中断，即Single-channel, single-conversion （CONSEQ=0）。这里时钟源设置为8MHz的MCLK，相应的采集周期和时钟分频可以拉长一些，

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STM32单片机ADC的模拟看门狗的测试

ADC的模拟看门狗用于检查电压是否越界。他又上下两个边界，可分别在寄存器ADC_HTR和ADC_LTR中设置。库函数是使用ADC_AnalogWatchdogThresholdsConfig设置的，无论是常规通道还是注入通道，都非常简单当模拟看门狗检测到电压高于上限或者低于下限时将会产生看门狗中断。捕获这个中断，可以做出一些应对措施。数据手册上特别之处的一个东西：模拟看门狗说使用的比较数据与ADC_CR2寄存器中设置的数据对齐方式无关。看门狗比较是在数据对齐之前完成的。先进行看门狗比较，再将数据放入ADC_DR数据寄存器。在ST的库中，只有简单的三个与看门狗相关的函数： void ADC_AnalogWatchdogCm

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Teledyne e2v推出12位四通道模数转换器支持高达6.4GSps转换速率

Teledyne e2v致力于不断提升产品性能，近日更推出了12位四通道模数转换器（ADC）－－EV12AQ605。这款最新的信号调理解决方案是该公司热门ADC EV12AQ60的新版本，两者具有几乎相同的功能，但是更低的价格，将吸引批量生产并对成本敏感的应用市场的目光。两者的主要区别是保存在一次可编程（OTP）存储器中交织不匹配校准设置的数量以及支持的温度范围（-40°C至+ 110°C，而EV12AQ600支持-55°C至+125° C）。该系列ADC采用管脚兼容设计，工程师无需更改现有基于EV12AQ600的设计，可以简单快速替换。 EV12AQ605交叉点开关设计，意味着四个处理内核可以独立运行，亦可配合工作，从

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一种用于CMOS图像传感器集成ADC的性能测试系统

随着CMOS技术的迅猛发展，CMOS图像传感器以其高集成度、低功耗、低成本等优点，已广泛用于超微型数码相机、PC机电脑眼、指纹识别、手机等图像采集的领域。 CMOS图像传感器的工作流程可以简单表述为：外界光信号由像素阵列采集并转换为模拟信号，再通过读出电路传输给A/D转换器，最后交于后续数字电路进行处理。由此可见，A/D转换器在整个CMOS图像传感器中起着“承上启下”的作用，其性能指标直接影响着整个系统的优劣，从而使得ADC的性能测试变得十分重要。目前业界已经存在一些通用的ADC测试方法，例如针对静态指标测试的直方图法，针对动态指标测试的快速傅式变换法，以及专门针对ENOB的正弦波适应法等，但是还没有单一的测试方法能够有

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可调高效多通道高性能分集接收机

引言利用分集接收机构建通信系统会导致较高的器件数目、功耗、板级空间占用以及信号布线。为了降低 RF 组件数量，我们可以使用正交解调器的直接转换架构。I/Q 的不匹配会使得构建高性能接收器较为困难。这种架构要求在 RF 输入和占用大量板级空间的基带数字输出之间安装一些组件。超外差接收机只需要一个模数转换器 (ADC)，而正交解调器则需要一个双通道 ADC 来处理现实及镜像模拟。对于单载波系统而言，这种情况或许是可以接受的，但是分集和直接转换接收机可以有效地用于多通道系统吗？这种解决方案能够有效地适应一个以上或两个通道吗？凭借 RF 和 ADC 组件全新的集成度，可以创建一个高效、高性能的多通道直接转换分集接收机。

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