是德科技开放实验室主题日 | 高功率半导体器件测试解决方案(上海,9月7日)
介 绍
半导体产业是电子信息产业的基础,代表着当今世界最先进的主流技术发展。我国由于具备劳动力成本等多方面的优势,正在承接大规模的半导体产业转移。
高功率、高电压、高电流等是半导体测试的难点,在实际测试过程中存在很多因素导致结果偏差,需要通过相应的技术来消除误差,来获取精确的测量结果。
宽禁带半导体材料是被称为第三代半导体材料,其本身具有的优越性质及其在微波功率器件领域应用中潜在的巨大前景,非常适用于制作抗辐射、高频、大功率和高密度集成的电子器件。面对宽禁带半导体器件测试所带来的挑战,是德科技提出了全面的测试解决方案。
是德科技上海开放实验室于2017年9月7日举办以“高功率半导体器件测试解决方案”为主题的展示活动。活动的目的就从测试测量的角度,发现和探讨高功率半导体测试的难点,介绍Keysight高功率半导体器件的测试解决方案。
地 点
时间:2017年9月7日09:15 - 12:00
地点:是德科技上海开放实验室
地址:上海市虹口区四川北路1350号利通广场19层
专 家
Shunsuke Fujii —— 是德科技技术专家
倪勇桥 —— 是德科技射频应用工程师
查海辉 —— 是德科技射频应用工程师
方 式
有兴趣的客户,请发送
您的姓名 + 联系电话 + 邮箱+参会日期
至如下两个邮箱进行预约
openlab@keysight.com
chuangye.wang@keysight.com
(由于场地限制本活动限额20名,先报先得)
安 排
时间 | 主题 |
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09:15 - 09:30 | 签到 |
09:30 - 12:00 |
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