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NI芯片验证与电子测量技术峰会，亮点剧透抢先看

NI 美国国家仪器
最新更新时间：2021-09-16
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一款芯片从设计到流片再到量产，每个环节都需要测试。验证与测试贯穿整个流程，堪称责任担当，但测试方法的繁琐与高成本经常让人望而却步。


在即将举行的“NI芯片验证与电子测量技术峰会2021”，我们邀请业内专家专门讨论芯片验证的痛点及解决办法。您将了解到如何缩短测量周期适应不断变化的需求、同步多仪器测量程序、复用测量IP，以及如何在整个产品生命周期内快速访问和解析产品数据。


先来看一波剧透。



⏰ 时间：10月21日（星期四），13:00– 17:30

 
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