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【白皮书】在降低闲置功耗的同时达到IEC 62368-1标准

最新更新时间:2017-02-17
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作者

Edward Ong PI公司产品营销经理


说明

如今,生厂商都承受着提高品能效的力,想方法降低系置(空)状下的功耗水平已成重要考因素。在从电视机和算机到微波炉、冰箱、空和打印机的众多设备中,它在工作之置状实现的每毫瓦能源省都是至关重要的。


源会消耗大量的置功率,特别是在EMI波器部分。有代表性的例子就是跨接X容的安全放电电阻所生的能耗。另一种能耗元件是高压电阻分器网,例如反馈电阻网些网在待机模式下仍会工作,因此功耗的影响非常著。


源会消耗大量的置功率,特别是在EMI波器部分。有代表性的例子就是跨接X容的安全放电电阻所生的能耗。另一种能耗元件是高压电阻分器网,例如反馈电阻网些网在待机模式下仍会工作,因此功耗的影响非常著。


用来消除置功耗的路技之一,就是使用可将网线子控制开关,在待机模式期阻的接开路在市面上已有行此功能的IC,例如Power Integrations推出的CapZero-2端子X容放IC些器件的电压为1 kV,可以松耐受浪涌电压CapZero-2 X容放IC非常易于使用,甚至可以在旧有设计改造程中使用,例如家中的200 W,从而足低能耗要求。独立的器件可以易地放置到路中,与路板上的放电电阻串可以立即降低耗。CapZero-2 IC经过规认证,因此只需要安全文件行更新即可,而一个型号的器件可覆盖一系列X


AC后,器件可阻断X容安全放电电阻中的流,这样可在230 VAC入下将功率耗降至5 mW以下。AC后,又会使得X与串电电阻相,自动对X行放种工作方法有助于灵活选择X容,以化差模EMI波,并在功耗不的情况下降低感成本。使用器件设计电,只需根据所用X值选择合适的外部即可得所需的时间常数。


安全测试


X容放IC足够固耐用,以确保它即使在极端条件下也能正常工作。就是什么IEC会在制定IEC 62368-1安全强力将容的相关测试规定列入此准的原因


虽然此项认证至关重要且具有强制性,但某些设计的使用是过认证。例如采用集成X容放功能的反激式控制器如果设计者被迫采取复的放通路。其中一个元件生故障不能保X容的放会安全行。而认证标准中的测试要求是即使在一故障功能必得以保。因而在种情况下系的放可靠性会大受影响。

CapZero-2 IC可以解决此问题,因为该器件在故障情况下仍支持放功能。元件已通过严格的8 KV入浪涌测试,并且器件的引脚设计采用冗余方式,因此即使在生引脚开路或短路的情况下,它仍能X容提供安全的放功能。有助于源符合IEC 62368-1准,此拉弧放安全准涵盖非常广泛的用电设备,并且可替代IT设备IEC 60950准以及电视机、音视频设备IEC 60065准。IEC 62368-1安全准已于去年得批准和施,将于2019年成强制性准。


测试还包括120高湿度测试该测试在温度+40˚C和相湿度93%的条件下行。其他测试包括格的100正脉冲和100脉冲入浪涌测试测试采用最大外加最小阻阻,在相线与零线间进施加浪涌脉冲。然后再采用厂商推荐的最小外加最大阻重复行。任何两个脉冲之时间间不小于1。接下来,施加110%AC电压2.5,然后10,000次循通断。接着,再次采用最大外加最小测试,然后采用厂商指定的最小外加最大重复行。通断环时间不小于1


总结

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CapZero-2 IC推出后,设计者只需要认证一个<

 
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