UCSD:锂金属电池失效的主要原因在于非活性锂

发布者:genius6最新更新时间:2019-09-04 关键字:失效  非活性锂 手机看文章 扫描二维码
随时随地手机看文章

电池,UCSD,锂金属电池,电池失效,非活性锂,锂沉积物


(图源:UCSD官网)


据外媒报道,加州大学圣地亚哥分校(UCSD)领导的研究小组发现,锂金属电池失效的根本原因在于:在电池放电过程中,少量的金属锂沉积物在从负极表面脱落并被困住,变成无法再使用的“死”或非活性锂。


这一发现挑战传统观点,即锂金属电池失效是因为锂负极和电解质之间形成的固态电解质界面膜(SEI)。研究人员开发一种技术,测量负极上非活性锂的数量,并研究其微纳米结构,从而得出这一结论。这在电池研究领域尚属首次。这些发现或将为实现可充电锂金属电池商业化铺平道路。


锂金属电池(由锂金属制成负极)是下一代电池技术的重要组成部分,其能量密度是目前锂离子电池(通常采用石墨负极)的两倍。因此,使用寿命更长,重量更轻,可能使电动汽车的续航里程增加一倍。但是,锂金属电池存在一个重要问题,那就是库仑效率低,电池可循环次数有限。这是因为在循环过程中,电池中存储的活性锂和电解质被消耗殆尽。


长期以来,电池研究人员一直怀疑,这是由于负极和电解质之间形成的固体电解质界面膜(SEI)造成的。但是,加州大学圣地亚哥分校的纳米工程学教授、主要研究人员Y. Shirley Meng表示,尽管研究人员已经开发出各种控制和稳定SEI层的方法,仍然无法彻底解决这一问题。“这些电池仍然会失效,因为电池中正在形成大量非活性锂。所以,应该还有一个重要的方面被忽视了。”


研究人员发现,锂金属电池失效的罪魁祸首是锂金属沉积。当电池放电时,锂金属沉积从负极脱落,然后被困在SEI层,失去与负极的电连接,变成不能参与电池循环的非活性锂。这些被困住的锂大大降低了电池的库仑效率。研究人员发明一种方法,测量有多少未反应的金属锂作为非活性锂被困,从而确定电池失效原因。他们往密封的烧瓶中加水,瓶中含有在半电池循环中形成的非活性锂样品。所有未反应的金属锂都会与水发生化学反应产生氢气。通过测量产生了多少气体,研究人员可以计算出被困金属锂的数量。非活性锂还包括另一种成分:锂离子,这也是SEI层的组成部分。可从非活性锂总量中减去未反应的锂金属量,来计算它们的数量。


在对金属锂半电池的测试中,研究人员发现未反应的金属锂是非活性锂的主要成分。随着它的形成,库仑效率逐渐降低。与此同时,SEI层的锂离子含量始终保持在较低水平。在八种不同的电解质中,可以观察到这些结果。“这一发现很重要。从中可以看出,锂金属电池的主要失效产物是未反应的金属锂,而不是SEI,”研究人员Fang说,“通过这种方法来量化活性锂的两种成分,能达到超高精度,得出值得信赖的结果。这是其他表征工具无法做到的。”


“从化学性质的角度,金属锂具有侵略性,因此,这项任务极具挑战性。金属锂会同时发生许多不同类型的寄生反应,几乎无法将各种非活性锂区分开来。”美国陆军研究实验室的研究员Kang Xu表示,“这项研究带来的先进方法,可提供非常强大的工具,以精确可靠的方式做到这一点。”Xu所在实验室的团队为此项研究提供先进的电解液配方。


研究人员希望他们的方法能够成为评估锂金属电池效率的新标准。 


电池,UCSD,锂金属电池,电池失效,非活性锂,锂沉积物


通过研究不同电解质中锂沉积的微纳米结构,研究人员回答了另一个重要的问题:为什么有些电解质能提高库仑效率,另一些却不能。


这与电池充电时锂在负极上的沉积方式有关。在一些电解质中,锂能形成微纳米结构,从而提高电池性能。例如,在通用汽车研究人员特别设计的电解液中,产生密集的柱状块状锂沉积。在放电过程中,受益于这种结构,作为非活跃锂、被困在SEI层中的未反应金属锂较少。根据测试结果,第一次循环的库仑效率为96%。“这种优异的性能归功于电流收集器表面形成的柱状微观结构,它的弯曲度最小,大大增强了结构连接,”通用汽车全球研发中心的Mei Cai士说。他的团队开发了先进的电解质,使锂以“理想”的微观结构沉积。


相比之下,使用商用碳酸盐岩电解质时,锂沉积呈现出扭曲的、晶须状形态。这种结构导致更多的锂金属在脱离过程中被困在SEI中,库仑效率降至85%。


接下来,研究小组提出控制金属锂沉积和脱离的方法,包括对电极堆施压、形成均匀且具有机械弹性的SEI层、使用3D电流收集器。“关键是控制微纳米结构,”Meng说,“希望我们的发现能够激发新的研究方向,推进可充电锂金属电池的发展。”


关键字:失效  非活性锂 引用地址:UCSD:锂金属电池失效的主要原因在于非活性锂

上一篇:福建物构所高能量密度锂硫电池研究取得进展
下一篇:特斯拉加拿大研发中心制无阳极锂电池 90次循环后保持80%容量

推荐阅读最新更新时间:2024-11-05 06:17

英特尔解答摩尔定律为何不会失效
  9月19日首次在北京举办的“ 英特尔 精尖制造日”上, 英特尔 EVP兼制造、运营与销售集团总裁StacySmith表示,面对业界对 摩尔定律 是否会失效的质疑, 英特尔 的答案是:肯定不会!下面就随手机便携小编一起来了解一下相关内容吧。   按照戈登•摩尔的观察,芯片上的晶体管数量每隔24个月将增加一倍。这一观察已经成为科技行业发展的真理。它意味着在半导体行业我们产品的性能每两年会翻一倍,每个晶体管的成本也随之下降。从超级计算机到虚拟现实到其他的精尖技术, 摩尔定律 发挥了巨大的贡献。在 摩尔定律 的核心也反映了一个真理那就是经济学原理:按照特定节奏推动半导体制造能力的进步,我们就可以降低任何依赖于计算的商业模式的成本。其
[手机便携]
失效的摩尔定律:半导体整合潮加速!
  新一代 芯片 推出时间延迟,停留时间又拉长,市场认为英特尔联合创始人戈登 ‧ 摩尔 (Gordon Moore) 在 1965 年提出「 摩尔定律 」(Moore's Law) 早已失效,随之而来的是半导体行业加速整合。下面就随半导体小编一起来了解一下相关内容吧。    摩尔定律 指的是,集成电路上可容纳的晶体管数目,约每隔两年便能增加一倍,效能并能提高一倍。   但事实上随着 摩尔定律 进程推进,要维持摩尔定律继续推进的成本就会变得越来越庞大,制程微缩不再跟随着晶体管单位成本跟着降低的效应,这意味着复杂的设计流程、高风险,以及高昂的成本,将使设计业者「需要有非常大量的销售额才能回收投资。 」    半导体整合潮进行中!
[半导体设计/制造]
技术文章—如何识别和防止7nm工艺失效
通过失效分类、良率预测和工艺窗口优化实现良率预测和提升 器件的良率在很大程度上依赖于适当的工艺规格设定和对制造环节的误差控制,在单元尺寸更小的先进节点上就更是如此。过去为了识别和防止工艺失效,必须要通过大量晶圆的制造和测试来收集数据,然后对采集到的数据进行相关性分析,整个过程费时且昂贵。如今半导体虚拟制造工具(例如SEMulator3D®)的出现改变了这一现状,让我们可以在“虚拟”环境下完成以上实验。甚至在硅材料中进行工艺实验之前,虚拟制造就可以用于了解工艺之间的相互影响和工艺步骤灵敏度以实现最大化良率。本文将通过一个简单示例来演示如何通过虚拟制造来提升7nm节点特定结构的良率,其中使用到的技术包括失效分类、良率预测和工艺窗
[半导体设计/制造]
技术文章—如何识别和防止7nm工艺<font color='red'>失效</font>
FCC要求Verizon调查暴雪期间911电话失效事故
    2月21日消息,据国外媒体报道,联邦通讯委员会19日致函Verizon Communications,要求它对上个月暴风雪期间上万个911紧急电话无法打通的事故原因展开调查。     之前有报道称,在1月26日的暴风雪期间,Verizon的网络未能接通由华盛顿郊区拨出的上万个911电话。     联邦通讯委员会公共安全与国土安全处主任詹米巴雷特(Jamie Barnett)表示:“我们特别担心Verizon的网络也许普遍存在这个问题。”联邦通讯委员会希望Verizon对其整个网络展开调查,看其他地区是否也存在这个问题。     Verizon发言人哈里米切尔(Harry Mitchell)在一封电子邮件中表示:
[网络通信]
一款USBkey用MCU电路早期失效问题初探
  1 问题的提出   我公司生产的USBkey产品所使用的MCU电路,自2007年9月初USBkey产品开始量产化后,我们对其部分产品做了电老化试验,发现该款电路早期失效问题达不到我们要求,上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右。为此,我们从去年10月到今年2月对所生产的产品(已发出的除外)全部进行了电老化筛选,通过这项工作发现了一些规律性的东西,对提高电子产品的安全可靠性有一定指导意义。   2 试验条件的设定   造成电路早期失效的原因很多,从IC设计到半导体生产工艺、电路封装、焊接装配等生产工序和生产设备、生产材料、生产环境及人为的因素都有可能是成因,作为电路的使用方不可能都顾及到,也不可控。通过分析,我们认为还
[单片机]
一款USBkey用MCU电路早期<font color='red'>失效</font>问题初探
旷视科技的香港IPO申请失效,“实体清单”影响仍未消除
近日旷视科技的香港 IPO 申请失效。对此,旷视科技回应称,上市进程仍在正常推进中,正在更新材料。 新闻主体:北京旷视科技有限公司是一家行业领先的人工智能公司,在深度学习方面拥有核心竞争力。旷视向客户提供包括先进算法、平台软件、应用软件及内嵌人工智能功能的物联网设备的全栈式解决方案,并在多个行业取得领先地位。 据悉,旷视已于去年通过聆讯。公司在 2018 年实现扭亏为盈,且毛利率水平总体呈现上升趋势。 去年 8 月 25 日,旷视科技在港交所递交 IPO 招股书。随后在 10 月份, 海康威视 、旷视科技等刚刚和国内 28 家公司一起被美国商务部列入“实体清单”,限制这些机构从美国购买 零部件 。 此外,知
[嵌入式]
旷视科技的香港IPO申请<font color='red'>失效</font>,“实体清单”影响仍未消除
热阻测试原理与失效分析
随着电子行业的不断发展,半导体分立器件的功率越来越大,使得产品的耗散功率增大。同时由于成本控制的原因,芯片和成品的尺寸都在不断的缩小,在一定程度上又限制了产品的散热。这就造成了产品存测试过程中,经常发生热阻不良。本文重点闸述了热阻测试原理和各类失效模式,并结合实际案例进行了详细的分析。 1 热阻概念及测试原理 1.1 热阻概念及作用 热阻是依据半导体器件PN结在指定电流下两端的电压随温度变化而变化为测试原理,来测试功率半导体器件的热稳定性或封装等的散热特性,通过给被测功率器件施加指定功率、指定时间PN结两端的电压变化(△VBE/△VF/△VGK/△VT/△VDS)作为被测器件的散热判据。并与指定规范值比较,根据测试结果进行
[测试测量]
热阻测试原理与<font color='red'>失效</font>分析
车载信息娱乐系统之USB端口失效分析
随着车机的不断升级换代,车内外的科技感越来越强。其中给我们最大的感受就是汽车的功能越来越多,并且越来越智能了。实现这些功能是得益于我们的中控信息系统的不断发展,而中控系统的可靠性与稳定性将决定我们用户的驾驶体验与用车安全。 今天,我们就来跟大家分享一个中控信息系统的整改案例。 案例背景 ● 产品 车载信息娱乐系统 ● 测试标准 接触 +/-6KV ● 问题描述 USB功能失灵,不良率约为0.1%,USB上的TVS uClamp3311T阻抗降为KΩ 级 01 整改分析 整改分析(I) 闩锁分析: 测试环境(USB2.0 LS mode) 结论:uCl
[汽车电子]
车载信息娱乐系统之USB端口<font color='red'>失效</font>分析
小广播
最新汽车电子文章
换一换 更多 相关热搜器件
更多往期活动

 
EEWorld订阅号

 
EEWorld服务号

 
汽车开发圈

电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved