SEMICON意犹未尽?精彩回顾看这里!

发布者:Lihua521最新更新时间:2019-03-26 关键字:SEMICON  NI 手机看文章 扫描二维码
随时随地手机看文章

过去几天,上海的天气经历了烈日和暴雨的极端涌动,似有英雄汇聚于八方,气势磅礴于天地的架势。原来是全球半导体界盛会SEMICON开幕,整个半导体供应链系统的各路大师齐聚上海。作为半导体测试测量行业的引领者,NI展出了包括5G芯片测试系统等明星产品。展台人头攒动,工程师们大汗淋漓地为参观者讲解NI此次重点展出的创新方案,如果你还意犹未尽,跟随我们一起回顾这几天的先锋之旅!

 

DSC01800cd69ee4e04ff2cdab4ca7555943db85

 

5G热点,我们很资深


2010年,NI就进入5G市场。从最开始5G设计的原形,一直到这两年开始的5G商用化,NI一直扮演着非常重要的角色。此次NI展出最新5G射频芯片测试方案,通过NI软硬件平台实现大规模天线、毫米波频段等5G重点方向的原型平台设计。

 

DSC01758

 

NI携手Skyworks,展示了如何利用NI以软件为中心的模块化仪器、充分满足针对5G RFIC的各类测试需求。借助于NI 1GHz高带宽的最新矢量信号收发仪,集成高性能数字和功率测试模块,使得测试射频前端芯片变得非常便捷。

 

NI打造了符合3GPP标准的sub-6G NR参考测试方案,其中RFIC测试方案支持802.11、2G、3G、4G以及5G NR等标准,现全新软件已支持5G NR新波形OFDMA及DFT-s-OFDM等调制方式

 

基于PXI的ADC/DAC测试方案,我们很优秀

DSC01779

 

高性能仪器同步

最佳交互体验

可扩展标准工业平台

 

DSC01780

 

 

半导体测试系统STS,我们很高效

 

NI的半导体测试系统(STS)可快速部署到生产的测试系统,适用于半导体生产测试环境(实验室验证、晶圆级测试、FT测试等),可进一步提升半导体测试效率,降低测试成本。

 

NI STS T1系统与Reid Ashman机械手完美搭配,可面向不同测试系统、定制各种应用,易于使用和低维护配重设计,能够轻松集成到生产测试设备中。

 

DSC01737

 

Talos实验室工程Handler

 

NI的合作伙伴——esmo采用NI STS T1系统、打造的Talos实验室工程Handler在本届SEMICON的展台上吸引了不少眼球。其实现了全自动化生产测试,并支持三温测试、温度稳定性优于+/-0.5度、自动激光定位系统等功能。也因为使用了统一开发环境LabVIEW和测试管理执行软件TestStand,这一台分选机将同样在实验室和量产测试中使用,并减少数据关联(Correlation)时间,进一步提升半导体测试效率。

 

DSC01788

 

I2C,SPI验证方案

DSC01768

200c27898b7bdbfa2d8829c97680296

 

电源管理芯片性能测试

DSC01759

 

过去几日,NI与半导体行业精英们在这里分享着创新技术与行业洞察,SEMICON精彩旅程完美结束。但我们并未停止。5月20日,NI将在美国召开一年一度的NIWeek,发布航空、国防、汽车、半导体等应用领域中的重大科技创新。让我们拭目以待!



关键字:SEMICON  NI 引用地址:SEMICON意犹未尽?精彩回顾看这里!

上一篇:金百泽亮相CPCA SHOW,展现前沿技术
下一篇:SABIC出席博鳌亚洲论坛:更加互联互通的世界已近在咫尺

推荐阅读最新更新时间:2024-03-30 23:58

NI S.E.A. C-V2X开环测试系统 助力开发更安全的汽车
美国国家仪器(National Instruments,简称“NI”)是一家提供软件定义的测试测量平台的提供商,该平台有助于加速自动化测试和自动化测量系统的开发和性能提升,今日发布了S.E.A. C-V2X开环测试系统,利用4G无线蜂窝技术为车辆到车辆(V2V)和车辆到基础设施(V2I)通信提供高带宽和低延迟通信。 NI正在与NI联盟合作伙伴*(S.E.A.)合作,通过提供软件定义的测试设备帮助主机厂和零部件供应商验证汽车的安全和效率,从而最大限度地发挥智联汽车的全部潜力。随着3GPP标准的演进,包括计划于2020年推出的3GPP Release 16的5G NR功能,软件定义的测试测量平台为OEM和零部件供应商提供了高灵活性
[汽车电子]
<font color='red'>NI</font> S.E.A. C-V2X开环测试系统 助力开发更安全的汽车
NI整合高性能仪器和FPGA 实现最佳WLAN测量
  NI PXIe-5644R是业界首台矢量信号收发仪(VST)。该VST的特点是高达80MHz的实时带宽以及最高至6 GHz的中心频率。该 仪器同 时包括可编程FPGA,可用于提高测试速度或实现各种实时算法,如快速傅立叶变换(FFT)、功率控制以及调制或解调等。完整的WLAN测试仪器的宽度为三个PXI Express插槽,并包括可用于待测设备(DUT)控制类型应用的数字I/O端口。 2012-10-30 19:51:05 上传 下载附件 (20.55 KB) 图1. NI PXIe-5644R是用于WLAN测量的最佳选择,可编程FPGA允许用户根据需要自定制仪器。   软面板   NI WLAN分
[测试测量]
<font color='red'>NI</font>整合高性能仪器和FPGA 实现最佳WLAN测量
SEMICON West 2011上关键新微电子制造技术面临的挑战
    关键新微电子制造技术(包括垂直晶体管(FinFET元件)、3D-IC、450毫米和EUV)的融合致力于推动持续削减超越20纳米节点的成本,并增加其性能需求——但是技术和商业挑战以及潜在的障碍仍然存在。全球微电子供应链如何共同合作应对这些挑战将有可能决定该行业在未来十年内的盈利和增长。SEMICON West 2011将于下个月(7月12-14日)在旧金山举办,届时两个高管级别的论坛将解决关于关键新技术的开发和采用,以及将这些技术从实验室推向工厂所面临的商业挑战方面的问题。     7月13日举办的SEMICON West高层管理峰会将会集行业四大高管共同讨论未来十年内设备和材料行业所面临的关键趋势和问题,包括市场驱动力
[半导体设计/制造]
NI积极“拉拢”中国高校教师,共推虚拟仪器技术
来自全国16所知名高校的20多位资深教授日前参加了由美国国家仪器中国有限公司(National Instruments,简称NI)举办的第一届“NI虚拟仪器技术-高校教师交流日”活动。 与会的各位理工科教授都是资深的NI用户,对基于LabVIEW图形化编程环境的虚拟仪器技术在课堂教学、实验室教学和科研开发上的应用都具有多年的经验。会议期间,他们热情地畅谈了使用NI软硬工具(包括NI专为院校领域开发的系统等)的经验和心得。 会议期间,NI高校市场部的陈庆全经理作了主题发言,介绍了NI在2005年的发展状况和未来发展方向,并感谢各位老师对推动虚拟仪器技术在高校的应用所做的努力。随后,NI中国研发中心DSP部门张南雄经理就LabVI
[焦点新闻]
NI数据采集家族又添新成员 —— 独立NI CompactDAQ系统
新闻要点 • NI 发布了独立数据采集系统,能够与超过50种传感器I/O模块兼容,实现灵活的混合信号测量与数据记录,进一步拓展了NI CompactDAQ平台。 • 此独立NI CompactDAQ系统包含内置双核Intel处理器和板载存储,可在单一系统中实现便携式高性能处理任务。 • 使用NI LabVIEW系统设计软件,工程师可以自定义一个数据记录或嵌入式监控系统,在同一个环境中实现数据的采集、分析和显示。 • 新闻发布 - 2012年9月- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布最新的独立 NI CompactDAQ系统,它是一个高性能的嵌入式测量和数据记录平台,内置双核Intel
[测试测量]
<font color='red'>NI</font>数据采集家族又添新成员 —— 独立<font color='red'>NI</font> CompactDAQ系统
NI全新技术数据管理平台特性
 概览   为什么需要采集数据?为了验证产品的安全性?是否需要依据长期的变化趋势来做出有据可依的决定?也许,您正面临着挑战,正在进行测试并通过数据来寻找解决方案或决定下一步行动。这些测试生成的数据是非常有价值的。很多情况下,您只能进行一次测试-随着测试复杂度和频率的增加,测试的成本也随之增加。开发测试系统时,您需要回答几个问题:    您是否使用正确的文件格式来采集数据?    文件格式能否满足项目需求的变化?    您能否轻松地找到所需的数据?    您是否使用正确的工具来从原始数据中提取信息?   NI认识到在测试过程中存储、管理和解析数据所面临的挑战。技术数据管理(TDM)技术(包括用于数据存储的TDM数据流(TDM
[测试测量]
<font color='red'>NI</font>全新技术数据管理平台特性
打破传统半导体测试僵局的利器——NI STS 使用培训教程(1)
你们心心念的 NI STS使用培训教程来了 图1. NI 半导体测试系统内部架构 NI STS 具有统一的测试平台—— PXI 平台,可根据设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门轻松共用资料、以现有的半导体技术搭配最新功能,进而降低成本。此外,PXI 平台 开放式 与 模块化 的设计,使您可以获得更强大的计算能力及更丰富的仪器资源,进一步提升半导体测试效率。 NI不断在PXI平台上提供最顶尖的仪器技术来满足半导体产业的测试任务。在这样的平台下,在实验室和产线中内部构造基本一致。在实验室中使用到的高性能的仪器在产线中依然可以使用,并加入如分选机(Handler)/探针(Pr
[半导体设计/制造]
打破传统半导体测试僵局的利器——<font color='red'>NI</font> STS 使用培训教程(1)
NI LabVIEW新版工具包可缩短实时系统的设计周期
美国国家仪器公司(NI)近日发布了最新版的LabVIEW控制设计工具包(Control Design Toolkit),该软件是一个用于分析、设计和实现控制系统的工具与数学函数集合。作为NI LabVIEW图形化系统设计平台的组成部分,该控制设计工具包具有高性能、实时运行及高级Kalman滤波等功能,有助于工程和科研人员快速进行控制系统的设计及最终实现。该版本的工具包所具有的实时功能可使工程人员缩短开发时间,并利用Kalman滤波对某些无法直接测试的系统噪声进行评估和计算。 新版的LabVIEW控制设计工具包(Version 2.1)可计算分割I/O延迟,从而实现更加精确的模型和整体增强的闭环系统性能。该软件还无缝集成了LabV
[新品]
小广播
添点儿料...
无论热点新闻、行业分析、技术干货……
热门活动
换一批
更多
最新物联网文章
更多精选电路图
换一换 更多 相关热搜器件
更多每日新闻
随便看看
电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved