安立推出ShockLine™ 单端口 USB 矢量网络分析仪

最近跟业界一位同仁讨论了矢量网络分析仪的误差模型及校准过程，简单整理了一下，分享给大家，欢迎一起讨论。 矢网的误差模型确实不太好理解，一般只有研发矢网或者专攻测试技术的人员才会深入探究。使用矢网测试之前，都是需要作系统误差校准的，目的就是将测试装置本身引入的误差项修正掉，得到DUT真实的S参数。 系统误差校准可分为单端口和双端口系统误差校准，前者主要用于测试单端口器件的反射系数及其衍生参数，后者主要测试双端口器件的全S参数及其衍生参数。 单端口系统误差校准包括OSM(open/short/match，有时称为OSL——open/short/load)和归一化校准。OSM校准属于全单端口校准，可以修正全面的单端口测试涉及

大功率器件是射频和微波通信系统中常用的组成部分，手机、基站和卫星通信系统中都会用到大功率放大器，表征这些大功率器件的线性和非线性特性是产品设计和验证过程中非常关键的环节。 本文记述了在使用是德科技科技非线性矢量网络分析仪测量大功率器件时所遇到的一些独特的挑战。在这份资料中，我们所谓的“大功率”指的是在测量当中被测器件所能处理的功率超出了网络分析仪所能承受的最大功率的情况。 虽然这份应用笔记讲述的是表征大功率放大器的 X 参数的情况，但是其中所用到的技术和方法是适用于任何使用网络分析仪进行测量的场合的。这份资料集中讨论了对各种 50 欧姆被测器件(DUT) 进行的测量，没有涉及到为保证DUT 的稳定性而可能会需要的各种特殊的

矢量网络分析仪器是一种电磁波能量的测试设备。它既能测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值，又能测相位，矢量网络分析仪能用史密斯圆图显示测试数据。 矢量网络分析仪器 一种电磁波能量的测试设备。 矢量网络分析仪的原理与使用力直接取决于系统的动态范围指标。 相位波动参数的测试是利用矢量网络分析仪的电子延迟(Electrical Delay)功能来实现的。 直接观察插入相移通常不是很有用，这是因为器件的电长度相移相对于频率呈现负斜率(器件越长，斜率越大)。由于只有偏离线性相移才会引起失真，因此希望移去相位响应的线性部分。利用网络分析仪的电子延迟功能，能够抵消被测器件的电长度，结果得到与线性相移的偏差，即相位波动(失真)。

无论在研发还是在生产制造中，工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中，更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中，需要在保持精度和最大产出率的同时，缩短测试时间和降低测试成本。 减缓压力的方法之一是使用灵活的高度综合的测试解决方案――如Agilent N5242A PNA-X微波网络分析仪。由于PNA-X的先进体系结构，它不仅提供卓越的性能和精度，而且还能针对超越与网络分析仪相关的传统散射参数（S参数）的各种测量进行配置。一些内置组件（如第二个信号源和宽带合路器）能对射频和微波器件，尤其是放大器、混频器和变频器的非线性特性进行非常精确的表征，让您对这些器件的性能有更加全面的了解。 确保精确的系

一、.矢量网络分析仪是什么 矢量网络分析仪是一款高性能、大动态范围、低噪声的矢量网络分析仪。频率范围涵盖整个移动通信频段，全双端口S参数测量，测量精度高，测试稳定性好，测量速度快。 用途：可广泛应用于移动通信、军工、半导体、广播电视、科研教育等领域射频器件、组件的研发和生产测试。 高度的集成化、数字化和自动化再配合以高分辨率的频率合成器，使快速的测量和应用成为可能。可以将测量的结果通过仪器的多种输出配置和存储记忆系统打印成图表或与计算机连接组成自动的测试与管理系统，而操作者存储在仪器内部的测量波形可以随时调出以便进行对比测量 二、矢量网络分析仪的组成 矢量网络分析仪的组成 上图所示为典型的双端口矢量网络分析仪内部组

云计算，智能手机和LTE服务使网络流量显著的增加。为了支持这些增加的流量，IT设备，如那些用于数据中心的高端服务器的速度必须增加，这对信号完整性测试的工程师提出了挑战，因此需要更先进的测试仪器，例如矢量网络分析仪（VNA）,如下图1中所示。 成本/性能权衡 更高的数据传输速率引入新的设计挑战（如印刷电路板的导体趋肤效应和介电损耗），以及设计权衡相关的过孔，叠层，和连接器引脚。评估的背板材料的选择和各种结构的影响，需要在频域和时域进行精确的测量。精确的测量为成本/性能权衡决策提供了信心。其目的是通过眼图评估互连的影响。图2示出背板在眼图上的影响的一个例子。 有些问题是由于过孔，叠层和连接器引脚所引起的。然而，频域数据本

安立公司（Anritsu）于3月26日至29日在海南三亚成功举办了LTE<E-A 测试技术研讨会。本次会议邀请了众多业内同仁共同分享先进的测试技术，并与业内专家进行了广泛交流。 本次研讨会着重讨论LTE<E-A（FDD&TDD）的终端射频测试、协议测试、一致性测试、生产测试、产品周期各个环节的测试等技术，并包含现场演示。其中业内广泛关注的热点和难点技术TD-LTE/TDSCDMA iRAT, 、Dual-layer beam-forming、 ZUC、CSFB,、VoLTE、Throughput、 Power Consumption、 LTE-A、 multi RAT、 IPV6 等测试贯穿于会议的各个环节。 作为

50 年代后期，开始出现了对射频和微波频段的可靠的测量以及随之而来的有关可靠测量标准的要求。这便引入了用精确的同轴空气传输线作为阻抗的最基本的标准参考件 ， ;见图1 。这些传输线使用了具有极高导电性的金属来作为导体材料，使用空气作为电介质，这归因于空气在射频和微波频段内简单的和可预测的电磁特性（例如，磁导率和介电常数） 。这便保证了这些传输线的特性与理想传输线的特性是非常接近的 。 图1 一个具有不同长度的高精度参考同轴空气传输线的例子。 同样在50 年代末期和整个60 年代，人们做了大量的工作来开发高精度 同轴连接器 以保证在微波频段所进行的测量具有很好的重复性和可再现性 。为了集中精力进行这项工作，便成立了若干个委员会