LTE(Long Term Evolution,长期演进)是3G的演进,并被国际电联选定为第四代移动通信(4G)标准。摩尔实验室(MORLAB)在LTE测试领域有着一定的经验,我们也将分期将LTE测试技术介绍给大家。
对于LTE的物理层的多址方案,在下行方向上采用基于循环前缀的正交频分复用(OFDM),在上行方向上采用基于循环前缀的单载波频分多址(SC-FDMA)。为了支持成对的和不成对的频谱,支持频分双工(FDD)模式和时分双工(TDD)模式,目前国内所用的TD-SCDMA就是支持时分双工(TDD)模式的,在国外比如在美国就支持频分双工(FDD)模式。
就现实情况来说,目前大部分的应用还是频分双工(FDD)的模式,其在美国FCC认证中所适用的标准是FCC 47 CFR Part 27部分。在这一标准里规定了使用的band为LTE Band 4与LTE Band 17。具体的测试项目如下:
(表1)
如表1所示,LTE的测试项总共有八项,其中第四项测试PAR(Peak to Average Radio)为一项新的测试,其他的几项测试跟Part 22&24大同小异。
下图是Peak to Average Radio的解释结果。
图1
具体测试流程如下:
1,首先我门要再屏蔽室中搭建测试系统,所用到的测试设备包括了频谱仪、LTE测试系统、功分器(将功率衰减大的一端接到频谱仪器上)如图2。
2,连接MS(EUT),进入测试的时候我门要一定要注意被测MS的设置问题,另外我门要检查射频线、频谱仪接口是否连接完好。
3,选择频谱仪中frequency center选项设置中心频率,然后进入Measure设置信道带宽,也就是设置Span的宽度(一般大于产品的占用带宽)与射频线的补偿值。
4,然后进入频谱仪Power Star CCDF选项中,设置需要采样的个数(频率点采样数)。
5,频谱仪设置完后将MS与基站连接通信,将产品调节到最大发射功率,此时一定要记得LTE测试分别有这不同的RB(资源快)不同的调制方式,根据认证机构规定,几种情况的组合都必须测完。
6,在频谱仪中看到信号出来的时候进入Single选件,将波形定住,图1就是我们所需要的结果。
一般来说测量的次数在三次以上,然后截取图片保存,我们可以看见图1中0.1%的时候峰值与均值的比为4.19dBm,标FCC准规定PAR的0.1%功率比不能超过13dBm。
那么早期的频谱是没有Power Star CCDF的测试功能,是设置完一个频段取mark点的功率值,然后分别算出均值与峰值的数据作为比较。所以在测试的时候需要保存数据,就要选择新一代的频谱仪测试。
在这里我们只简单介绍了LTE(FDD)产品发射机传导方式部分的测试,如果想了解更多的测试信息可联系就近的摩尔实验室(MORLAB)。
关键字:LTE测试 PAR
引用地址:LTE测试中的PAR(Peak to Average Radio)要求详解
对于LTE的物理层的多址方案,在下行方向上采用基于循环前缀的正交频分复用(OFDM),在上行方向上采用基于循环前缀的单载波频分多址(SC-FDMA)。为了支持成对的和不成对的频谱,支持频分双工(FDD)模式和时分双工(TDD)模式,目前国内所用的TD-SCDMA就是支持时分双工(TDD)模式的,在国外比如在美国就支持频分双工(FDD)模式。
就现实情况来说,目前大部分的应用还是频分双工(FDD)的模式,其在美国FCC认证中所适用的标准是FCC 47 CFR Part 27部分。在这一标准里规定了使用的band为LTE Band 4与LTE Band 17。具体的测试项目如下:
No. | Section | Description |
1 | 2.1046 | Transmitter Conducted Output Power |
2 | 2.1049、27.53(g) | Occupied Bandwidth |
3 | 2.1055、27.54 | Frequency Stability |
4 | 27.50(d) (5) | Peak to Average Radio |
5 | 2.1051、27.53(g) | Conducted Spurious Emissions |
6 | 27.53(g)(h) | Band Edge |
7 | 2.1046、27.50 (d)(4) | Equivalent Isotropic Radiated Power |
8 | 2.1053、27.53(g) | Radiated Spurious Emissions |
(表1)
如表1所示,LTE的测试项总共有八项,其中第四项测试PAR(Peak to Average Radio)为一项新的测试,其他的几项测试跟Part 22&24大同小异。
下图是Peak to Average Radio的解释结果。
图1
具体测试流程如下:
1,首先我门要再屏蔽室中搭建测试系统,所用到的测试设备包括了频谱仪、LTE测试系统、功分器(将功率衰减大的一端接到频谱仪器上)如图2。
2,连接MS(EUT),进入测试的时候我门要一定要注意被测MS的设置问题,另外我门要检查射频线、频谱仪接口是否连接完好。
3,选择频谱仪中frequency center选项设置中心频率,然后进入Measure设置信道带宽,也就是设置Span的宽度(一般大于产品的占用带宽)与射频线的补偿值。
4,然后进入频谱仪Power Star CCDF选项中,设置需要采样的个数(频率点采样数)。
5,频谱仪设置完后将MS与基站连接通信,将产品调节到最大发射功率,此时一定要记得LTE测试分别有这不同的RB(资源快)不同的调制方式,根据认证机构规定,几种情况的组合都必须测完。
6,在频谱仪中看到信号出来的时候进入Single选件,将波形定住,图1就是我们所需要的结果。
一般来说测量的次数在三次以上,然后截取图片保存,我们可以看见图1中0.1%的时候峰值与均值的比为4.19dBm,标FCC准规定PAR的0.1%功率比不能超过13dBm。
那么早期的频谱是没有Power Star CCDF的测试功能,是设置完一个频段取mark点的功率值,然后分别算出均值与峰值的数据作为比较。所以在测试的时候需要保存数据,就要选择新一代的频谱仪测试。
在这里我们只简单介绍了LTE(FDD)产品发射机传导方式部分的测试,如果想了解更多的测试信息可联系就近的摩尔实验室(MORLAB)。
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