安捷伦E8363A网络分析仪维修开机异常故障案例

Agilent Keysight N5173B射频发生器 N5173B 是 Agilent Keysight HP 的 40 GHz 射频发生器。 特征 平衡预算和性能以解决微波元件和接收器的参数测试 为微波回程链路执行 LO 上变频或为接收机测试执行 CW 阻塞 通过 600 μs 频率切换最大限度地提高测试吞吐量 通过输出功率、低谐波和全步衰减的最佳组合表征微波滤波器和放大器 用作高稳定性系统参考：标准高性能 OCXO 的老化率为 5x10-10 件/天 规格 内部时基参考振荡器老化率：1 ± 1 x 10^-7/年 2，30 天后 ± 5 x 10^-10/天 初始可达到的校准精度：± 4 x 10^-8 或

随着半导体工艺的不断发展，数字信号的速率也愈来愈高，Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域，硬件设计工程师们需要改 变传统的设计理念，他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量，或许在制定产品设计方案的时候就需要进行调研；需要在设计过程的每一个环节 去思考信号质量问题，如方案设计环节，原理图设计环节，PCB设计环节，测试验证环节等等；需要考虑到系统中的每一个构成成分可能给信号质量带来的影响， 如过孔，电容，电感，阻抗，接插件等等；所有高速设计相关的问题也常被统称为信号完整性(即SI，Signal Integrity)问题，SI是当前硬件设计工程师们的一个最热门的话题之一。和SI相关的两个最为重要的工作是

Agilent N6030A :业内最高性能的任意波形发生器 Agilent N6030A是一种宽带任意波形发生器(AWG)，能够为雷达，卫星和对频率敏感的通信系统生成高分辨率的波形。 3U PXI 模块N6030A的每个通道能够以1.25 GS/s的速度产生数据，垂直分辨率达到15位，这已经是业内在这一采样速率下的最高分辨率。 每个模块都整合了两个高速DAC，使得信号带宽达到500 MHz，每个通道的SFDR小于-65 dBc，这一指标也是业内领先的。

2011 年 10月 10 日，北京――安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出业界首款用于发射机验证的 MIPI M-PHY 一致性测试软件包。 Agilent U7249A 软件在 Infiniium 90000 系列示波器上运行，可执行广泛的测试以满足 MIPI 联盟的 M-PHY 规范 v1.00 和 M-PHY 一致性测试套件 v0.65 的物理层需求。该软件支持M-PHY最高速率到5.8Gbps，能够帮助研发设计团队启动、调试和验证 M-PHY 设备。 安捷伦 MIPI 项目经理 Roland Scherzinger 说：“在 M-PHY 设计的早期开发阶段，我们就与客户展开了合作，从而能够率先提供 MIPI M

矢量网络分析仪是用途极广的一类仪器，它们可以表征 S 参数、匹配复数阻抗、以及进行时域测量等，也是电子工程师们常用的仪器之一，今天安泰测试就为大家解读一下矢量网络分析仪的关键技术指标，并为大家介绍几个热门的品牌，是安泰测试在帮助客户选型时客户比较认可的牌子，希望给正在选型的工程师一个参考。 1、最大频率 VNA 的最大频率是指其能够测量的最高频率。网络分析仪的接收端带有模数转换器（ADC），它可将输入信号转换为数字格式。然后，即可对这些信号进行分析和显示。但是 ADC 不具备在射频范围转换信号的能力，因此入射信号必须下变频到它的工作频率。这个工作频率称为中频（IF）。 2、动态范围 动态范围是指能够测量元器件响应的功率范围

　　安捷伦科技公司(NYSE：A)日前宣布推出两款新的手持式工具：U5855A TrueIR 热像仪和U1450A/60A 系列绝缘电阻表(五款型号)。U5855A TrueIR 热像仪凭借独特的精细分辨率功能提供清晰锐利的热成像图;U1450A/60A 系列绝缘电阻表则可提供无线测试和测试报告生成功能。 　　U5855A TrueIR 热像仪适用于预测性维护，帮助工程师安全高效地确定潜在故障，同时不影响系统或工厂的正常运行。U5855A 配有精细分辨率功能，能够根据多个连续捕获的红外画面重建热成像图，增强成像质量。U5855A 检测器分辨率为 160 x 120 像素，借助精细分辨率功能，能够获得高达 320 x 240 像素

一、仪器型号 安捷伦网络分析仪E8362C 二、故障现象： 开机无法正常进入测试界面停留在win桌面 三、拆机维修详解： 检测过程： 仪器通电开机后停留在win桌面，检查发现网分程序、校准文件都没有。 接下来首先，备份原始系统。然后采取恢复系统措施仪器提示Phaselock lost。 因为重装系统后仪器依然无法正常开机显示，接下来就拆机检测排查内部是否有烧毁部件。经拆机检测发现，仪器开关部件损坏，内部组件烧损，起泡，造成端口1输出功率低，初步判断开关坏。 维修措施： 发现目前的故障问题后采取换件维修措施：更换开关损坏微组件，整机调整仪器参数，开机测试仍然未通过。因为仪器内部烧损严重，更换微组件后依然不能解决问题。因为

目前，研发和生产经理以及工程师们正面临着许多严峻的挑战，而且每个团体也有着自身独特的需求。例如在生产阶段，工程师需要缩短测试时间，同时提高吞吐率和产量。此时最重要的就是速度。而在研发阶段，最关键的则是能否更迅速地解决设计问题并减少重复作业。因此，在整个产品开发周期中，测试仪表的易用性至关重要。问题是这些“需求”与现有的测试和测量解决方案不太一致—特别是考虑到目前往往需要使用多种测试设备，才能正确表征元件。当元件位于晶圆之上时，表征甚至会更复杂。在这种情况下，用户绝不是只需把线缆简单地连接起来，就能进行正确测量。 随着加快研发进度、提高生产吞吐率、降低成本等要求给工程师带来的压力越来越大，对灵活、综合的测试和测量解决方案的需求也水