用数字万用表测试电容好坏的步骤

本文的目录结构如下： 1、STM32F407 的时钟来源 1.1、HSI 时钟 1.2、HSE 时钟 1.3、主 PLL 时钟 2、时钟树 3、配置系统时钟 3.1、系统时钟有关寄存器 3.2、使用系统的默认配置 3.3、系统时钟配置所用到的相关宏定义 3.4、SystemInit( )函数 3.5、SetSysClock( )函数 3.6、自行配置时钟 对于STM32这款单片机，现在是越来越多的人熟悉和使用它了。在很多的项目和产品中都有它的身影，以及现在很多的大学课程都是用STM32开展教学了，已经是应用很广泛了。 想当初我在大学的时候，上课教的还是51单片机，而且还是老师照着课本念的。当时做的第一个单片机产品还是用51单片机做

数 字万用表 采用先进的数显技术，显示清晰直观、读书准确。它既能保证了读数的客观性，又符合人们的读数习惯，能够缩短读数或记录时间。这些优点是传统的模拟式（即指针式）万用表所不具备的。 准确度（精度）：数字万用表的准确度是测量结果中系统误差与随机误差的综合。它表示测量值与真值的一致程度，也反映测量误差的大小。一般讲准确度愈高，测量误差就愈小，反之亦然。数字万用表的准确度远优于模拟指针万用表。万用表的准确度是一个很重要的指标，它反映万用表的质量和工艺能力，准确度差的万用表很难表达出真实的值，容易引起测量上的误判。 分辨力（分辨率）：数字万用表在最低电压量程上末位1个字所对应的电压值，称作分辨力，它反映出仪表灵敏度

stm32编程方式： （1）ICP（JTAG/SWD协议或者系统加载bootloader（串口））下载程序到微控制器中。 （2）IAP:就是通过任何一个通信接口（IO端口，USB，CAN,SPI,IIC等），下载程序或数据到存储器中，stm32允许用户在应用程序中重新烧写闪存存储器的内容。然而,IAP需要至少一部分程序（bootloder，注意此bootloader不同于上部分的，是自己编写的。上部分的是系统的）通过ICP的方式烧到闪存存储器中。 stm32闪存包含3部分： （1）主存储器， （2）信息块(启动程序代码，用户选择字)， （3）闪存寄存器接口寄存器。 通常说的闪存大小就是主存储器的大小。stm32启动方式，B0=0，

热敏电阻器对环境温度十分敏感，通常是在特定温度条件下用专用设备和仪器进行测量的。在业余条件下，我们也可以用进行测量，今天小编就给大家讲讲万用表检测热敏电阻器方法，具体的操作方法分为5个步骤，请往下看： 1.在测量的将万用表欧姆档调至“0” 是正温度系数热敏电阻器的标称值较小，通常只有几欧姆到几百欧姆，因此，在测量前应该对所使用的万用表欧姆档调至“0”位置。 2.常温下测量电阻值（如下图） 将校0欧姆有的万用表置于合适的电阻档，用两个表笔接触热敏电阻器的两个引脚，则表头指示的阻值即为被测电阻常温下的阻值。 注意：由于热敏电阻器的标称阻值是在25℃下使用准用仪器测量得出的。所以上图测得的电阻阻值与被测电阻的标称值可能存在较大的

直流电流的测量。先将黑表笔插入 COM 孔。若测量大于200mA的电流，则要将红表笔插入 10A 插孔并将旋钮打到直流 10A 档;若测量小于200mA的电流，则将红表笔插入 200mA 插孔，将旋钮打到直流200mA以内的合适量程。 调整好后，就可以测量了。将万用表串进电路中，保持稳定，即可读数。若显示为 1. ，那么就要加大量程;如果在数值左边出现 - ，则表明电流从黑表笔流进万用表。交流电流的测量。 测量方法与1相同，不过档位应该打到交流档位，电流测量完毕后应将红笔插回 V 孔，若忘记这一步而直接测电压，电流表会报废。

PT740-3A 测量DC或AC电流时，被测量对象无需打开电路。电流钳可以匹配万用表，示波器使用。 电流钳能测量高达1400A 的DC电流和高达980Arms的AC电流(1400A 的峰值)。它是非常专业的AC/DC电流钳!PT740-3A有两个档位，档位10mV/A和1mV/A。设置了归零按钮，具有自动关机功能以达到节能的效果。 操作步骤： 1、连接 设置滑动开关⑦到适当的位置，档位 10mV/A 或档位 1mV/A。亮绿灯⑥表示操作正确且电池处于良好状态。钳住测量物体约 10 分钟而没有操纵控制按钮，电源将自动切断(参考“自动关机”下面)。 注意!电池 6.4V，绿灯闪烁，需更换电池。 2、DC归零调整 确保钳口闭合，

笔者总结出一种利用DT890数字万用表检查晶体的方法，现介绍如下： 首先将万用表置20MΩ电阻档，按常规方法检查晶体看其有无漏电短路，然后将DT890数字万用表置CAP：2000PF档，将被测晶体插于Cx测试孔。 ①．若测得晶体的匣体电容Co比正常值小许多，甚至为0pF，说明被测晶体引极内部断路或晶片出现碎裂(若测得匣体电容Co偏离正常值，说明被测晶体内部可能发生变化)。 ②．若测得其电容值为溢出“1”，说明晶体漏电或短路。 ③．若测得电容值不稳定，说明晶体引极接触不良或品片松动脱落。 实例： DT890数字万用表置CAP：2000pF档 ①． DRU晶体1000KHz实测匣体电容Co为2p

AT680A 是采用高性能微处理器控制的超级电容漏电流测试仪。数控测试电压：1.000V~10.000V，最大充电电流2A，4量程测试，使漏电流准确度提高到1%，它可以测试0.001μA~200mA的电流，最大显示位数9999数。测试速度可达55次/秒，依然保证1999读数和5%的准确度，超高速测试为自动化生产提供了最佳方案。 仪器拥有分选功能，分选讯响设置，还可配备Handler接口，应用于自动分选系统完成全自动流水线测试。 通过内置的RS232C接口，可以用于远程控制和数据采集与分析。 计算机远程控制指令兼容SCPI（Standard Command for Programmable Instrument可程控仪器标准