半导体数字测试使用虹科多位点数字测试系统要求

发布者:乐呵的挑最新更新时间:2023-04-13 来源: elecfans关键字:数字测试系统 手机看文章 扫描二维码
随时随地手机看文章

引言

半导体数字测试,特别是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件转换而成的数字测试程序,往往需要扩展到多个DUT测试位点。本文讨论了使用GtDio6x产品线和ATEasy进行多位点测试的系统硬件和软件需求,以提供一个成本有效的解决方案。


数字设备设计注意事项

在设计多位点测试程序时,设计者可能无法完全明确成本和性能之间的取舍。在评估GX5296或GX5964系列动态数字仪器的性能和能力后,可以合理地推断单个GtDio6x板卡的大量通道应该能够支持多位点数字测试解决方案。虽然这种解决方案是可能的,但它并不能构建一个性能能满足每个DUT测试位点都使用数字资源或板卡的测试系统。


基于逐个位点的多数字域的解决方案

Marvin Test Solutions公司建议设计基于每个位点的多数字域的多位点测试系统,以便每个DUT测试位点使用自己的数字资源,如图1所示。该解决方案提供了最快的多位点测试性能,因为每个DUT测试位点可以独立运行。

27216d92-fb6a-11eb-9bcf-12bb97331649.png

图1 -多域解决方案框图

使用这种配置方法,每个DUT测试位点都可以使用所有的数字资源。通过读取实时比较(RTC)错误状态寄存器,可以立即识别每个DUT测试位点的测试状态。此外,系统可以设计成每个DUT测试位点使用相同的数字测试文件和测试程序。通过增加额外的数字领域,DUT测试位点可以很容易地扩展。使用ATEasy也可以轻松创建一个多线程测试程序来执行此测试。


表1 -多域解决方案的相对优点


多数字域解决方案
优点缺点
测试程序通用初始成本高
易于编程PXI插槽需求多
快速的测试速度


基于单一数字域的解决方案

如图2所示,使用单个数字域设计的多位点数字测试系统有几个缺点。首先,每个测试位点不能再使用相同的数字文件。单一数字域的多位点数字测试解决方案需要一个独立的应用程序从原始数字文件创建额外的测试位点。这个额外的应用程序需要将原始通道和矢量数据复制到所有新的DUT测试位点。

2741ecc0-fb6a-11eb-9bcf-12bb97331649.png

图2 -单一域解决方案框图

尽管仅读取和评估记录存储器就可以确定所有DUT位点的状态,但由于大多数数字测试的大小都非常大,这种方法并不实用,因为它会消耗太多的测试时间。 RTC错误地址内存包含高达1K的失败向量地址,可以读取每个地址的记录内存来确定失败的DUT位点。由于每个测试入口都表示一个失败的位置,所以不会浪费时间从记录内存中读取大量部分来确定测试失败。除非失效次数小于1k或以上所述所有DUT均已失效,否则无法确定所有DUT的状态。在这种情况下,测试程序必须禁用失败的测试位点,并重新运行数字测试,直到所有DUT测试位点的状态已知。GtDio6x系列数字仪器提供了一种在检测到故障时中止测试序列的方法;当出现故障时,该特性可以节省测试时间。 表2 -单域解决方案的相对优点


单一数字域解决方案
优点缺点
初始成本低需要添加新的数字文件
仅需单一PXI插槽针对发现失效DUT需要复杂的测试程序

当DUT失效,测试时间长


方案比较

以下是两种方案的比较:


单一域解决方案多域解决方案
需要编程创建数字测试文件自动生成数字测试文件
PXI槽位和单板数量少更多的PXI槽位和数字板卡
硬件成本低硬件成本高
部署速度慢部署速度快
需要复杂的编程来找到故障的DUT更快速的DUT故障诊断方法
测试成品率更低测试成品率更高


总结

除非半导体测试系统的空间(PXI插槽)十分宝贵,否则多位点测试系统在设计时还是应该为每个DUT测试位点提供一个数字域。虽然硬件的前期成本会很高,但这会在后期测试过程中带来巨大的回报。这保证了尽可能快的测试时间并简化了测试编程,在多位点数字测试系统的设计中,这些功能是至关重要的。


关键字:数字测试系统 引用地址:半导体数字测试使用虹科多位点数字测试系统要求

上一篇:静压投入式液位计在污水池液位测量中的应用
下一篇:虹科HK-DAT90L数字可编程衰减器助力蜂窝设备测试

推荐阅读最新更新时间:2024-10-14 08:37

新型雷达数字电路便携式自动测试系统设计
摘要: 以新型雷达装备数字电路维修保障为背景,提出了“MERGE(组合)”边界扫描测试模型的建立方法,基于此方法,设计了完善的便携式数字电路自动测试系统,解决了ICT 测试、功能测试及传统边界扫描测试TPS 开发成本高,技术难度大,故障覆盖率低的缺陷。该测试系统现已成功担负新型雷达装备数字电路的维修保障任务,应用表明,系统具有设计合理,性能稳定、可靠,故障隔离准确等优点。 引言   雷达,作为一种重要的军事武器装备,在军事上将其形象的比喻成作战指挥员的“眼睛”,在维护国家安全及领土完整中发挥着举足轻重的作用。但随着数字电路设计及制造技术的发展,特别是CAD 设计软件的进步及完善,单一的测试方法如ICT(In-Circuit T
[安防电子]
新型雷达<font color='red'>数字</font>电路便携式自动<font color='red'>测试系统</font>设计
自动测试系统中的波形数字化器
功能完整的数字电子示波器 电子示波器是实验室、工厂和现场的工程人员广泛使用的仪器,事实上电子示波器也是通过电子测试测量仪器类中,销量最大和销售金额最高的产品。在30年代末至40年代初,受电视广播和雷达测距迅速发展的市场驱动,模拟电子示波器基本定型,划分为垂直放大、横向扫描、触发同步和示波管(CRT)显示的四大部分。模拟电子示波器的实时带宽在70年代达到1000MHz的高峰,随着数字技术和集成电路的出现,以真空管和宽带放大电路为主导的模拟电子示波器,从80年代开始逐步由数字电子示波器所取代。随着信息技术和数字通信市场的爆炸性发展,在90年代后斯数字电子示波器的实时带宽已超过1GHz。进入二十一世纪2010年代,数字电子示波
[测试测量]
自动<font color='red'>测试系统</font>中的波形<font color='red'>数字</font>化器
小广播
最新测试测量文章
换一换 更多 相关热搜器件

 
EEWorld订阅号

 
EEWorld服务号

 
汽车开发圈

电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved