设备测试
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9 月 3 日消息,据韩媒 The Elec 昨日报道,三星正对 Tokyo Electron (TEL) 的 Acrevia GCB 气体团簇光束(IT之家注:Gas Cluster Beam)系统进行测试。 TEL 的 Acrevia GCB 系统发布于今年 7 月 8 日,可通过气体团簇光束对 EUV 光刻图案进行局部精确整形,从而修复图案缺陷、降低图案粗糙度。 业内...
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在2024世界移动通信大会·上海,罗德与施瓦茨(以下简称“R&S”)和紫光展锐(UNISOC)合作展示基于最新3GPP Release 17规范的5G非地面网络(NTN)新空口(NR)连接。 这一技术使用最先进的 R&S CMX500 一体式信令测试仪 (OBT) 和紫光展锐的 NR NTN设备作为被测器件(DUT)。 图:移动设备直连卫星通信业务场景 5G NR N...
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动力电池系统作为硬件本体和控制系统结合极为紧密的系统,其测试大致可以划分为两大部分:电池包本体(Pack)测试、电池管理系统(BMS)测试。下面分别介绍这两部分的测试情况: 电池包本体(Pack)测试 电池包本体测试一般在DV/PV(设计验证/生产验证)阶段进行,目的是为了验证电池包的设计/生产是否符合设计要求。其中包含温度测试、机械测试、外部环境模拟测试、低压电气测试、电...
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随着轻型电动车日益成为绿色出行新选择,城市交通越来越多地采用共享轻型电动车服务,专用充电站和充电设施的发展也将越来越快。随之而来的,对于轻型电动车充电站和设备的安全性、性能及耐用性的考量也变得越来越重要。 公众区域的轻型电动车(电动自行车、滑板车等)充电设施,是否符合相关的安全标准是至关重要的。 许多轻型电动车的充电基础设施包括售货亭、充电接口、内置充电电路和电池管理系统...
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5 月 7 日消息,据韩媒 The Elec 报道,SK 海力士正向东京电子(TEL)发送测试晶圆,以测试后者的低温蚀刻设备,有望在未来 NAND 闪存生产中导入。 目前,提升堆叠层数是提升单颗 3D NAND 闪存颗粒容量的主要途径。然而在层数提升的过程中,在闪存颗粒中蚀刻垂直通道的难度随着深宽比的增高逐渐加大,速度也随之降低。 厂商不得不考虑将整体 NAND 闪存分割为多个...
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欧洲航天局利用MVG设备大幅增强新型 Hertz 2.0 测试设施灵活性 天线测量解决方案领导者Microwave Vision Group(MVG)近日宣布与欧洲航天局 (ESA) 签订两份合同, 位于荷兰的欧洲航天研究和技术中心 (European Space Research and Technology Centre, ESTEC)将通过MVG天线测量技术为其新型改...
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汽车天窗安装于车顶,能够有效地使车内空气流通,增加新鲜空气的进入,同时汽车天窗也可以开阔视野等需求。在国内市场尤其受消费者喜欢。 汽车天窗可大致分为:外滑式、内藏式、内藏外翻式、全景式和窗帘式等。主要安装于商用SUV、轿车等车型上。 作为汽车重要的外饰件,天窗需要满足严酷的试验,其中一项就是模拟雨天的各种工况。 无锡艾科特试验设备有限公司已经为多家公司定制汽车天窗淋...
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美国经济分析局的最新报告显示,2020年是疫情以来企业设备投资降幅最大的一年,年降幅为7.3%。这意味着什么?为什么会发生这种情况? 从本质上讲,企业减少了在库存和设备上的支出,以节省资本并减少债务,以对冲挑战时期的风险。与此形成对比的是,过去几年,企业利用低利率和巨额现金储备用于库存中心、技术升级和资本设备。 《华尔街日报》预计,随着企业减少资本支出以抵消价格上...
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— 降低 插入损耗,改善高频信号传输特性 — 中国上海, 2023 年 10 月 1 7 日 ——东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)今日宣布,推出采用小巧纤薄的WSON4封装的光继电器“ TLP3475W ”。它可以降低高频信号中的插入损耗,并抑制功率衰减 ,适用于使用大量继电器且需要实现高速信号传输的半导体测试设备的引脚电子器件。该产品于近日开始支持批量...
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动力蓄电池被行业内称为汽车的“心脏”,不仅影响到整车性能、安全、续航等重要指标,更是体现一台车可靠性、稳定性、耐久性背后的核心零部件之一。动力电池安全性能检测其中包括:过充、过放、短路、挤压、模拟碰撞、温度、振动、火烧、密封、挤压等,这些检测的目的一方面是提升汽车的安全性和可靠性,另一方面也是为了延长其使用寿命。涉及到电池安全性检测设备包括电池高低温防爆、跌落试验台、针刺试验机...
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中国北京,2023年7月14日 —— 第三届中国集成电路设计创新应用大会(ICDIA 2023)于2023年7月13-14日在无锡举行。 作为全球领先的测试和技术解决方案供应商,益莱储再次参展此次盛会,展位号B1-A15,与业界代表进行了深入交流。 ICDIA 2023大会以“应用引领集成电路产业高质量发展”为主题,围绕 EDA/IP与IC设计创 新、RISC-V 与...
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由中央军委装备发展部支持,中国电子科技集团有限公司、中国电子信息产业集团有限公司联合主办的第十二届中国国际国防电子展览会,在北京国家会议中心成功举办。 一直以来高端的科研仪器是我国科技创新与发展的重要设备,近些年我们自己测试测量仪器也取得了飞速的发展,借着第12届国防电子展的机会,由北京开源聚合广告有公司组织的测控技术与精密制造联合展区,集合了多家国产测试测量仪器厂商一起展...
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便携式技术的发展使人们越来越依赖蜂窝电话、PDA和导航系统这类便携式装置。随着处理器技术的不断进步,过去几年中大容量存储器件的设计和开发呈指数级增长。例如,从苹果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano产品,重新设计的关键部件不是速度更快的处理器,而是采用闪存取代了硬盘。这些装置的可靠性取决于存储器的正确设计和测试。 在开发和测试存储器件方面,工程师面临着许多...
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故障监测系统的方案设计 对于测试设备和某控制系统,它们之间由电缆相连,测试设备向控制系统发出控制信号、发送数据及接收控制系统返回的状态信号均通过电缆传输,因此,综合测试设备和控制系统在各测试步骤中的工作状态均在这些电缆中有所反映。为此,本文提出了如图1所示的总体设计方案。 在设备连接关系上,故障监测诊断系统通过信号转接箱与控制系统以及综合测试设备相连,当测试设备对控制系统进...
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美国佐治亚理工学院、密歇根大学和德国波鸿鲁尔大学联合团队报告了一种新形式的侧信道攻击,该攻击利用了图形处理单元和片上系统(SoC)使用的功率和速度管理方法,通过定位大多数现代芯片上的动态电压和频率缩放(DVFS)机制释放的数据,研究团队展示了他们是如何窃取个人信息的。 随着制造商竞相开发更薄、更节能的设备,他们必须平衡功耗、发热和处理速度。但研究人员近日在预印本服务器arX...
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对于最新的802.11ac标准,制造工程师们正面临越来越大的复杂性,这反过来又促使他们对测试策略进行不断的创新,以满足这些新近出现的要求。首先,也是最重要的一点是,在5GHz频段内以更高的带宽和调制阶数进行设备测试就意味着为工厂购买新的设备。但是,采用当今最新技术的设备还需要为传统的技术标准(802.11a/b/g/n)执行后向兼容测试,这就使问题变得更为复杂。考虑到这种趋势,...
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发动机测试测试项目和常用设备 发动机测试需要测试的项目很多,如扭矩 ( 力 ) 、转速、压力、温度、流量、流速、噪声、位置和位移等,涉及的测试技术、测试设备和测试方法也多种多样。 发动机测试分为性能试验和专项试验,性能试验包括动力性、经济性、可靠性和耐久性等,专项试验是为特定目的进行的试验,如热冲击试验、排放试验、温度场试验、热平衡试验等。 衡量发动机动力性和经济性的指...
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普赛斯仪表PL系列窄脉冲电流源可应用于VCSEL及其它需要窄脉冲激励的测试场景。 PL系列设备有两个通道: ①、恒流脉冲激励源,并能同步测量待测器件的两端电压; ②、脉冲电流测量通道,特别适用于采用外置PD的方式测量脉冲光功率; PL系列设备能输出以下几种波形:波形的幅度、步进值、脉冲个数等均可程控。 ①、直流恒流; ②、直流扫描电流; ③、脉冲直流电流; ④、脉冲扫描电流...
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中国上海,2023年5月25日—— 东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)今日宣布,推出采用S-VSON4T封装的光继电器——“TLP3476S”,其导通时间与东芝当前产品TLP3475S相比缩短了一半 。该产品于今日开始支持批量出货。 与东芝当前的产品TLP3475S相比,TLP3476S运行速度更快、结构更紧凑。该产品通过提高红外LED的光输出并优化光电探测器...
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蜂窝网络 很多人都听说过蜂窝网络,打开你的手机,你就能看到蜂窝网络的设置选项,开启蜂窝数据就能使用你的4G/5G流量,那么蜂窝网络具体是什么呢? 蜂窝网络,又称为移动网络,它属于一种移动通信硬件架构,分为模拟蜂窝网络和数字蜂窝网络两种。它是由于构成网络覆盖的各通信基地台的信号覆盖呈六边形,从而使整个网络像一个蜂窝一样而得名。 最早在1947年,由美国的贝尔实验室提出了蜂...
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USB HID设备 以官方的Demo,HID为例进行USB开发的体验。...
作者:qinyunti回复:0
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本次测试主要是测试板子作为HID设备,具体的就是用来模拟标准的鼠标。这个例子比较容易实现,主要是模拟鼠标不需要写windows驱动程序。...
作者:bigbat回复:4
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本次测试的是SPI通讯使用的是OLED屏,内置的是SSD1306芯片,这个芯片可以使用SPI和I2C接口。...
作者:bigbat回复:2
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IT6400系列双极性可编程 直流电源 具备电池模拟功能,适用于电池供电的 智能 硬件设备的测试。...
作者:fish001回复:0
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是德科技智能可穿戴设备测试方案...
作者:lemonade815回复:0
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是德科技智能可穿戴设备测试方案...
作者:lemonade815回复:0
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通信设备领先厂商UT斯达康公司近日为美国高通公司提供基于IP无线软交换技术的MovingMedia 2000产品,用于高通公司在美国联合航空公司商用飞机上所进行的机舱内的移动通信试验。 ...
作者:JasonYoo回复:0
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智能IC卡测试设备的技术原理和应用场景,可以从以下几个方面进行阐述: 技术原理 智能IC卡测试设备的技术原理主要围绕IC卡的通信和数据处理机制展开。...
作者:维立信测试仪器回复:0
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如题,小白初学汽车CAN总线,需要什么样的硬件条件,有低成本、个人能承担的测试设备推荐吗? 小白初学汽车CAN总线,需要什么样的硬件条件,有低成本的测试设备推荐吗?...
作者:JFET回复:13
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你们公司有哪些设备? 示波器应该是S人掠货必备的基础装备了吧,相信各家公司都有,价格高低另说。再差的测个几百K的信号应该也都凑合。...
作者:黑屋白巫回复:6
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按照教程再来学习下字符设备驱动程序的开发,通过基础例程来学习下驱动框架。...
作者:TL-LED回复:0
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## 雅特力车规级MCU-AT32A403A开发板评测 14 ADC外设测试案例 RT-Thread ADC设备驱动测试 ### 1. 软硬件平台 1....
作者:みずじ回复:1
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设备使用场景是在电厂或电站都有很多各种各样的设备,当设备出现故障或正常设备检修时需要对现场的设备进行状态检测,就会使用检测设备接到现场设备上进行数据采集和分析,当时测试接口以RS485和RS232居多,...
作者:A峰A回复:2
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背靠国家政策及自身科研硬实力,Easygo半实物仿真事业部深耕于FPGA实时仿真器、硬件在环((HIL)测试设备和快速控制原型(RCP)系统开发领域,历经数年产品已完成多次升级,助力电力电子科研领域高速发展...
作者:smls_小森回复:1
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这篇来测试下【BIGTREETECH PI开发板】板卡上的音频设备输出测试。 一、硬件连接 1.1、硬件连接 连接了耳机和网线。...
作者:TL-LED回复:1
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工厂对更高效测试能力的需求不断增加 半导体制造商正在对自动测试设备(ATE)公司提出更高的要求,要求他们能够快速可靠地设计出满足不断增长的 IC 需求的测试系统,并且尽可能少地增加成本。...
作者:eric_wang回复:0
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工厂对更高效测试能力的需求不断增加 半导体制造商正在对自动测试设备(ATE)公司提出更高的要求,要求他们能够快速可靠地设计出满足不断增长的 IC 需求的测试系统,并且尽可能少地增加成本。...
作者:eric_wang回复:0
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半导体制造商正在对自动测试设备(ATE)公司提出更高的要求,要求他们能够快速可靠地设计出满足不断增长的 IC 需求的测试系统,并且尽可能少地增加成本。...
作者:eric_wang回复:2
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工厂对更高效测试能力的需求不断增加 半导体制造商正在对自动测试设备(ATE)公司提出更高的要求,要求他们能够快速可靠地设计出满足不断增长的 IC 需求的测试系统,并且尽可能少地增加成本...
作者:eric_wang回复:0
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工厂对更高效测试能力的需求不断增加 半导体制造商正在对自动测试设备(ATE)公司提出更高的要求,要求他们能够快速可靠地设计出满足不断增长的 IC 需求的测试系统,并且尽可能少地增加成本。...
作者:eric_wang回复:0
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6.3.1 连接模拟输入信号 6.3.2 模拟信号测量系统的类型和信号源 6.3.3 连接模拟输出信号 6.3.4 采样相关注意事项 6.4 数字信号测量 6.5 信号调理 6.6 数据采集设备...
课时1:LabVIEW概述. 课时2:LabVIEW编程环境 课时3:编程准备知识2.2.1(上) 课时4:编程准备知识2.2.1(下) 课时5:前面板实操训练 课时6:程序框图的连线 课时7:接线端的显示方式 课时8:程序框图的节点 课时9:使用函数选板 课时10:使用函数 课时11:程序框图实操训练 课时12:数据类型3.1.1(上) 课时13:数据类型3.1.1(中) 课时14:数据类型3.1.1(下) 课时15:数值型数据—浮点数 课时16:数值型数据—定点数 课时17:数值型数据—整形数 课时18:数值型数据—无符号整形数 课时19:数值型数据—复数 课时20:布尔型数据 课时21:字符串型数据(上) 课时22:字符串型数据(中) 课时23:字符串型数据(下) 课时24:数据常量 课时25:数组(上) 课时26:数组(中) 课时27:数组(下) 课时28:簇(上) 课时29:簇(下) 课时30:在程序框图中使用结构(上) 课时31:在程序框图中使用结构(下) 课时32:For循环(上) 课时33:For循环(下) 课时34:While循环(上) 课时35:While循环(中) 课时36:While循环(下) 课时37:移位寄存器 课时38:移位寄存器与反馈节点之间的替换操作 课时39:条件结构(上) 课时40:条件结构(下) 课时41:顺序结构 课时42:禁用结构 课时43:事件结构 课时44:局部变量与全局变量(上) 课时45:局部变量与全局变量(下) 课时46:程序结构实操训练 课时47:图形与图表 课时48:波形图 课时49:波形图表 课时50:XY图 课时51:自定义图形和图表 课时52:平滑线条、曲线,标尺图例,动态格式化图形 课时53:函数的多态性 课时54:比较函数 课时55:公式与方程 课时56:文件IO(1)文件IO基本流程-判定要使用的格式-文件路径 课时57:文件IO(2)二进制文件-配置文件 课时58:文件IO(3)数据记录文件-记录前面板数据 课时59:文件IO(4)LabVIEW的测量文件 课时60:文件IO(5)电子表格文件 课时61:文件IO(6)TMD TDMS文件 课时62:文件IO(7)文本文件 课时63:文件IO(8)波形 课时64:处理变体数据 课时65:程序框图的数据流
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还介绍了金属互连、典型工艺集成、关键工艺设备,以及微电子工艺未来发展趋势。通过本课程的学习能使学生对微电子工艺技术有全面了解,为后续专业课程学习打下坚实基础。也利于学生专业素养的提高。...
课时2:绪论:微电子工艺是讲什么的? 课时3:微电子工艺的发展历程如何? 课时4:微电子工艺有什么特点? 课时5:单晶硅特性(上) 课时6:单晶硅特性(中) 课时7:单晶硅特性(下) 课时9:多晶硅制备;1.2单晶生长-CZ法 课时10:单晶生长-原理 课时11:单晶生长-掺杂 课时12:单晶生长-MCZ与FZ法 课时13:硅片的加工 课时14:硅片介绍 课时16:外延概述 课时17:气相外延-1硅工艺 课时18:气相外延-2原理 课时19:气相外延-3速率 课时20:气相外延-4掺杂 课时21:气相外延-5设备与技术 课时22:分子束外延 课时23:其它外延方法 课时24:外延层缺陷及检测 课时25:电阻率测量 课时27:概述-1性质与用途 课时28:概述-2杂质与掩蔽 课时29:硅热氧化-1工艺 课时30:硅的热氧化-2机理 课时31:硅的热氧化-3DG模型 课时32:硅的热氧化-4速率 课时33:硅热氧化-5影响因素 课时34:初始氧化 课时35:杂质再分布-1分凝 课时36:杂质再分布-2硅表面浓度 课时37:氧化层检测-1厚度 课时38:氧化层检测-2成膜质量 课时39:氧化层厚度估测实验 课时40:其它氧化方法 课时42:扩散机构 课时43:扩散方程-1菲克定律 课时44:扩散方程-2扩散系数 课时45:扩散掺杂-1恒定源 课时46:扩散掺杂-2限定源 课时47:影响杂质分布因素-1点缺陷 课时48:影响杂质分布因素-2氧化增强 课时49:影响杂质分布因素-3发射区推进 课时50:扩散条件与方法-1方法选择 课时51:扩散条件与方法-2扩散工艺 课时52:质检与测量-1结深 课时53:质检与测量-2表面浓度 课时54:pn结结深测量实验 课时55:扩散工艺的发展 课时57:离子注入概述 课时58:离子注入原理-1 课时59:离子注入原理-2 课时60:离子注入原理-3 课时61:注入离子分布-1,2分布 课时62:注入离子分布-3沟道效应 课时63:注入离子分布-4其它影响 课时64:注入损伤-1 课时65:注入损伤-2 课时66:退火-1热退火 课时67:退火-2快速退火 课时68:设备与工艺 课时69:应用 课时70:掺杂新技术 课时72:CVD概述 课时73:CVD原理-1过程 课时74:CVD原理-2速率 课时75:CVD原理-3质量 课时76:CVD工艺方法-1AP-2LP 课时77:CVD工艺方法-3等离子体(上) 课时78:CVD工艺方法-3等离子体(下) 课时79:CVD工艺方法-4PE-5HDP(新) 课时80:二氧化硅薄膜-1性质 课时81:二氧化硅薄膜-2制备 课时82:氮化硅薄膜 课时83:多晶硅薄膜 课时84:CVD金属及金属化合物薄膜 课时86:PVD-1概述 课时87:PVD-1真空简介 课时88:PVD-2真空的获得 课时89:蒸镀-1原理 课时90:蒸镀-2设备、工艺 课时91:蒸镀-3质量 课时92:溅射-1原理 课时93:溅射-2方法 课时94:溅射-3质量 课时95:PVD金属及化合物薄膜 课时97:光刻02--光刻技术 课时98:光刻掩膜板制造技术 课时99:光刻--光刻胶 课时100:光刻--紫外曝光技术 课时101:光刻--光刻增强技术 课时102:其它曝光技术 课时103:其它曝光技术(2) 课时104:光刻新技术展望 课时105:光刻引言 课时106:光刻工艺 课时107:光刻分辨率 课时108:光刻分辨率--2 课时110:刻蚀技术--概述
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通过CbM系统的实现,可以预先监测设备的各种工作状态,诊断及提前感知可能出现的故障风险,从而有效对设备进行维护。可以大大降低设备损坏的概率,提高生产线的效率,降低维护成本。...
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实现自动检测可以提高自动化水平和程度,减少人为干扰因素和人为差错,可以提高生产过程或设备的可靠性及运行效率。 1....
课时1:绪论 课时2:绪论 课时3:绪论 课时4:传感器的一般特性 课时5:传感器的一般特性 课时6:应变式传感器 课时7:应变式传感器 课时8:应变式传感器 课时9:应变式传感器 课时10:应变式传感器 课时11:电容式传感器 课时12:电容式传感器 课时13:电容式传感器 课时14:电容式传感器 课时15:电感式传感器 课时16:电感式传感器 课时17:电感式传感器 课时18:电感式传感器 课时19:电感式传感器 课时20:压电式传感器 课时21:压电式传感器 课时22:压电式传感器 课时23:热电式传感器 课时24:热电式传感器 课时25:热电式传感器 课时26:热电式传感器 课时27:热电式传感器 课时28:光敏传感器 课时29:光敏传感器 课时30:光导纤维式传感器 课时31:光导纤维式传感器 课时32:光导纤维式传感器 课时33:电测技术的抗干扰的问题 课时34:电测技术的抗干扰的问题 课时35:电测技术的抗干扰的问题 课时36:电测技术的抗干扰的问题
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工程测试技术是机械专业的专业基础课,内容涉及工业自动化、机械加工、楼宇控制、交通运输、现代农业和医疗仪器等领域中各类常见物理量,如:温度、声音、亮度、压力、磁场强度、距离和振动等的传感器测量原理;以及传感器测量信号的波形分析...
课时2:导学 课时4:测试技术的基本概念 课时5:测试技术的工程应用 课时6:测试技术的发展趋势 课时8:信号的分类与描述 课时9:采样定理 课时10:信号分析中常用的函数 课时11:标准信号的生成 课时12:信号的时域波形分析 课时13:信号的频谱分析1 课时14:信号的频谱分析2 课时15:信号的频谱分析3 课时16:信号的频谱分析4 课时17:信号的频谱分析5 课时18:信号的频谱分析6 课时19:信号的频谱分析7 课时20:信号的幅值域分析1 课时21:信号的幅值域分析2 课时22:信号的时差域相关分析1 课时23:信号的时差域相关分析2 课时24:信号的时差域相关分析3 课时25:信号的时差域相关分析4 课时26:其他信号分析方法 课时28:概述 课时29:电阻式传感器1 课时30:电阻式传感器2 课时31:电阻式传感器3 课时32:电感式传感器1 课时33:电感式传感器2 课时34:电容式传感器. 课时35:磁电式传感器 课时36:压电式传感器 课时37:超声波检测传感器 课时38:霍尔效应传感器,光伏效应传感器 课时39:图像传感器 课时40:热电偶 课时41:光纤传感器 课时42:光栅传感器,生物传感器 课时43:传感器选用原则 课时45:测试系统概论,测试系统静态响应特性 课时46:测试系统的动态响应特性 课时47:典型系统的动态响应 课时49:概述,信号放大 课时50:信号的调制与解调1 课时51:信号的调制与解调2 课时52:信号的滤波1 课时53:信号的滤波2 课时54:信号的滤波3 课时55:信号的滤波4 课时57:计算机化测试仪器概念 课时58:计算机虚拟仪器技术 课时59:计算机测试系统应用实践 课时61:课程总结1 课时62:课程总结2 课时63:课程总结3 课时65:附录1-Matlab信号分析程序设计初步1 课时66:附录1-Matlab信号分析程序设计初步2 课时67:附录2-Arduino传感器信号采集应用1 课时68:附录2-Arduino传感器信号采集应用2
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隔离产品广泛应用于工业和汽车应用,包括工业电机驱动,工业自动化和 PLC,传感器隔离,电源,测试和测量,医疗设备,汽车通信和电动汽车。...
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该课程是正点原子手把手教你学Linux系列课程之 STM32MP157异核通信开发,该课程配套开发板为正点原子STM32MP157开发板。STM32MP157属于多核异构,其中Cortex-A7跑Linux操作系统,Cortex-M4跑裸机,本课程介绍Cortex-A7和Cortex-M4之间如何实...
课时2:如何理解裸机系统与RTOS 课时3:OneOS简介与应用 课时4:如何搭建OneOS工程 课时5:OneOS-Cube简介及应用 课时6:如何使用OneOS自动初始化 课时7:OneOS自动初始化简介及原理 课时8:OneOS任务其他基础知识 课时9:OneOS任务组成及原理 课时10:OneOS动态任务的创建与删除编程实战 课时11:OneOS静态创建任务与删除任务编程实战 课时12:OneOS任务挂起与恢复编程实战 课时13:OneOS时间片轮转调度简介及原理 课时14:OneOS时间片轮转调度编程实战 课时15:什么是中断 课时16:OneOS临界区原理 课时17:OneOS临界区保护编程实战 课时18:OneOS单向链表原理解析 课时19:OneOS单向链表编程实战 课时20:OneOS单向链表例程源码解读 课时21:OneOS双向链表原理解析 课时22:OneOS双向链表编程实战 课时23:OneOS任务基础知识原理解析 课时24:OneOS任务基础知识原理解析 课时25:OneOS任务调度基础知识 课时26:OneOS如何启动第一个任务 课时27:OneOS如何切换任务 课时28:OneOS其他任务及内核控制API函数 课时29:OneOS时钟节拍处理的事务与应用 课时30:OneOS时钟节拍简介与处理的事务 课时31:OneOS信号量简介及原理 课时32:OneOS信号量编程实战 课时33:OneOS互斥锁简介 课时34:OneOS互斥锁原理及API函数 课时35:OneOS互斥锁编程实战 课时36:OneOS消息队列简介及原理 课时37:OneOS消息队列编程实战 课时38:OneOS邮箱简介及原理 课时39:OneOS邮箱编程实战 课时40:OneOS事件简介及原理 课时41:OneOS事件编程实战 课时42:OneOS定时器简介及原理 课时43:OneOS定时器编程实战 课时44:OneOS工作队列简介及原理 课时45:OneOS工作队列编程实战 课时46:OneOS内存管理简介及内存堆 课时47:OneOS内存管理之内存池 课时48:OneOS内存管理课堂总结 课时50:OneOS设备驱动模型 课时51:OneOS ADC设备驱动接口及配置方法 课时52:OneOS ADC设备编程实战 课时53:OneOS serial设备接口讲解 课时54:OneOS serial设备编程实战 课时55:OneOS IIC设备接口简介 课时56:OneOS IIC设备源码解析 课时57:OneOS SPI设备驱动接口简介 课时58:OneOS SPI设备配置 课时59:OneOS RTC设备驱动接口及配置方法 课时60:OneOS RTC设备编程实战 课时61:OneOS clocksource设备驱动接口及配置方法 课时62:OneOS clocksource设备编程实战 课时63:OneOS clockevent设备驱动接口及配置方法 课时64:OneOS clockevent设备编程实战 课时65:OneOS CAN设备接口介绍 课时66:OneOS CAN设备例程源码解读 课时68:DLOG日志系统框架介绍 课时69:DLOG的配置和API介绍 课时70:OneOS Shell命令的使用 课时71:DLOG日志系统实验 课时72:教程代码讲解和课堂总结 课时73:文件系统简介 课时74:配置文件系统 课时75:文件系统API介绍 课时76:文件系统实验 课时77:教程代码讲解和课堂总结 课时78:MoLink模组简介 课时79:配置MoLink模组 课时80:MoLink模组API介绍 课时81:Socket套件的使用 课时82:MoLink模组实验 课时83:教程代码讲解和课堂总结 课时84:CoAP协议简介 课时85:CoAP协议消息格式介绍(上) 课时86:CoAP协议消息格式介绍(下) 课时87:配置CoAP以及libcoap的API介绍 课时88:OneOS CoAP协议实验 课时89:MQTT协议简介 课时90:MQTT协议报文结构 课时91:OneNET平台介绍以及配置MQTT(上) 课时92:OneNET平台介绍以及配置MQTT(下) 课时93:MQTT和OneNET Kit的API介绍 课时94:OneOS MQTT协议组件实验 课时95:OneOS OTA组件 课时97:STM32MP157资源介绍以及配置OpenAMP 课时98:异核通信框架 课时99:Remoteproc的实现原理 课时100:Remoteproc的使用 课时101:重新规划SRAM1~SRAM4的分配 课时102:基于RPMsg的异核通信实现原理介绍 课时103:基于RPMsg的异核通信实现代码编写 课时104:基于RPMsg的异核通信实现实验测试
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课时1:Linux驱动开发与裸机开发区别 课时2:字符设备驱动开发基础实验 课时3:我的第一个Linux驱动-字符设备驱动框架 课时4:我的第一个Linux驱动-驱动模块加载与卸载实验 课时5:我的第一个Linux驱动-字符设备驱动框架搭建实验 课时6:我的第一个Linux驱动-应用程序编写 课时7:我的第一个Linux驱动-完善chrdevbase驱动 课时8:Linux LED灯驱动实验(直接操作寄存器)-地址映射 课时9:Linux LED灯驱动实验(直接操作寄存器)-驱动框架搭建以及网络问题解决方法 课时10:Linux LED灯驱动实验(直接操作寄存器)-LED灯初始化 课时11:Linux LED灯驱动实验(直接操作寄存器)-完善驱动与应用程序编写测试 课时12:Linux新字符设备驱动实验-新驱动框架的搭建 课时13:Linux新字符设备驱动实验-完善驱动 课时14:Linux新字符设备驱动实验-自动创建设备节点 课时15:Linux新字符设备驱动实验-私有数据以及goto对于错误的处理方法 课时16:Linux设备树详解-什么是设备树? 课时17:Linux设备树详解-DTS文件以及组织形式 课时18:Linux设备树详解-6ULL设备树节点信息 课时19:Linux设备树详解-设备树在根文件系统中的体现以及添加自定义节点 课时20:Linux设备树详解-设备树特殊节点 课时21:Linux设备树详解-设备树中的标准属性 课时22:Linux设备树详解-根节点下的compatible属性作用 课时23:Linux设备树详解-绑定文档以及OF函数 课时24:Linux设备树详解-OF函数操作实验 课时25:设备树下的LED驱动试验-实验驱动框架搭建 课时26:设备树下的LED驱动试验-实验驱动完善 课时27:pinctrl和gpio子系统试验-pincrl子系统详解 课时28:pinctrl和gpio子系统试验-pincrl子系统驱动分析 课时29:pinctrl和gpio子系统试验-gpio子系统详解和驱动分析 课时30:pinctrl和gpio子系统试验-设备树节点创建与驱动框架编写 课时31:pinctrl和gpio子系统试验-完善驱动 课时32:beep蜂鸣器实验 课时33:Linux并发与竞争试验-并发与竞争基础概念与原子操作 课时34:Linux并发与竞争试验-自旋锁、信号量与互斥体 课时35:Linux并发与竞争试验-原子操作实验 课时36:Linux并发与竞争试验-自旋锁、信号量以及互斥体操作实验 课时37:Linux按键输入试验 课时38:Linux内核定时器实验-内核时间管理简介 课时39:Linux内核定时器实验-内核定时器简介以及实验编写 课时40:Linux内核定时器实验-使用ioctl控制定时器 课时41:Linux中断实验-Linux内核中断框架简介 课时42:Linux中断实验-Linux内核中断上半部和下半部 课时43:Linux中断实验-如何在设备树中描述中断信息 课时44:Linux中断实验-按键中断实验驱动编写(上) 课时45:Linux中断实验-按键中断实验驱动编写(下) 课时46:Linux中断实验-使用定时器实现按键消抖处理 课时47:Linux中断实验-中断下半部处理实验 课时48:Linux阻塞和非阻塞IO实验-阻塞与非阻塞简介 课时49:Linux阻塞和非阻塞IO实验-阻塞IO实验 课时50:Linux阻塞和非阻塞IO实验-非阻塞IO实验 课时51:Linux异步通知实验-异步通知简介 课时52:Linux异步通知实验-驱动程序编写 课时53:platform设备驱动实验-驱动的分离与分层 课时54:platform设备驱动实验-驱动、总线和设备 课时55:platform设备驱动实验-platform总线简介1 课时56:platform设备驱动实验-platform总线简介2 课时57:platform设备驱动实验-无设备树platform设备注册实验 课时58:platform设备驱动实验-无设备树platform驱动注册实验 课时59:platform设备驱动实验-设备树下的platform驱动注册实验 课时60:Linux自带LED驱动实验-linux自带LED驱动简析 课时61:Linux自带LED驱动实验-设备树节点创建与测试 课时62:Linux杂项(MISC)驱动实验-MISC驱动框架简介 课时63:Linux杂项(MISC)驱动实验-misc蜂鸣器驱动编写与测试 课时64:Linux INPUT子系统驱动实验-INPUT驱动框架简介 课时65:Linux INPUT子系统驱动实验-实验驱动编写 课时66:Linux INPUT子系统驱动实验-input_event详解 课时67:Linux INPUT子系统驱动实验-应用编写 课时68:Linux INPUT子系统驱动实验-内核自带按键驱动程序 课时69:Linux LCD驱动实验-Framebuffer简介 课时70:Linux LCD驱动实验-LCD驱动源码简析 课时71:Linux LCD驱动实验-LCD驱动编写 课时72:Linux LCD驱动实验-LCD屏幕测试 课时73:Linux RTC驱动实验-RTC驱动框架简介 课时74:Linux RTC驱动实验-RTC驱动源码简析与测试 课时75:Linux IIC驱动实验-Linux IIC适配器驱动框架简析 课时76:Linux IIC驱动实验-Linux IIC设备驱动框架简析 课时77:Linux IIC驱动实验-Linux IIC驱动编写之驱动框架搭建(上) 课时78:Linux IIC驱动实验-Linux IIC驱动编写之驱动框架搭建(下) 课时79:Linux IIC驱动实验-Linux IIC驱动编写之AP3216C寄存器数据读写函数编写 课时80:Linux IIC驱动实验-Linux IIC驱动编写之AP3216C驱动完善与测试 课时81:Linux SPI驱动实验-SPI控制器驱动详解(上) 课时82:Linux SPI驱动实验-SPI控制器驱动详解(下) 课时83:Linux SPI驱动实验-SPI设备驱动框架详解与设备树修改 课时84:Linux SPI驱动实验-SPI驱动编写之ICM20608驱动框架搭建 课时85:Linux SPI驱动实验-SPI驱动编写之ICM20608寄存器数据读写函数编写 课时86:Linux SPI驱动实验-SPI驱动编写之ICM20608驱动完善与测试APP编写 课时87:Linux SPI驱动实验-SPI驱动片选引脚讲解错误声明(修改讲解错误的地方) 课时88:Linux 串口实验-串口驱动框架详解与驱动分析 课时89:Linux 串口实验-使能UART3 课时90:Linux 串口实验-minicom移植 课时91:Linux 串口实验-使用minicom测试串口 课时92:Linux 多点电容触摸屏实验-Linux多点电容触摸TypeA协议 课时93:Linux 多点电容触摸屏实验-Linux多点电容触摸TypeB协议 课时94:Linux 多点电容触摸屏实验-驱动编写之FT5426驱动框架搭建 课时95:Linux 多点电容触摸屏实验-驱动编写之FT5426中断以及芯片初始化 课时96:Linux 多点电容触摸屏实验-驱动编写之FT5426驱动完善与触摸测试 课时97:Linux 多点电容触摸屏实验-tslib移植与测试 课时98:Linux 多点电容触摸屏实验-触摸驱动文件添加到Linux内核中 课时99:Linux音频驱动实验-音频基础知识 课时100:Linux音频驱动实验-IIS协议以及原理图分析
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该课程是正点原子手把手教你学Linux系列课程之ARM裸机入门篇,该课程配套开发板为正点原子alpha/mini Linux开发板。...
课时2:开发环境搭建 课时3:交叉编译器的安装 课时5:vscode软件的安装与使用 课时7:I.MX6U-ALPHA开发板简介 课时9:I.MX6U芯片简介 课时11:汇编LED驱动实验-原理分析 课时12:汇编LED驱动实验-汇编基本语法 课时13:汇编LED驱动实验-驱动编写 课时14:汇编LED驱动实验-编译程序 课时15:汇编LED驱动实验-烧写bin文件到SD卡中并运行 课时17:IMX启动方式-启动设备的选择 课时18:IMX启动方式-IVT表和BootData详解 课时19:IMX启动方式-DCD数据详解 课时21:C语言版本LED驱动实验-实验原理分析 课时22:C语言版本LED驱动实验-程序编写与验证 课时24:模仿STM32驱动开发实验-实验程序编写 课时25:模仿STM32驱动开发实验-主函数编写与下载验证 课时27:NXP官方SDK使用实验-SDK移植 课时28:NXP官方SDK使用实验-程序编写验证 课时30:BSP工程管理实验-工程整理与程序编写 课时31:BSP工程管理实验-编写测试通用Makefile 课时33:蜂鸣器实验 课时35:按键输入实验-实验程序编写 课时36:按键输入实验-驱动验证与调试 课时37:按键输入实验-通用GPIO驱动编写与验证 课时39:主频和时钟配置实验-时钟树详解 课时40:主频和时钟配置实验-主频修改 课时41:主频和时钟配置实验-8路PLL和8路PFD时钟设置 课时42:主频和时钟配置实验-其他时钟源设置 课时44:GPIO中断实验-Cortex-A中断原理 课时45:GPIO中断实验-6U中断向量表的编写 课时46:GPIO中断实验-6U复位中断服务函数的编写 课时47:GPIO中断实验-IRQ中断服务函数详解 课时48:GPIO中断实验-通用中断驱动编写 课时49:GPIO中断实验-向GPIO驱动添加中断处理函数 课时50:GPIO中断实验-编写按键中断驱动 课时52:EPIT定时器实验-EPIT原理详解 课时53:EPIT定时器实验-实验程序编写与验证 课时55:定时器按键消抖实验 课时57:高精度延时实验-GPT定时器原理 课时58:高精度延时实验-实验代码编写与测试 课时60:串口实验-串口原理详解 课时61:串口实验-串口驱动实验编写与验证1 课时62:串口实验-串口驱动实验编写与验证2 课时63:串口实验-printf格式化函数移植与测试 课时65:DDR3实验-RAM发展历史简介 课时67:DDR3实验-DDR3重要时间参数、时钟配置与原理图简析 课时69:DDR3实验-DDR3初始化、校准、超频测试 课时71:RGBLCD实验-LCD显示原理详解 课时72:RGBLCD实验-LCD时序与时间参数 课时73:RGBLCD实验-6ULL LCDIF接口寄存器详解 课时74:RGBLCD实验-6ULL像素时钟配置详解 课时75:RGBLCD实验-LCDID读取以及IO初始化程序编写 课时76:RGBLCD实验-LCD时间参数和像素时钟设置程序编写 课时77:RGBLCD实验-LCDIF控制器接口初始化程序编写 课时78:RGBLCD实验-LCDIF驱动以及API函数测试 课时80:RTC实验-6U内部RTC详解 课时81:RTC实验-驱动编写与测试 课时82:RTC实验-时间错误问题调试 课时84:I2C实验-I2C协议和6U的I2C控制器详解 课时85:I2C实验-AP3216C简介与程序编写 课时86:I2C实验-I2C主机控制器驱动程序编写1 课时87:I2C实验-I2C主机控制器驱动程序编写2 课时88:I2C实验-AP3216C程序编写 课时89:I2C实验-AP3216C程序调试及bug解决 课时91:SPI实验-SPI以及ICM20608详解 课时92:SPI实验-6ULL SPI控制器寄存器详解 课时93:SPI实验-6ULL SPI控制器驱动程序编写 课时94:SPI实验-ICM20608驱动程序编写 课时95:SPI实验-ICM20608实际测量值计算与6ULL硬件浮点的开启 课时97:多点电容触摸屏实验-电容触摸屏与FT系列触摸芯片详解 课时98:多点电容触摸屏实验-电容触摸屏幕驱动编写1 课时99:多点电容触摸屏实验-电容触摸屏幕驱动编写2 课时100:多点电容触摸屏实验-电容触摸驱动测试 课时102:PWM背光实验-6ULL PWM详解 课时103:PWM背光实验-PWM背光驱动程序编写
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课时1:Simulink的基本操作之——Simulink Library Browser 课时2:Simulink的基本操作之——Simulink Library Browser2 课时3:Simulink的基本操作之——自定义新建模型模版 课时4:Simulink模块——Constant和Scope 课时5:Simulink模块——Sum和Delay 课时6:SimuIink模块——Gain模块 课时7:Simulink模块——积分模块Integrator(1) 课时8:Simulink模块——积分模块Intergrator(2)——求解微分方程组 课时9:SimuIink模块——From workspace 课时10:SimuIink模块——From File 课时11:Simulink模块——模块的属性 课时12:Simulink模块——模块的属性2 课时13:信号线——信号线的分类1 课时14:解算器及采样时间 课时15:Simulink仿真——代数环问题 课时16:DLookup Table的使用及反向查表 课时17:模型Model的回调函数 课时18:模块Block的回调函数 课时19:模块端口的回调函数 课时20:Simulink游戏开发——连连看 课时21:自定义模块GUI控件的回调函数(以驱动IO模块GUI为例) 课时22:模块的封装 课时23:自定义模块库及库显示用配置文件的自动生成 课时24:S函数基本知识框架 课时25:Level 1 M S函数展示动态FFT仿真 课时26:S函数自定模块——LED模块 课时27:S函数实现多个采样时刻更新一次输出 课时28:S函数实现仿真数据实时存储 课时29:Simulink实现三维动态绘图 课时30:C mex S函数调用既有C代码进行仿真 课时31:模型功能的自动测试便利化方案 课时32:基于模型设计的开发流程 课时33:代码生成时模型的配置方法及操作流程 课时34:rtw文件——代码生成的中间产物 课时35:rtw文件——TLC命令对rtw文件的访问、编辑、内容追加 课时36:代码生成的文件结构 课时37:ert.tlc下默认配置生成代码的解读 课时38:提升生成代码可读性的两种方法 课时39:CSC对生成代码的控制 课时40:CSC对生成代码的控制——GetSet存储类型用法 课时41:数据别名定义及代码生成中的控制 课时42:算法子系统生成函数的控制(Clark变换算法为例) 课时43:Variant Subsystem生成预编译控制代码 课时44:枚举类型的创建及代码生成 课时45:Lookuptable生成代码的优化及二分法查找算法解析 课时46:TLC语言(一) 课时47:TLC语言(二)——分支语句及常用数据类型 课时48:TLC语言(三)——三种常用循环 课时49:TLC语言(四)——矩阵操作及文件/代码生成 课时50:TLC语言(五)——记录的创建,内容追加及嵌套 课时51:TLC语言(六)——记录的删除以及范围限定 课时52:TLC语言(七)—— 文件流选择,函数定义及调用 课时53:基于模型的Arduino应用设计及实机运行 课时54:基于模型的Arduino流水灯 课时55:基于模型的Arduino超声波测距及数码管显示 课时56:Target Support Package开发之系统目标文件 课时57:Target Support Package开发之主函数定制 课时58:Target Support Package开发之创建外部设备模块 课时59:Target Support Package开发之外设模块级TLC文件编写 课时60:Simulink实时控制硬件 课时61:Simulink模型整合自定义C结构体并生成指针变量
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正点原子ARM(IMX6U)裸机视频教程...
课时1:开发环境搭建 课时2:交叉编译器的安装 课时3:vscode软件的安装与使用 课时4:I.MX6U-ALPHA开发板简介 课时5: I.MX6U芯片简介 课时6:汇编LED驱动实验-原理分析 课时7:汇编LED驱动实验-汇编基本语法 课时8:汇编LED驱动实验-驱动编写 课时9:汇编LED驱动实验-编译程序 课时10:汇编LED驱动实验-烧写bin文件到SD卡中并运行 课时11:IMX启动方式-启动设备的选择 课时12:IMX启动方式-IVT表和BootData详解 课时13:IMX启动方式-DCD数据详解 课时14:C语言版本LED驱动实验-实验原理分析 课时15:C语言版本LED驱动实验-程序编写与验证 课时16:模仿STM32驱动开发实验-实验程序编写 课时17:模仿STM32驱动开发实验-主函数编写与下载验证 课时18:NXP官方SDK使用实验-SDK移植 课时19:NXP官方SDK使用实验-程序编写验证 课时20:BSP工程管理实验-工程整理与程序编写 课时21:BSP工程管理实验-编写测试通用Makefile 课时22:蜂鸣器实验 课时23:按键输入实验-实验程序编写 课时24:按键输入实验-驱动验证与调试 课时25:按键输入实验-通用GPIO驱动编写与验证 课时26:主频和时钟配置实验-时钟树详解 课时27:主频和时钟配置实验-主频修改 课时28:主频和时钟配置实验-8路PLL和8路PFD时钟设置 课时29:主频和时钟配置实验-其他时钟源设置 课时30:GPIO中断实验-Cortex-A中断原理 课时31:GPIO中断实验-6U中断向量表的编写 课时32:GPIO中断实验-6U复位中断服务函数的编写 课时33:GPIO中断实验-IRQ中断服务函数详解 课时34:GPIO中断实验-通用中断驱动编写 课时35:GPIO中断实验-向GPIO驱动添加中断处理函数 课时36:GPIO中断实验-编写按键中断驱动 课时37:EPIT定时器实验-EPIT原理详解 课时38:EPIT定时器实验-实验程序编写与验证 课时39:定时器按键消抖实验 课时40:高精度延时实验-GPT定时器原理 课时41:高精度延时实验-实验代码编写与测试 课时42:串口实验-串口原理详解 课时43:串口实验-串口驱动实验编写与验证1 课时44:串口实验-串口驱动实验编写与验证2 课时45:串口实验-printf格式化函数移植与测试 课时46:DDR3实验-RAM发展历史简介 课时47:DDR3实验-DDR3重要时间参数、时钟配置与原理图简析 课时48:DDR3实验-DDR3初始化、校准、超频测试 课时49:RGBLCD实验-LCD显示原理详解 课时50:RGBLCD实验-LCD时序与时间参数 课时51:RGBLCD实验-6ULL LCDIF接口寄存器详解 课时52:RGBLCD实验-6ULL像素时钟配置详解 课时53:RGBLCD实验-LCDID读取以及IO初始化程序编写 课时54:RGBLCD实验-LCD时间参数和像素时钟设置程序编写 课时55:RGBLCD实验-LCDIF控制器接口初始化程序编写 课时56:RGBLCD实验-LCDIF驱动以及API函数测试 课时57:RTC实验-6U内部RTC详解 课时58:RTC实验-驱动编写与测试 课时59:RTC实验-时间错误问题调试 课时60:I2C实验-I2C协议和6U的I2C控制器详解 课时61:I2C实验-AP3216C简介与程序编写 课时62:I2C实验-I2C主机控制器驱动程序编写1 课时63:I2C实验-I2C主机控制器驱动程序编写2 课时64:I2C实验-AP3216C程序编写 课时65:I2C实验-AP3216C程序调试及bug解决 课时66:SPI实验-SPI以及ICM20608详解 课时67:SPI实验-6ULL SPI控制器寄存器详解 课时68:SPI实验-6ULL SPI控制器驱动程序编写 课时69:SPI实验-ICM20608驱动程序编写 课时70:SPI实验-ICM20608实际测量值计算与6ULL硬件浮点的开启 课时71:多点电容触摸屏实验-电容触摸屏与FT系列触摸芯片详解 课时72:多点电容触摸屏实验-电容触摸屏幕驱动编写1 课时73:多点电容触摸屏实验-电容触摸屏幕驱动编写2 课时74:多点电容触摸屏实验-电容触摸驱动测试 课时75:PWM背光实验-6ULL PWM详解 课时76:PWM背光实验-PWM背光驱动程序编写
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适用于家电、消费电子、医疗设备、工控等领域大量使用的 32 位 ARM 入门级 MCU 的场合。...
课时1:RT-Thread Nano-添加源码 课时2:RT-Thread Nano-启动运行流程分析 课时3:RT-Thread Nano-rt_kprintf支持 课时4:RT-Thread Nano-Finsh组件支持 课时5:RT-Thread Nano-线程创建1 课时6:RT-Thread Nano-线程讲解2 课时7:RT-Thread Nano-自动初始化及MSH-EXPORT-1 课时8:RT-Thread Nano-自动初始化及MSH-EXPORT-2 课时9:RT-Thread Nano-串口接收(信号量使用)编写1 课时10:RT-Thread Nano-串口接收(信号量使用)调试2 课时11:RT-Thread Nano-外部中断(消息队列使用)1 课时12:RT-Thread Nano-外部中断(消息队列使用)2 课时13:RT-Thread Nano-动态创建线程代码修整 课时14:RT-Thread Nano-通用定时器(按键消抖)-消息队列 课时15:RT-Thread Nano-ADC(时钟管理之软件定时器)-1软件定时器创建 课时16:RT-Thread Nano-ADC(时钟管理之软件定时器)-2软件定时器控制 课时17:RT-Thread Nano-ADC(时钟管理之软件定时器)-3软件定时器内核代码分析 课时18:RT-Thread Nano-DS18B20-高精度微秒延时 课时19:RT-Thread Nano-ESP82266 WIFI-0 硬件模块测试 课时20:RT-Thread Nano-ESP82266 WIFI-1 代码添加 课时21:RT-Thread Nano-ESP82266 WIFI-2 代码测试 课时22:RT-Thread Nano-ESP8266 WIFI-温度上传至本地服务器 课时23:RT-Thread Nano-NTP-获取网络时间 课时24:RT-Thread Nano-CJSON-心知天气获取 课时25:RT-Thread Nano-RTC-设备驱动框架入门 课时26:RT-Thread Nano-IWDT-设备驱动框架入门
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在庞大的Linux内核源代码学习中,如何抓住主要线索和思路,如何让所学能够切实地应用起来,本课程主讲以自己20年来对Linux内核的研究和教学为基础,对所讲内容进行有效的归纳,以机制与策略分离为指导思想,对Linux内核的设计思想和数据结构进行分析,让大家在每一章学习后,通过编写Linux内核模块并...
课时2:Linux 操作系统概述 课时3:Linux内核结构以及内核模块编程 课时4:Linux内核源码中的双链表结构 课时5:源码分析-内核中的哈希表 课时6:动手实践-Linux内核模块的插入和删除 课时8:内存管理之内存寻址 课时9:段机制 课时10:分页机制 课时11:动手实践-把虚拟地址转换成物理地址 课时13:进程概述 课时14:Linux进程创建 课时15:Linux进程调度 课时16:动手实践-打印进程描述符task_struct中的字段 课时17:工程实践-基于内核模块的负载监控 课时19:Linux内存管理机制 课时20:进程用户空间管理机制 课时21:物理内存分配与回收机制(上) 课时22:物理内存分配与回收机制(下) 课时23:动手实践-Linux内存映射基础(上) 课时24:动手实践-Linux内存映射实现(中) 课时25:动手实践-Linux内存映射测试(下) 课时27:中断机制概述 课时28:中断处理机制 课时29:中断下半部处理机制 课时30:时钟中断机制 课时31:动手实践-中断上半部的代码分析及应用 课时32:动手实践-中断下半部的代码分析及应用 课时34:Linux中的各种API 课时35:系统调用机制 课时36:动手实践-添加系统调用(系统调用日志收集系统) 课时38:内核同步概述 课时39:内核同步机制 课时40:动手实践-内核多任务并发实例(上) 课时41:动手实践-内核多任务并发实例(下) 课时43:虚拟文件系统的引入 课时44:虚拟文件系统的主要数据结构 课时45:文件系统中的各种缓存 课时46:页高速缓存机制以及读写 课时47:动手实践-编写一个文件系统(上) 课时48:动手实践-编写一个文件系统(中) 课时49:动手实践-编写一个文件系统(下) 课时51:设备驱动概述 课时52:IO空间管理 课时53:设备驱动模型 课时54:字符设备驱动程序简介 课时55:块设备驱动程序简介 课时56:动手实践-编写字符设备驱动程序 课时57:工程实践-编写块设备驱动的基础(上) 课时58:工程实践-块设备驱动程序分析(中) 课时59:工程实践-块设备驱动程序实现(下)
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虽然成功运行程序,但还是一头雾水; 本专辑,从0出发,对单片机外围的常用硬件进行归类、分析、实物测试。...
课时1:前言 课时2:电烙铁的使用 课时3:单片机电源设计 课时4:单片机AD基准电压源分析 课时5:TL431电路分析 课时6:单片机引脚内部电路分析 课时7:驱动蜂鸣器 课时8:单片机驱动继电器 课时9:单片机显示输出设备 课时10:自己组装电流表测试 课时11:单片机输入设备-按键 课时12:焊接芯片示范 课时13:语音模块测试1 课时14:语音模块测试2
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