惠瑞捷推出半导体行业首创可扩展测试机台系列

    CUPERTINO, Calif. – 2011 年 9 月 19 日——Advantest 集团（东京证券交易所：6857；纽约证券交易所：ATE）旗下企业惠瑞捷发布了业界首创可扩展、高性价比的测试机台系列，可用来测试28 纳米及更小尺寸工艺和 3D 架构的芯片。

    Smart Scale 系列是具备先进通道卡功能的创新一代“智能”测试机台，与惠瑞捷久经大生产考验的 V93000 平台完全相容。智能测试意味着每个通道卡具有独立的时钟域，通过匹配受测器件的准确数据率要求，实现全面的测试覆盖率。配合电源调制、抖动注入和协议通讯等其他重要特性，系统级压力测试如今可在 ATE 层执行，提高了故障模型覆盖范围。

    “凭借我们创新的 V93000 Smart Scale系列的测试系统和通道卡，惠瑞捷在智能测试解决方法方面取得领先，这些方法提供了定制的解决方案，可以为客户降低测试成本。”

    Advantest 集团旗下企业惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系统 (SOC) 测试部执行副总裁)表示。

    四个等级的 Smart Scale 测试机台（A类、C类、S类 和 L类）分别有不同的测试头尺寸，使惠瑞捷可为每个客户提供最高效的特定应用解决方案。

    Wagner 补充道：“由于每个等级的测试机台彼此完全相容，当芯片的产量在设备生命周期内变更时，用户可快速轻松地把半导体器件从一个等级移至另一等级的Smart Scale机台。目前没有其他自动测试设备供应商有能力生产具有此功能的机台。”

    惠瑞捷的独特技术提高了并行测试的能力，并带来了行业内第一个针对晶圆测试的全性能的解决方案,可以满足高阶的片上系统 (SOC)器件、系统级封装 (SiP)器件和晶圆级芯片尺寸封装 (WLCSPs) 的重要性能的测试需求。

    V93000 Smart Scale 测试机台推出同时，惠瑞捷还发布了三款新的数字通道卡。

    新的Pin Scale 1600 数字卡和Pin Scale 1600-ME（存储器仿真）卡为每个数字通道提供了行业最广泛的能力范围。除了提供从DC 到每秒 1.6 千兆比特（Gbps，早期系列的双倍速率）的数据率范围，这些卡还达到了先前通道卡密度的两倍或四倍。高度集成、小外型封装的新卡具有惠瑞捷 clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™、PRBS per pin 和 SmartLoop™ 等测试能力，可满足对称高速接口的测试要求。此外，这些卡具有精确 DC 能力，并可执行高效的多路并行异步测试以及并发测试。

    惠瑞捷的新款 Pin Scale 9G 卡使实速测试具备了经济性。它将高达 8 Gbps 的数据率和与Pin Scale 1600同样的per pin通用性相结合，尽量提高通道使用率，并尽量减少闲置资源。Pin Scale 9G 卡支持所有通道的双向功能，以及单端和差分模式。还可执行有向量和无向量测试，满足绝大多数测试需要，包括面向设计验证的并行 I/O 测试，以及大批量生产中的串行物理层 (PHY) 测试。