msp430AD采集数据记录及分析

   其中测试管脚的信号为：周期为2.4S 高电平时间为0.3s
   设置AD时：P6SEL |= 0x08;  
             ADC12CTL0 = ADC12ON+MSC+REFON+REF2_5V + SHT0_8;
             ADC12CTL1 = SHP + CONSEQ_2  + ADC12SSEL_3 +ADC12DIV_7;
             ADC12MCTL0 = SREF_1 + INCH_3;
             ADC12IE = 0X01;
             ADC12CTL0 |= ENC;         
             ADC12CTL0 |= ADC12SC; 
  即采用第3通道，选用SMCLK（DCO） 并对其进行8分频，SHT0_8（256）选用内部参考电压2.5v

  测试1，基于DCO进行的测试

  经过实际测试：
            周期：869   高电平：108   占空比：108/869 = 0.124
            周期：870   高电平：109   占空比：109/870 = 0.125
            标准：300/2400 = 0.125

  理论分析：初始DCO为800K，8分频为：100K,周期为：10us
            而转换一个数需要的周期数据为256+13+3=272个ADC12CLK ,
            SO 转换一个数的时间为2.72ms
            综上，2.4s内能完成2400/2.72=882.35个数的转换，与实测的870基本吻合。
            
            若不考虑Tsync:则转换一个数需要的周期数据为256+13=269个ADC12CLK ,
            SO 转换一个数的时间为2690ms
            从而2.4S内能完成2400/2.69 = 892 (与实测的相差大)

  
   测试2，基于外部8MHz晶体进行的测试     
        
   设置AD时： 
    BCSCTL1 &= ~XT2OFF;                 // 打开XT2高频晶体振荡器

      do
     {
         IFG1 &= ~OFIFG;                 //清除晶振失败标志
         for (i = 0xFF; i > 0; i--);     // 等待8MHz晶体起振
     }
     while ((IFG1 & OFIFG));             // 晶振失效标志仍然存在？

  BCSCTL2 = SELM_2+DIVM_3; //select XT2，并对其进行8分频，然后供给MCLK;
  ADC12CTL0 = ADC12ON+MSC+REFON+REF2_5V + SHT0_8;  // Turn on ADC12, extend sampling timeSHT0_8

  ADC12CTL1 = SHP + CONSEQ_2  + ADC12SSEL_2 +ADC12DIV_7;// Use sampling timer, repeated sequence,并对ADC时钟进行8分频

  ADC12MCTL0 = SREF_1 + INCH_3;
  ADC12IE = 0X01;
  ADC12CTL0 |= ENC;          // Enable conversions
  ADC12CTL0 |= ADC12SC;      // Start conversion

  理论分析：
           初始XT2为8MHz 8分频为1MHz ,再对其进行8分频为125KHz 所以ADC12CLK的周期为8us
           so 转换一个数的时间为：（256+3+13）* 8 = 2.176ms 
           SO 2.4S的周期能转换2400/2.176=1102.9  也即1102个数
           
           若不考虑Tsync 则转换一个数的时间为：（256+13）* 8 = 2.152ms 
           SO 2.4S的周期能转换2400/2.152=1115.2  也即1115个，与实际测试仅差一个数。
         

 实际测试：
          周期：1114   高电平：139   占空比：139/1114 = 0.12477  
          标准：300/2400 = 0.125

2、把周期为2.4ms 高电平为300ms的脉冲信号加到另一块板子上

   另一块板子采用DCO800k ,其余设置参数同上 其测试结果是：
   周期：801    高电平：100   占空比：100/801 =0.1248
   周期：799    高电平：99    占空比：99/799 = 0.1239
   标准：300/2400 = 0.125
  

   另一块板子采用XT2=6MHz时的测试结果：
   周期：836      高电平： 104     占空比：104/836 = 0.1244 
   周期：836      高电平： 104     占空比：104/836 = 0.1244   可以看出（利用外部晶体重复性好）
   标准：300/2400 = 0.125

   理论分析：
           初始XT2为6MHz 8分频为750KHz ,再对其进行8分频为93.75KHz 所以ADC12CLK的周期为10.7us
           so 转换一个数的时间为：（256+3+13）* 10.7 = 2.91ms 
           SO 2.4S的周期能转换2400/2.91=824.7  也即824个数  {与实际测试的836基本相符}
          
           若不考虑Tsync 则 2.4S的周期能转换2400/（269*10.67）=836.2 也即836 与实际测试完全相符

总结：就以上测试分析，可知，基本达到要求，但对DCO来说，稍有偏移，
      根据DATASHEET：采样的总时间为Tsample +Tsync 但如果，不考虑Tsync,则对上面的采用外部晶体采集数据时
      理论与实际完全相符。
      但对DCO就不同，并且DCO,对不同的板子，虽然占空比相同，但采集数据个数也有很大的差别。这可能与DCO本身,所以为了把2.4S内的数据都采集到，应该取较大的采样数据。
      随温度及环境而变化有关。