高速PCB互连设计中的测试技术

最新更新时间:2011-11-30来源: 互联网关键字:PCB互连  测试技术 手机看文章 扫描二维码
随时随地手机看文章

互连设计技术包括测试、仿真以及各种相关标准,其中测试是验证各种仿真分析结果的方法和手段。优秀的测试方法和手段是保证互连设计分析的必要条件,对于传统的信号波形测试,主要应当关注的是探头引线的长度,避免pigtail引入不必要的噪声。本文主要讨论互连测试技术的新应用及其发展。 
 
                                                        
                                                                                     图1:0.1uf电容阻抗曲线
  
近些年,随着信号速率的不断提升,测试对象出现了显著的变化,不再仅仅局限于传统的利用示波器测试信号波形,电源地噪声、同步开关噪声(ssn)、抖动(jitter)逐渐成为互连设计工程师的关注重点,一些射频领域的仪器已被应用于互连设计。互连设计中常用的测试仪器包括频谱分析仪、网络分析仪、示波器以及这些仪器所使用的各种探头和夹具,为了适应不断提高的信号速率,这些测试仪器的使用方法发生了显著的变化。本文以这些测试仪器为工具,主要从测试的校准方法、无源器件的建模方法、电源完整性测试、时钟信号抖动的测试方法等方面介绍近年来互连设计测试技术的发展。 
 
在文章的最后,还将结合刚刚结束的designcon2005大会对未来测试技术的发展作简要介绍。

校准方法 
在三种常用的测试仪器中,网络分析仪的校准方法最为严谨,频谱分析仪次之,示波器的校准方法最为简单。因此,我们这里主要讨论网络分析仪的校准方法。网络分析仪常用的校准方法有三种,thru、trl和solt。三种方法的特性如表1所示。 
 
                                                                             表1:网络分析仪常用的校准
                                                 

thru的实质是归一化,校准时网络分析仪记录夹具的测试结果(s21_c),在实际测试中,直接将测试结果(s21_m)与s21_c相除,即得到待测件的测试结果(s21_a)。thru校准忽略了测试夹具中的不匹配造成的反射以及空间中的电磁耦合,因此,它的校准精度最低。在仅测试s21,而且测试精度要求不高的情况下可以使用该校准方式。

在pcb等非coaxial结构中,有时需要对走线、过孔、连接器等的特性做测试。在这种情况下,测试仪器供应商没有提供标准校准件,而且测试人员也很难在测试校准端口做出良好的开路、短路、匹配负载等校准件,因此,不能做传统的solt校准。利用trl校准的优点是不需要标准校准件,可以将测试校准端口延伸至所需要的位置。目前trl校准在pcb结构测试中的使用已经比较广泛。

solt通常被认为是标准的校准方法,校准模型中共有12个校准误差参数,通过使用短路、开路、负载和直通对各种误差做校准计算。由于测试仪器供应商通常仅提供coaxial校准件,所以在非coaxial结构,无法使用solt校准方法。

以上三种校准方法都可以利用信号流图的方式做详细的分析,其中各个误差参数在信号流图中均有对应参数。通过信号流图,可以很清楚的了解各种校准方法的误差敏感度,从而了解实际测试的误差范围。这里需要提出的一点是,即使是标准的solt校准方法,在校准模型中也忽略了五个误差参数。通常情况下,这五个误差参数不会影响校准精度。但在使用时如果不注意校准夹具的设计,会出现无法校不准的现象。

频谱分析仪内部提供一个标准源供校准使用,校准时只需要将内部标准源通过测试夹具与输入端口相连即可,校准所需时间约为10分钟。示波器的校准则更为简单,将探头连接至内部标准源,确认即可,校准所需时间约为1分钟。

无源器件的测试和建模 
随着信号速率的不断升高,无源器件在信号链路中的作用越来越重要,系统性能仿真分析准确与否,往往决定于无源器件的模型精度。因此,无源器件的测试和建模逐渐成为各个设备供应商的互连设计中的重要组成部分。常用的无源器件有以下几种:连接器、pcb走线及过孔、电容、电感(磁珠) 。

在高速信号完整性设计中,连接器对信号链路的影响最大。对于经常使用的高速连接器,通常的做法是按照trl校准方法做校准夹具,对连接器进行测试建模,供仿真分析使用。pcb走线及过孔的测试建模方法与连接器相类似,也使用trl校准将测试端口移至所需位置,然后测试建模。 

                                                     
                                                                               图2:某单板电源阻抗特性
  
电容模型在信号完整性分析中有应用,更主要的应用在电源完整性分析中。业界常用的电容建模仪器是阻抗分析仪和网络分析仪,分别适用于不同频段,阻抗分析仪适用于低频段,网络分析仪适用于高频段。如果具体实际测试中使用网络分析仪做电源完整性测试,建议在电容建模的全频段均使用网络分析仪,以保证建模和应用的一致性。由于电容的阻抗较小,在使用网络分析仪建模时,通常使用并联方式。目前业界在电容建模中没有解决的问题是如何消除夹具与电容之间的互耦,以减小夹具对建模结果的影响。

在传统的电源设计中,经常会使用电感(磁珠)对电源做隔离,以减小噪声干扰。而实际设计中,经常会出现去除隔离电感(磁珠),电源地噪声反而减小。这是由于电感(磁珠)与其它滤波器件产生谐振。为了避免这种情况的发生,有必要对电感(磁珠)建模并仿真以避免谐振。业界常用的电感(磁珠)建模方式也是采用网络分析仪,具体方法与电容建模相类似,不同之处在于电感(磁珠)建模时采用串联方式,电容建模时采用并联方式。

上面的几种无源器件的建模主要应用在信号完整性和电源完整性方面,近些年emi的仿真分析正逐步发展,关于emi无源器件的测试建模也逐渐成为互连设计的重点。如图1所示为电容的阻抗曲线。

电源完整性测试 
随着芯片功率不断升高,工作电压不断降低,电源地噪声逐渐成为互连设计中关注的对象。从测试对象的角度,电源完整性测试可分为两部分,电源系统特性测试和电源地噪声测试。前者是对系统供电部分性能的测试(无源测试),后者是直接测试系统工作时的电源地噪声(有源测试),同步开关噪声也可归类为电源地噪声。

测试电源系统性能时,通常使用网络分析仪,测试对象是电源系统的self-impedance和transfer-impedance。一般情况下,电源系统的阻抗均远小于网络分析仪系统阻抗(50欧姆),所以测试时只要做直通校准就可以了,利用公式s21=z/25就可以得到电源系统的阻抗。图2所示为某单板电源阻抗特性。

测试电源地噪声可以使用频谱分析仪和示波器,频谱分析仪的输入端口不能接入直流分量,因此在测试电源地噪声时,必须在测试夹具中串连dc-blocking。频谱分析仪的输入阻抗为50欧姆,电源地网络的阻抗一般为毫欧姆级,所以,测试夹具不会对待测系统产生影响。示波器的输入阻抗随设置的不同而改变,以泰克公司的tds784为例,其低频截至频率随耦合方式和系统阻抗变化而变化,如表2所示。

上面所描述的方法都是测试单板上的电源地噪声,而真正影响芯片工作的是芯片内的电源地噪声,这时需要借助同步开关噪声测试来确定芯片内的电源地噪声。设芯片有n个io端口,令其中一个保持静止,另外n-1个同时翻转,测试静止网络上的信号波形,即同步开关噪声。同步开关噪声中既包括电源地噪声,也包括封装内不同信号之间的串扰,目前没有办法将二者完全区分开。 
 
                                                                       表2:示波器输入阻抗随设置而改变
                                               
  

时钟信号抖动的测试
 
在一些高端产品中,抖动逐渐成为影响产品性能的重要指标,这里仅对如何利用频谱分析仪测试时钟信号抖动及问题定位做简单介绍,关于数据信号的抖动测试暂不涉及。

在大多数系统中,时钟都是由晶振或锁相环产生。时钟信号的抖动测试比较简单,不需要高端的测试仪器,使用常用的频谱分析仪就可以做问题定位。理想的时钟信号的频谱是干净的离散频谱,仅在时钟频率的倍频上有分量。如果时钟信号出现抖动,在这些倍频的附近会出现旁瓣,抖动大小与这些旁瓣的功率大小成正比。

利用频谱分析仪测试时钟抖动的具体方法是在时钟信号链路上任意找一个可测试点,将该点信号通过dc-blocking连接至频谱分析仪,观察测试结果。由于测试夹具是线性系统,因此,不必担心产生新的频谱分量。前面提到时钟都是由晶振或锁相环产生,在这种情况下,引入时钟抖动的重要原因是晶振或锁相环的电源噪声。利用前面介绍的方法测试所得的晶振或锁相环的电源噪声,与时钟频谱中的旁瓣做对比,基本可以确定出导致时钟抖动的原因。问题的解决办法是根据时钟频谱旁瓣,重新设计晶振或锁相环的滤波电路,在一般情况下,这些问题可以通过合理选择滤波电容解决。

designcon2005的技术方向 
designcon是每年互连技术领域的第一次大会,每年的大会上在今年designcon2005中,主要有以下一些技术发展趋势:

a.单纯的电源完整性的仿真与测试在业界已经有很多应用,不再是分析工作中的难点。

b.电容和电感(磁珠)的建模已经在业界推广,其方法已经较为完善。

c.互连设计的重点向封装移动,板级分析已经较为成熟,同步开关噪声的仿真与测试逐渐成为业界关注的问题。

d.抖动(jitter)的测试方法及标准逐渐成为业界关注的问题,大会上有多家测试设备供应商推出自己的抖动分析仪。

总结 
本文简要的对目前互连设计领域的测试对象和测试方法做了简要的介绍。随着信号速率的不断提高,逐渐出现一些新的测试内容,其中包括电源地噪声、无源器件建模、抖动等内容。作者根据自己的工作经验,提出了对于这些新的测试内容的测试方法。在传统的信号波形测试中,主要应考虑减小地线长度,以避免pigtail耦合入噪声,降低测试精度。在未来的互连设计中,由于信号工作频率提升,工作重点将向芯片封装转移,相关的测试和建模技术将成为工作重点。

关键字:PCB互连  测试技术 编辑:神话 引用地址:高速PCB互连设计中的测试技术

上一篇:元件贴装技术
下一篇:接收机与频谱分析仪的区别

推荐阅读最新更新时间:2023-10-12 20:32

自动驾驶仿真测试技术可模拟真实街景
据科技日报报道,自动驾驶是近年来炙手可热的研发项目,在上市前通过仿真测试来评估、提高其安全性将有助于加快研发进程。南京航空航天大学博士生李伟研发的自动驾驶仿真系统,在室外场景街景合成等方面突破了现有仿真技术,该成果发表在最新一期《科学》杂志子刊《科学·机器人学》上。 据李伟介绍,这是一种不同于现有仿真技术,更加真实准确的自动驾驶仿真系统(AADS)。它可自动创建逼真的道路场景,为自动驾驶车辆提供更为可靠且廉价的实验室模拟方法,可大规模用于训练和测试评估自动驾驶系统的路径规划和决策算法。 现有的仿真系统在呈现真实的交通流、驾驶员与行人的互动等场景时与真实的环境存在较大的差异。在研究AADS的过程中,最大的难题同样是如何将道路的真实情
[机器人]
物联网测试挑战-功率测试技术
功率管理是物联网设计关注的主要问题。物联网设备的电池续航时间变化很大,从几个小时到几年,具体视应用和应用环境而定。不管是什么情况,能够准确地描述设备的功耗都是基本要求。强健的功率分析可以帮助设计人员确定各种机会,降低能耗和优化电池续航时间。 那么接下来的挑战就变得有趣了,我们一起来看看吧! 十种功率分析测量挑战 典型的物联网设备至少包含一个传感器、一个处理器和一个无线芯片,无线芯片在不同的状态下运行,在几十微秒内消耗几十nA到几百mA的电流。因此,在选择执行分析的设备时必须记住这些挑战。 1.测量宽动态范围的
[测试测量]
物联网测试挑战-功率<font color='red'>测试技术</font>
SoC测试技术面临的挑战和发展趋势
中国是全球半导体市场成长最快的区域,预计每年增长率超过25%,原因在于中国已经成为全球集成电路消费的中心、电子产品巨大的消费市场和整机制造基地,为了贴近终端市场和IC用户,SoC测试中心和实验室在中国的布局已经悄然展开,本文将向您介绍SoC测试技术领域面临的挑战和最新的测试技术趋势。 目前,IC消耗量的主要增长集中在消费电子、数据处理和通信三大领域,其中消费电子包括显示器、数码相机、数字电视和视频游戏机,数据处理包括CPU和存储器、闪存卡、平面监视器和移动PC,通信领域则以数字蜂窝电话和无线/有线网络为增长驱动力。IC复杂度的日益提高,迫使设计人员采用更为先进的工艺技术,将更多的功能集成到单芯片内,系统级芯片(Syste
[测试测量]
SoC<font color='red'>测试技术</font>面临的挑战和发展趋势
CAN总线系统测试技术简介
引 言  随着汽车电子技术的发展,汽车上所用的电控单元不断增多,电控单元之间信息交换的需求促进了车用总线技术的发展。CAN总线即控制器局域网总线,由Bosch公司于1981年制定,主要目的为用作汽车的高速动力总线、中速车身总线等。由于CAN总线具有可靠性高、实时性好、成本合理等优点,逐渐被广泛应用于其他领域中,例如船舶、航天、工业测控、工业自动化、电力系统、楼宇监控等,成为了广泛使用的现场总线之一。基于CAN总线协议,还发展出CANopen、J1939、DeviceNet等多种上层总线协议。 CAN是一种开放式多主站线性结构的总线,使用双绞线作为连接介质连接所有节点,最高传输速率为1Mbit/s。CAN总线使用载波侦听多路访
[嵌入式]
嵌入式系统的存储测试技术及无线传输应用
引言 存储测试技术 方法是记录在特殊环境下运动物体参数的行之有效的方法。它是先将测试数据存入存储器,待装置回收后通过特定接口与上位机进行通信,还原数据信息。在许多消费类电子产品中,对数据采集存储系统的实时性和功耗提出了更高的要求,不仅要同时满足低功耗和微型化设计,还要实时地反映现场采集数据的变化。这样,就必须对系统的采样速率、功耗等提出更高的要求。随着半导体技术的发展,各种技术的进步使得高速度、低功耗的数据采集系统能够实现。 本文主要使用Philips公司16/32位微控制器LPC2148 作为核心控制元件,通过与nRF24L01 结合使用,实现数据的采集、存储以及发送。 1 系统原理 整个测试系统由模拟适
[测试测量]
嵌入式系统的存储<font color='red'>测试技术</font>及无线传输应用
分析数字电视测试技术
  本文介绍了数字电视系统的一些常规场测方案及场测目的。其工作范围包括接收,解调以及还原出传输数据。数字电视测试往往着重于几个特定的方面,测试方案着重是为了达到以下几个目标。   (1)确定环境变量,并确定其最小可变范围。   (2)测量实际服务对应的覆盖范围。   (3)收集对提高数字电视系统性能有用的数据。   1 场测的分类   Ad Hok广播小组定义了4种接收模式:固定接收,便携式,步行,移动接收。   (1)固定接收就是指由固定的天线和接收机来进行的接收。   (2)便携式接收定义为接收机可以从一处搬移到另一处,它使用一组设备齐全的天线进行接收,但在进行接收操作时已然是固定的。   (3)步行接收定义为在低速运动的情况下
[测试测量]
分析数字电视<font color='red'>测试技术</font>
SMT测试技术
    摘要: 主要介绍了当前用于检测组装后PCB的缺陷和故障的一些常见测试技术和方法,并对未来的组合AXI/ICT互补型SMT测试技术的发展趋势进行了初步探讨。     关键词: 缺陷和故障 检测 表面贴装技术 线路板 要在当今竞争激烈的市场中立足,电子元器件产品的生产厂家就必需确保产品质量。为了保证电子元器件的质量,在生产过程中就需要采用各类测试技术进行检测,以便及时发现缺陷和故障并进行修复。根据测试方式的不同,SMT测试技术分为非接触式测试和接触式测试。非接触式测试已从人工目测发展到自动光学检查(AOI)和自动射线检测(AXI),而接触式测试则可分为在线测试和功能测试两大类。本文将对各类测试技术及其未
[应用]
简单介绍LTE测试技术的相关基础知识
  长期演进(LTE)无线网络给测试设备供应商提出了若干挑战。3GPP定义的LTE空中接口,在下行采用正交频分多址(OFDMA)技术,在上行采用单载频频分多址(SC-FDMA)技术,且上下行同时采用了多输入多输出(MIMO)天线配置以最大限度地提高数据传输速率。对测试方案供应商来说,该空中接口提出了复杂的测量挑战。   LTE网络工作在约700至3,000MHz、带基于IP的数据分组、支持所有(语音、数据和视频)服务。它具有灵活的带宽分配特性,此外每个单元带宽都在1.5至20.0MHz范围内可调。通过采用OFDMA技术,借助包括正交相移键控(QPSK)、16态正交调幅(16QAM)和64态正交调幅(64QAM)
[测试测量]
简单介绍LTE<font color='red'>测试技术</font>的相关基础知识
小广播
最新模拟电子文章
换一换 更多 相关热搜器件
电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved