我们选择了具有“轨至轨”输出的 CMOS 运算放大器并测量了 ROUT,但在高频区域没有环路增益,因而无法确定 RO。根据 RO 测量结果,我们预测了在 1%26;micro;F 容性负载情况下放大器“Aol 修正曲线图”中第二个极点的位置。令我们大吃一惊的是,Tina SPICE 仿真在“Aol 修正”曲线图进行 x5 处理时关闭了!基于先前的第一轮分析结果,这个错误完全超出了可以接受的限度,因而我们对放大器输出阻抗进行了仔细研究。
本文作者Tim Green是德州仪器 Burr-Brown 产品线线性应用工程经理,全文阅读请下载
http://www.21ic.org/down/analog/opam.pdf
编辑: 引用地址:运算放大器稳定性 RO何时转变为ZO
上一篇:一种轨至轨输入的低压低功耗运放的设计
下一篇:基于FPGA的FIR抽取滤波器设计
小广播
热门活动
换一批
更多
最新模拟电子文章
- 英飞凌推出OptiMOS™ Linear FET 2 MOSFET, 赋能先进的热插拔技术和电池保护功能
- USB Type-C® 和 USB Power Delivery:专为扩展功率范围和电池供电型系统而设计
- ROHM开发出适合高分辨率音源播放的MUS-IC™系列第2代音频DAC芯片
- ADALM2000实验:变压器耦合放大器
- 高信噪比MEMS麦克风驱动人工智能交互
- 在发送信号链设计中使用差分转单端射频放大器的优势
- 安森美CEO亮相慕尼黑Electronica展,推出Treo平台
- 安森美推出业界领先的模拟和混合信号平台
- 贸泽开售用于快速开发精密数据采集系统的 Analog Devices ADAQ7767-1 μModule DAQ解决方案
更多精选电路图
更多热门文章
更多每日新闻
更多往期活动
厂商技术中心