日本无晶圆芯片设计公司Genusion Inc.日前透露其已将新型4兆闪存技术用于生产。
据悉,Genusion一直开发其所谓的“B4-Flash”技术,该技术利用公司专有的B4-HE(back bias assisted band-to-band tunneling induced hot electron)注入技术来进行编程。
该技术解决了一个编程速度的问题。公司称,这项技术改进了编程速度,这是目前闪存中最重要的问题之一。
目前闪存编程速度在1-10兆比特/秒,相当于硬盘的十分之一。根据该公司的说法,B4-HE技术可以实现100兆比特/秒的编程速度。
该公司还称其已使用目前的闪存工艺技术试产了4兆测试芯片,预计2009年将正式投入生产。据悉,该公司将在IEEE非易失半导体存储研讨会上展示其最新的成果。
关键字:编程 速度 硬盘 测试
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松下将在东京车站测试自动跟随机器人
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包括松下在内的许多机器人企业,都很看好个人“移动”设备市场的广阔前景。
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智能电缆测试系统的设计原理及工程应用
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电缆测试系统主要由工控机系统,单片机系统和继电器阵列三部分构成。其中工控机负责人机交互和数据处理,单片机系统控制硬件电路完成相应动作,继电器阵列负责响应译码电路的请求将外部电缆接入测试系统。单片机和工控机通过USB进行通信。如图1所示。
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单片机汇编语言编程:按键、计数及显示
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