2012TD-LTE测试技术研讨会23日在京举行-电子工程世界

为配合正在进行的TD-LTE扩大规模网络技术试验，加快TD-LTE产业走向成熟商用，工业与信息化部电信研究院和TD技术论坛将于2012年11月23日在北京联合举办“2012TD-LTE测试技术研讨会”。

测试仪表与测试系统的发展与完善，对验证产品性能、推动产业发展都具有重大意义。本次会议的召开得到了主管部门包括工业和信息化部科技司、工业和信息化部电信管理局、工业和信息化部无线电管理局的大力支持，来自中国移动研究院、欧洲电信标准化协会（ETSI，EuropeanTelecommunicationsStandardsInstitute），以及来自重要TD仪表厂商如罗德与施瓦茨（ROHED&SCHWARZ）、安捷伦科技（Agilent Technologies）、安耐特（Anite）、美国国家仪器（NI）、艾法斯（Aeroflex）、安立（Anritsu）、Azimuth Systems、大唐联仪、JDSU、星河亮点的专家与精英工程师，将为与会嘉宾解析TD-LTE技术所面临的测试需求与未来挑战。

在TD-SCDMA多年艰苦探索和宝贵经验的基础上，TD-LTE国际标准得以确立、形成产业链体系、以及组织研发产业化。2012年，TD-LTE技术在标准、技术试验、产业化、国际化等各方面取得显著进展。在政府主管部门、中国移动和产业链各环节的共同努力下，TD-LTE的产业化进程正在加快推进，扩大规模网络技术试验正加紧进行。

在TD-LTE规模网络试验和产业化过程中，测试技术作为验证技术和产品的必要手段，对TD-LTE技术和产品的成熟和完善发挥了不可替代的作用。本次TD-LTE测试技术研讨会将总结TD-LTE各阶段测试经验，通过对TD-LTE系统测试、芯片和终端测试及业务仿真测试等领域的技术进行深入研讨，明确TD-LTE测试技术的发展方向，强化产业链薄弱环节，加速推进TD-LTE产业健康、全面、有序发展，力争将TD-LTE打造成具有国际竞争力的新一代宽带无线移动通信产业。

关键字：TD-LTE 测试技术 TD技术论坛引用地址：2012TD-LTE测试技术研讨会23日在京举行

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