普迪飞“芯知识”公开课将启动！

随着技术的发展，半导体中的数据量越来越大，种类也越来越多，如何处理和利用这些繁多的数据成为了一个难题。此外，产能紧缺、工艺升级、产品迭代等现实情况，使得如何迅速提升良率成为一个备受关注的问题。

普迪飞作为半导体的行家里手，30年来一直致力于半导体先进制程良率提升和大数据分析。通过“芯知识”公开课，我们的专家将以网络直播的形式向大家介绍半导体中的相关知识，帮助大家快速入门，命中要害。

第一期活动将于3月25日正式启动，两周一次，内容实用，干货满满。

您是否有以下困惑：

   半导体中到底有多少种数据？这些数据有什么用途？

   工艺进步对良率有哪些挑战？

   半导体中的大数据分析有什么独特之处？

我们的专家会在直播间一一为你解答，并有文字提问互动环节。

第一期活动启动报名啦！赶紧扫码抢位吧！

普迪飞“芯知识”公开课作为一个系列技术讲座，将于近期陆续推出以下话题，敬请大家关注参与：

   第一期：说说半导体中的数据（系统的梳理从设计、生产制造到封装测试中的数据）

   第二期：IC中的良率模型（包括主流良率模型的建立原理和针对先进工艺的模型优化方案）

   第三期：半导体中的大数据分析

   第四期：基于特殊监控结构的良率提升方法