最新DDR 信号分析方法

发布者:upsilon30最新更新时间:2015-05-15 来源: ednchina关键字:DDR  信号分析 手机看文章 扫描二维码
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现在示波器上的DDR 物理层信号分析方案,都是针对JEDEC 规范的一致性
测试。在这种方案中,分析软件会按照JEDEC 规范分析DDR 信号的各种参数,
并判断测试结果Pass 或者Fail,最终生成一份报告。但是很多的研发工程师,并
不想仅仅获得一个Pass 或者Fail 的结果,而是想对信号做调试分析,但是传统
的串行信号分析软件无法分析DDR 信号,为此,力科推出了新的DDR Debug
toolkit。
 
一,新的DDR 信号分析方法
 
力科DDR Debug toolkit 提供了一种简单易用的DDR 信号调试工具,它快速
的对数据做读写分离,形成读写眼图,对眼图进行模板测试和参数测试,对抖动
进行分解,定位问题的根源,对比较重要DDR 参数进行测量,像建立时间、保
持时间、TDQSCK 等,灵活设置参数,对DDR 信号问题进行调试,可以支持
DDR2/DDR3/DDR4/LPDDR2/LPDDR3 等。
 
二,眼图测量
 
可以同时产生和显示10 个眼图,对5 路DDR 信号进行分析,查看分析眼间
的Skew 和时间信息,可以选择DQS 或者Clock 作为时间参考,自定眼图模板,
Teledyne Lecroy进行眼图模板测试。
 
1a.jpg
 
三,测量多个眼图参数:
 Eye Height
 Eye Width
 Eye Crossing
 Mask Hits
 Mask Out
 Eye Amplitude
 One Level
 Zero Level
 
捕获.jpg
 
四,抖动测试
 
像传统的串行信号分析一样,对DDR 信号的抖动进行测量分析,对抖动进行分
解(Tj,Rj,Dj,DCD 等),从TIE Track、TIE Histogram、Bathbub Curve 观察分析抖
动,更加深入的了解抖动的分布和源头。
 
2a.jpg
 
五,DDR 参数测量
 
对比较关键的DDR 参数进行测量,可以同时测量12 个参数,包括Max、Min,
Mean 等统计值。
 Bursts, transitions, Vref
 VH(ac), VH(dc), VL(ac), VL(dc)
 tDS, tDH, tIS, tIH
 tDQSQ, tDQSCK
 Slew Rise, Slew Fall
 
3a.jpg

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