现在示波器上的DDR 物理层信号分析方案,都是针对JEDEC 规范的一致性
关键字:DDR 信号分析
引用地址:最新DDR 信号分析方法
测试。在这种方案中,分析软件会按照JEDEC 规范分析DDR 信号的各种参数,
并判断测试结果Pass 或者Fail,最终生成一份报告。但是很多的研发工程师,并
不想仅仅获得一个Pass 或者Fail 的结果,而是想对信号做调试分析,但是传统
的串行信号分析软件无法分析DDR 信号,为此,力科推出了新的DDR Debug
toolkit。
一,新的DDR 信号分析方法
力科DDR Debug toolkit 提供了一种简单易用的DDR 信号调试工具,它快速
的对数据做读写分离,形成读写眼图,对眼图进行模板测试和参数测试,对抖动
进行分解,定位问题的根源,对比较重要DDR 参数进行测量,像建立时间、保
持时间、TDQSCK 等,灵活设置参数,对DDR 信号问题进行调试,可以支持
DDR2/DDR3/DDR4/LPDDR2/LPDDR3 等。
二,眼图测量
可以同时产生和显示10 个眼图,对5 路DDR 信号进行分析,查看分析眼间
的Skew 和时间信息,可以选择DQS 或者Clock 作为时间参考,自定眼图模板,
Teledyne Lecroy进行眼图模板测试。
三,测量多个眼图参数:
Eye Height
Eye Width
Eye Crossing
Mask Hits
Mask Out
Eye Amplitude
One Level
Zero Level
四,抖动测试
像传统的串行信号分析一样,对DDR 信号的抖动进行测量分析,对抖动进行分
解(Tj,Rj,Dj,DCD 等),从TIE Track、TIE Histogram、Bathbub Curve 观察分析抖
动,更加深入的了解抖动的分布和源头。
上一篇:探头讲解第二篇:AC/DC电流探头
下一篇:Pico6000示波器使用评测
推荐阅读最新更新时间:2024-03-30 22:58
美光低功耗 DDR5 DRAM 芯片,助力摩托罗拉智能旗舰手机edge+
内存和存储解决方案领先供应商 Micron Technology Inc.(美光科技股份有限公司,纳斯达克股票代码:MU)今日与摩托罗拉公司联合宣布,摩托罗拉新推出的motorola edge+ 智能手机已搭载美光的低功耗 DDR5(LPDDR5)DRAM 芯片,从而为用户带来完整的 5G 体验。美光与摩托罗拉紧密协作,依托高带宽的内存及顶级处理性能,使 edge+ 手机能充分利用 5G 网络的速度。 motorola edge+ 搭载了业界领先的美光12GB LPDDR5 DRAM 内存,为用户带来流畅、无延迟的体验。得益于5G所具备的更快传输速度和更低延迟等特性,该款手机为包括网络游戏和娱乐直播在内的云应用带来性能提升。 美光
[手机便携]
如何优化频谱分析仪/信号分析仪--优化发射机测试的5个技巧
优化频谱仪发射机测试比您想象的更容易。我们将介绍了 5 个技巧,能够帮助您提高效率,获得更清晰的频谱测量结果。您将了解到如何运用一些简单的方法加快频谱分析仪的测量速度,减少测量误差,提高测量结果的可靠性。 了解以下方法,更高效地执行测试: 1. 校正测试系统 2. 优化分辨率带宽可以提高测试速度或精度 3. 在测量低电平信号时提高灵敏度 4. 尽量减少分析仪的失真产物 5. 利用测量应用软件加快测量速度,提高测量准确性和可靠性 技巧 1 校正测试系统 校正测试系统在被测器件(DUT)的信号进入信号分析仪之前,电缆、适配器和探头可能会使信号发生改变,导致您得到的测量结果不是十分准确。但我们有办法解决这个问题。您可以通过在 K
[测试测量]
浅谈 DDR4 的技术变革与市场趋势
动态随机存取记忆体(Dynamic Random-Access Memory,DRAM)是常见的记忆体元件。在处理器相关运作中,DRAM 经常被用来当作资料与程式的主要暂存空间。相对于硬碟或是快闪记忆体(Flash Memory),DRAM 具有存取速度快、体积小、密度高等综合优点,因此广泛的使用在各式各样现代的科技产品中,例如电脑、手机、游戏机、影音播放器等等。
自 1970 年英代尔(Intel)发表最早的商用 DRAM 晶片-Intel 1103 开始,随着半导体技术的进步与科技产品的演进,DRAM 标准也从非同步的 DIP、EDO DRAM、同步的 SDRM(Synchronous DRAM
[手机便携]
光信号传输终端设备及其配置应用分析研究
光端机顾名思义就是光信号传输的终端设备。由于目前光纤的大幅降价及其在各个领域的广范应用,光端机的使用量越来越大,各光端机生产厂家也如雨后春笋般相继出现。但因其中一部分技术在光端机市场还很小时就已比较成熟,开发新技术又需耗费大量人力、物力,所以光端机生产厂家多以中小企业为主,各种品牌层出不穷,但质量却大相径庭。国外一些知名品牌的光端机(如IFS、fiber、options、optelecom)以其良好的性能进入中国市场,成为一些大项目的指定品牌,但其昂贵的价格让一些用户无法接受,在这种环境下国内一些有影响力的光端机生产厂家开始把产品转向生产数字光端机,以求在性能上不输给国外品牌,价格又能让用户接受。国内这些企业从自身入手,从
[安防电子]
频谱/信号分析限制RF功率和寄生噪声辐射
射频功率的频域测量是利用频谱和矢量信号分析仪所进行的最基本的测量。这类系统必须符合有关标准对功率传输和寄生噪声辐射的限制,还要配有合适的测量技术来避免误差。 像频率范围、中心频率、分辨带宽(RBW)和测量时间这些有关频率的关键控制都会影响测量结果。 频率范围指的是分析仪所能捕获的总频谱分量,而中心频率相当于频率范围的中心。应该注意像频率范围这类频率控制决定了仪器前面板上的频率范围。另一方面,根据频率范围的大小不同,FFT信号分析仪有两个截然不同的采集模式。 仪器中高达RBW的频率范围的实现方式是:对一段频率进行下变频,然后对下变频信号进行数字化。而对于超出RBW的频率范围,按顺序对频谱段进行变频和数字化。R
[测试测量]
基于RVM的层次化SoC芯片验证平台设计及应用
引言 随着SoC设计日趋复杂,验证成为soC设计过程中最关键的环节。本文介绍了Synopsys的RVM验证方法学,采用Vera硬件验证工具以及OpenVera验证语言建立目标模型环境,自动生成激励,完成自核对测试、覆盖率分析等工作。通过建立层次化的可重用性验证平台,大大提高了验证工程师的工作效率。文中以一个SIMC功能模块的验证为例,详细介绍了RVM验证方法学在SoC芯片验证中的应用。 功能验证 一个设计被综合前,首先要对RTL描述进行逻辑功能验证,以确保模块或芯片的功能正确性。通常,RTL级的功能验证主要采用自底向上的验证策略,可分为模块级验证和系统级验证两个阶段。 传统验证方法大多是在信号级的接口上直接与待验证设计
[应用]
R&S公司的 FSW 信号和频谱分析仪新增实时分析选件
2013年6月3日,慕尼黑 - 由于在灵敏度,动态范围以及相位噪声方面的出色性能,罗德与施瓦茨公司的R&S FSW高端信号与频谱分析仪成为了雷达和卫星通信系统、军用和民用无线通信系统的组件和系统的研发和生产验证阶段理想的测量仪表。通过添加最新的 R&S FSW-K160R 选件可以使R&S FSW 升级为实时频谱分析仪,从而使单台仪表不仅可以作为一台具备出色射频性能的传统频谱分析仪,同时可以无间隙的分析实时信号,在实时模式下的分析带宽高达160MHz。R&S FSW 可以轻易的检测到更短暂和更加偶发的事件而无需花费太多的时间。 罗德与施瓦茨公司的 FSW 高端信号与频谱分析仪的最新测量选件支持对频率高达50GHz 的实时信号进行
[测试测量]
ARM DDR SDRAM 初始化
目录: 1.DDR SDRAM 简介 2.DDR 控制器初始化以及DDR SDRAM初始化流程 3.ARM编程初始化DRAM Controller 和DDR SDRAM细节details 备注: 由于DDR SDRAM时序比较复杂,具体时序细节在未来的另一篇博文用FPGA来设计DDR SDRAM控制器中记录。 用FPGA来设计DDR SDRAM控制器相对于直接使用ARM片上的DRAM Controller 要复杂的多。 1.DDR SDRAM introduction DDR SDRAM本质上就是一个存储器件。它是易失性存储器件。掉电后数据就消失。 你可以把它想象成和简单的单端口RAM和双
[单片机]