CDMA2000射频测试简介（一）

    下面简单介绍一下Conducted spurious emissions when transmitting（处于发射状态的传导杂散）的测试。

    测试意图：在EUT工作的状态下，通过EUT上的天线连接器使用传导方式连接到测试系统上，检测EUT处于发射时的杂散信号。

    测试搭建简图：

测试方法：
1） 用射频线按上图进行功分器（POWER SPLITTER）的连接，并使用信号源和频谱仪（Spectrum Analyzer）测量5515C到EUT和EUT到频谱仪这两条路径的损耗，然后记录损耗值。
2） 测量完损耗后按照简图将EUT与E5515C、频谱仪连接到功分器，把功分器衰减较大的一端接到频谱仪上。
3） 在E5515C上调整信道号和路径损耗的补偿，然后按照下列表格中的参数设置E5515C。

4） EUT与E5515C之间建立呼叫连接，然后将E5515C参数调到all up bits的功率控制模式，使EUT以最大功率输出。
5） 在频谱仪上设置好路径损耗的补偿，然后按照以下表格根据频率分段测试传导杂散，所测得的每段频谱的峰值功率必须低于以下表格标准规定的限值，并记录测得的数据。

6） 然后按照以下表格重新设置E5515C的参数。

7） EUT与E5515C重新建立呼叫连接，把E5515C参数设置为0和1交替的功率控制模式。
8） 按照以下表格重新设置频谱仪，根据频率分段测试传导杂散，所测得的每段频谱的峰值功率必须低于以下表格标准规定的限值，并记录测得的数据。

    以上是对CDMA终端传导杂散测试的简单介绍, 此后我们将分批分期的对其它涉及CDMA部分的射频测试进行一一阐述, 敬请关注。