频谱测量中怎样识别内部失真成份?-电子工程世界

高电平输入信号有可能造成谱分析仪的内部失真，从而掩盖输入信号上的实际失真。使用双迹线和分析仪的 RF 衰减器，您就能确定分析仪内产生的失真是否对测量产生影响。

高电平输入信号有可能造成谱分析仪的内部失真，从而掩盖输入信号上的实际失真。使用双迹线和分析仪的RF衰减器，您就能确定分析仪内产生的失真是否对测量产生影响。首先设置输入衰减器，使输入信号电平减衰减量约等于 -30 dBm。为识别内部失真产物，调谐到输入信号的 2 次谐波，把输入衰减器设置 0 dB。然后保存迹线 B 的屏幕数据，把迹线 A 作为有效迹线，并激活标记Δ。频谱分析仪现在用迹线B 显示保存数据，用迹线 A 显测量数据，标记 Δ 示出两条迹线幅度和频率差。最后是把RF衰减增加 10 dB，比较迹线 A 与 B 的响应。

如果迹线 A 和迹线 B 的响应不同，如图 1 所示，那么分析仪的混频器就会因高电平的输入信号而产生内部失真。这种情况需要更大的衰减。

在图 2 中，由于信号电平没有任何变化，内部产生的失真对测量没有影响。所显示的是输入信号上存在的失真。

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