半导体特性分析仪_4200-SCS型半导体特性分析系统

发布者:创意旅程最新更新时间:2022-04-20 来源: eefocus关键字:半导体特性分析仪  4200-SCS型  分析系统 手机看文章 扫描二维码
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容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,Windows操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。其它一些特征使得应力测量功能能够满足各种可靠性测试的需求。


* 直观的、点击式Windows操作环境

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* 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至 0.1fA

* 用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能

* 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡

* 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储

* 独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能

* 内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规

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范的样品测试

* 支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备

* 硬件由 Keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充

* 包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台

* 支持的半导体模型参数提取,包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso


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