Multitest为新一代老化测试带来可靠创新

最新更新时间:2011-04-11来源: EEWORLD关键字:Multitest  老化测试  IDM 手机看文章 扫描二维码
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    2011年4月--Multitest公司近日宣布宣布其老化产品团队最近成功为一家跨国IDM提供支持,显著提高了其老化能力——达三分之一以上,同时大幅度降低了客户老化板检测所需的成本和工作。

    Multitest通过对相关应用及其对老化流程的影响进行深入评估后开始本项目。基于该分析,Multitest确定与老化板所需的老化插座密度增量相匹配的相应材料。此外,Multitest推出解决信号速度、电流消耗和分配的设计方法,以确保达到相关应用的实际老化标准。其他供应商之前提供的老化解决方案不能完全满足电压稳定性和信号完整性要求。

    作为最后一步,同时为了提供真正的“plug & yield” 解决方案,Multitest与客户合作研究了一项老化板质量控制策略。该新程序将帮助客户工厂节省数百个检测工时。

    该新一代老化应用案例表明,Multitest能够将技术专长和创新与“plug & yield”供应商独特服务水准完美结合。

关键字:Multitest  老化测试  IDM 编辑:赵思潇 引用地址:Multitest为新一代老化测试带来可靠创新

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